[發明專利]一種高準確度電流比較儀及自校驗方法有效
| 申請號: | 201310322420.7 | 申請日: | 2013-07-29 |
| 公開(公告)號: | CN103823100A | 公開(公告)日: | 2014-05-28 |
| 發明(設計)人: | 何小兵;王維;張欣;戴冬雪 | 申請(專利權)人: | 中國計量科學研究院 |
| 主分類號: | G01R19/10 | 分類號: | G01R19/10;G01R35/00 |
| 代理公司: | 北京思創畢升專利事務所 11218 | 代理人: | 郭韞 |
| 地址: | 100013 *** | 國省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 準確度 電流 比較儀 校驗 方法 | ||
1.一種高準確度電流比較儀,其特征在于:所述高準確度電流比較儀包括鐵心和繞制在該鐵心上的一次繞組W11、一次補償接地繞組W12、二次繞組W21、二次補償繞組W22和檢測繞組WD;
所述一次繞組有三組輸入端,分別為La1-Lb、La2-Lb、La3-Lb,這三組輸入端所連接的一次繞組的匝數以十倍遞增,即La1-Lb、La2-Lb、La3-Lb依次十倍遞增;
所述二次繞組分成M段子繞組,每一段子繞組設置有兩個抽頭,各段子繞組的匝數均與一次繞組La3-Lb的匝數相同;
所述二次繞組的各段子繞組通過抽頭串聯連接,相鄰兩段子繞組串接的兩個抽頭形成一個端,二次繞組的所有端從第一段開始順序編號,編號從0開始直到M;
通過波段開關來改變二次繞組輸入端內所連接的二次繞組的段數,二次繞組的各個子繞組與一次繞組分別進行組合使得所述高準確度電流比較儀形成不同的比率。
2.根據權利要求1所述的高準確度電流比較儀,其特征在于:所述二次繞組采用屏蔽定向引流結構;所述屏蔽定向引流結構如下:整個二次繞組使用同軸線纜繞制而成,同軸線纜的芯線作為二次繞組,其皮線作為屏蔽,皮線與芯線在二次繞組的極性端短接。
3.根據權利要求2所述的高準確度電流比較儀,其特征在于:所述M為10;所述二次繞組的各個子繞組與一次繞組分別進行組合使得所述高準確度電流比較儀形成1∶1~10∶1、10∶1~100∶1、100∶1~1000∶1比率。
4.根據權利要求3所述的高準確度電流比較儀,其特征在于:所述檢測繞組WD是直接繞在鐵心上,在鐵心及檢測繞組WD外包裹有坡莫合金材料,在檢測繞組WD外由內往外依次繞制有二次補償繞組、一次補償接地繞組、二次繞組和一次繞組W11。
5.根據權利要求4所述的高準確度電流比較儀,其特征在于:所述二次補償繞組使用漆包線繞制而成,匝數與二次繞組相同;
所述一次補償接地繞組與一次繞組的結構相同。
6.一種對權利要求5所述的高準確度電流比較儀進行自校驗的方法,其特征在于:所述方法使用一臺電流發生器和一臺輔助電流比較儀,利用1∶1電流比較儀自校準線路進行組合完成所述高準確度電流比較儀的自校驗。
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