[發明專利]匹配相關積分降采樣包絡檢波方法及系統

有效

• 申請號: 201310311520.X
• 申請日: 2013-07-23
• 公開（公告）號: CN104345298B
• 公開（公告）日: 2017-06-13
• 發明（設計）人: 許彥偉;侯朝煥;鄢社鋒
• 申請（專利權）人: 中國科學院聲學研究所
• 主分類號: G01S7/292
• 分類號: G01S7/292;G01S7/527;H04L27/06
• 代理公司: 北京法思騰知識產權代理有限公司11318
• 代理人: 楊小蓉,楊青

1.一種基于匹配相關積分降采樣的包絡檢波方法，所述方法包含：

構造與待檢波的載波信號頻率相同的樣本信號，并對構造的樣本信號移位獲得若干相位不同的移位樣本信號；

將一段待檢波的載波信號與構造的樣本信號和樣本移位信號進行點積，并將最大的點積值作為這段待檢波信號的包絡值，并依此獲得各段載波信號的包絡值；完成檢波；

其中，當一段待檢波的載波信號為模擬信號時，所述點積指檢波信號與樣本信號和樣本移位信號相乘后再積分；

當一段待檢波的載波信號為離散信號時，所述點積指將離散載波信號與樣本或樣本移位信號的離散信號相乘再求和。

2.根據權利要求1所述的基于匹配相關積分降采樣的包絡檢波方法，其特征在于，當對載波信號進行數字處理時，所述方法具體包含：

步驟101)基于奈奎斯特采樣定理，以采樣頻率f_s和采樣時間t_samp對中心頻率為f的載波信號進行采樣，得到N個離散數據；

步驟102)生成頻率為f的正弦信號，并依據所述采樣頻率f_s和積分時間t_i對生成的正弦或余弦信號進行采樣，得到N_samp個采樣的離散數據，這些采樣得到的離散數據組成正弦樣本集合；再將正弦樣本集合中的元素進行M次圓周移位，共得到M個移位樣本信號集合；

步驟103)從所述N個離散數據中選擇N_samp個連續的離散數據與正弦樣本集合和M個移位樣本信號集合分別進行點積，得到“M+1”個點積值，取這些點積值的最大值作為該N_samp個離散數據所對應的包絡值；

后移選定的N_samp個連續的離散數據，并對移位后的離散數據重復上述取最大點積值作為其包絡值的步驟，直至得到若干組N_samp個連續的離散數據的包絡值，完成檢波；

其中，N_samp為：N_samp＝f_s*t_i；所述采樣時間t_samp的值不小于積分時間t_i的值；上述的正弦信號也能夠由余弦信號代替。

3.根據權利要求2所述的基于匹配相關積分降采樣的包絡檢波方法，其特征在于，所述采樣頻率f_s滿足f_s≥2f。

4.根據權利要求2所述的基于匹配相關積分降采樣的包絡檢波方法，其特征在于，所述步驟102)進一步包含：

步驟102-1)根據載波頻率f產生正弦信號設定正弦信號的初始相位；

步驟102-2)以采樣頻率f_s和積分時間t_i對正弦信號進行采樣，得到N_samp個離散數值組成的正弦樣本集合，

其中，積分時間t_i≥1/f，即不小于載波信號周期；正弦信號的頻率為f，即與載波頻率相同；針對正弦信號的采樣頻率為f_s，即與所處理載波信號的采樣頻率相同；正弦信號的時長為積分時間t_i；正弦樣本集合包含的點數N_samp＝f_s*t_i；

步驟102-3)對產生的正弦樣本集合進行“N_samp-1”次圓周移位，得到“N_samp-1”個圓周移位后的樣本集合；

其中，圓周移位后的各樣本集合包含的數據點數與正弦樣本集合的點數相同，均為N_samp個；正弦樣本集合與圓周移位樣本集合的個數共有N_samp個，且“N_samp-1”個圓周移位樣本集合分別為正弦樣本集合圓周移1位,2位,...(N_smap-1)位得到的；圓周移位的定義為：一個有限長序列x(n)的圓周移位是指用它的點數N2為周期，將其延拓成周期序列將周期序列加以移位，然后取主值區間上的序列值，該主值區間為n＝0到n＝N2-1。