[發明專利]一種交會測量定向裝置、系統及方法無效
| 申請號: | 201310308980.7 | 申請日: | 2013-07-22 |
| 公開(公告)號: | CN103398694A | 公開(公告)日: | 2013-11-20 |
| 發明(設計)人: | 王苗;曹焱;郝偉;劉文 | 申請(專利權)人: | 中國科學院西安光學精密機械研究所 |
| 主分類號: | G01C1/02 | 分類號: | G01C1/02;G01C15/00 |
| 代理公司: | 西安智邦專利商標代理有限公司 61211 | 代理人: | 陳廣民 |
| 地址: | 710119 陜西省西*** | 國省代碼: | 陜西;61 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 交會 測量 定向 裝置 系統 方法 | ||
技術領域
本發明屬于測繪領域,涉及一種交會測量裝置,尤其涉及一種交會測量定向裝置、系統及方法。
背景技術
目前,在交會測量時的定向工作中,傳統的方法主要是采用兩側量站的經緯儀上的望遠鏡,互相照準對方望遠鏡分劃板的十字絲來實現定向和高差采集;但采用這樣的定向方法不僅對地形條件有嚴格的規定,也對測量人員和測量設備有著極嚴格的規定;以往的測量需要相互照準對方望遠鏡分劃板的十字絲來定位或定向,對測量人員測量造成很大的難度,也存在以下主要問題:
1】操作人員必須進行專業培訓,操作技術要求高,難度大;
2】兩臺儀器不能同時工作,需要分別進行,工作效率低;
3】高差采集需操作人員記錄,作業過程繁雜;
4】操作人員目視作業,主觀因素會影響定向精度;
5】作業受環境照度影響大,在光照較暗時無法工作。
因此,現在急需一種能夠解決傳統交會測量工作中使用望遠鏡互瞄定向對操作人員要求高、操作難度大、工作效率低、受環境光照影響等問題;具有操作簡單直觀、快速、精度高、適應性強、便于測量工作自動化的實現等優點的測量定向裝置。
發明內容
為了解決上述背景技術所存在的技術問題,本發明提供一種交會測量定向裝置。
本發明的技術解決方案是:
本發明提供一種交會測量定向裝置,包括經緯儀,所述經緯儀包括經緯儀機座和設置在經緯儀機座上的經緯儀望遠鏡組件;其特殊之處在于:還包括左右對稱設置在經緯儀望遠鏡組件上的激光發射器和PSD位置傳感器;
本發明提供一種交會測量定向系統,其特殊之處在于:包括兩個相對設置的交會測量定向裝置;所述交會測量定向裝置包括經緯儀、激光發射器和PSD位置傳感器;
所述經緯儀包括經緯儀機座和設置在經緯儀機座上的經緯儀望遠鏡組件;
所述激光發射器與PSD位置傳感器均設置在經緯儀望遠鏡組件上;兩個交會測量定向裝置的激光發射器與PSD位置傳感器相互對準;
本發明提供一種交會測量定向方法,其特殊之處在于:包括下述步驟:
1】架設裝置并確定兩臺裝置定向基線;
2】將安放在基線上的兩臺裝置整平;
3】開啟裝置,通過兩個經緯儀的粗瞄器進行相互粗瞄;
4】粗瞄后,將兩臺裝置的激光發射器與PSD位置傳感器相互對準精瞄,直至兩臺裝置的激光發射器的光斑均出現在相對裝置中的PSD位置傳感器中心;
5】記錄兩臺裝置之間的方位角、俯仰角或高差;
本發明提供另一種交會測量定向方法,其特殊之處在于:包括下述步驟:
1】架設裝置并確定兩臺裝置定向基線;
2】將安放在基線上的兩臺裝置整平;
3】開啟裝置,通過兩個經緯儀的粗瞄器進行相互粗瞄;
4】粗瞄后,將兩臺裝置的激光發射器與PSD位置傳感器相互對準精瞄,直至兩臺裝置的激光發射器的光斑均出現在相對裝置中的PSD位置傳感器中心;
5】設置兩臺裝置方位角角度為零,記錄兩臺裝置之間俯仰角或高差。
本發明的優點:
1、本發明裝置由激光發射器與位置傳感器(PSD)組成,并形成系統,由激光器發射經整形準直的激光束,位置傳感器(PSD)接收并可判讀激光光斑位置,進而可以實現交會測量工作中測量站點的定向及高差采集;
2、安裝方便;本發明的定向裝置可以安裝在交會測量的經緯儀上,可隨經緯儀的方位、俯仰而動;
3、操作簡單,提高效率;本發明采用了激光定位定向,使用難度大大降低,對操作人員要求和操作難度大大減小,從而提高了工作效率;
4、受環境影響小,精度高;本發明采用光學組件,對光照的影響大大減小并利用光學組件的精度從而提高了該裝置的測量精度。
附圖說明
圖1為本發明的整體結構示意圖;
圖2為本發明的激光發射器的結構示意圖;
圖3為本發明激光發射器光學原理示意圖;
圖4為本發明PSD接收器的結構示意圖;
圖5為本發明測量方法的基線確定原理示意圖;
圖6為本發明測量方法的交會測量原理示意圖;
圖7為本發明的測量方法的工作流程示意圖。
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