[發明專利]一種交會測量定向裝置、系統及方法無效
| 申請號： | 201310308980.7 | 申請日： | 2013-07-22 |
| 公開（公告）號： | CN103398694A | 公開（公告）日： | 2013-11-20 |
| 發明（設計）人： | 王苗;曹焱;郝偉;劉文 | 申請（專利權）人： | 中國科學院西安光學精密機械研究所 |
| 主分類號： | G01C1/02 | 分類號： | G01C1/02;G01C15/00 |
| 代理公司： | 西安智邦專利商標代理有限公司 61211 | 代理人： | 陳廣民 |
| 地址： | 710119 陜西省西*** | 國省代碼： | 陜西;61 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 一種 交會 測量 定向 裝置 系統 方法 | ||
1.一種交會測量定向裝置，包括經緯儀，所述經緯儀包括經緯儀機座和設置在經緯儀機座上的經緯儀望遠鏡組件；其特征在于：還包括左右對稱設置在經緯儀望遠鏡組件上的激光發射器和PSD位置傳感器。
2.一種交會測量定向系統，其特征在于：包括兩個相對設置的交會測量定向裝置；所述交會測量定向裝置包括經緯儀、激光發射器和PSD位置傳感器；
所述經緯儀包括經緯儀機座和設置在經緯儀機座上的經緯儀望遠鏡組件；
所述激光發射器與PSD位置傳感器均設置在經緯儀望遠鏡組件上；兩個交會測量定向裝置的激光發射器與PSD位置傳感器相互對準。
3.基于權利要求2所述交會測量定向系統的交會測量定向方法，其特征在于：包括下述步驟：
1】架設裝置并確定兩臺裝置定向基線；
2】將安放在基線上的兩臺裝置整平；
3】開啟裝置，通過兩個經緯儀的粗瞄器進行相互粗瞄；
4】粗瞄后，將兩臺裝置的激光發射器與PSD位置傳感器相互對準精瞄，直至兩臺裝置的激光發射器的光斑均出現在相對裝置中的PSD位置傳感器中心；
5】記錄兩臺裝置之間的方位角、俯仰角或高差。
4.基于權利要求2所述交會測量定向系統的交會測量定向方法，其特征在于：包括下述步驟：
1】架設裝置并確定兩臺裝置定向基線；
2】將安放在基線上的兩臺裝置整平；
3】開啟裝置，通過兩個經緯儀的粗瞄器進行相互粗瞄；
4】粗瞄后，將兩臺裝置的激光發射器與PSD位置傳感器相互對準精瞄，直至兩臺裝置的激光發射器的光斑均出現在相對裝置中的PSD位置傳感器中心；
5】設置兩臺裝置方位角角度為零，記錄兩臺裝置之間俯仰角或高差。
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