[發(fā)明專利]一種高深寬比TSV種子層制作方法無效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201310305866.9 | 申請(qǐng)日: | 2013-07-22 |
| 公開(公告)號(hào): | CN103346122A | 公開(公告)日: | 2013-10-09 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 薛愷;于大全 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 華進(jìn)半導(dǎo)體封裝先導(dǎo)技術(shù)研發(fā)中心有限公司 |
| 主分類號(hào): | H01L21/768 | 分類號(hào): | H01L21/768 |
| 代理公司: | 上海海頌知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 31258 | 代理人: | 任益 |
| 地址: | 214135 江蘇省無錫市菱*** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 高深 tsv 種子 制作方法 | ||
1.一種高深寬比TSV種子層制作方法,其特征在于包括以下步驟:?
在晶圓襯底上進(jìn)行TSV制作和絕緣層淀積;?
利用PVD工藝在襯底表面和TSV孔內(nèi)淀積銅種子層;
(3)回流過程,即在真空或低氣壓環(huán)境下加熱至200-800℃使銅種子層流動(dòng)性增加,晶圓正面朝上放置,使銅種子層由TSV口部向下流動(dòng),消除TSV底部的側(cè)壁處的銅種子層中斷,使得銅種子層沿TSV側(cè)壁和底部均勻分布。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的TSV種子層制作方法,其特征在于所述回流過程中輔以等離子體由上而下方向轟擊TSV孔。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的TSV種子層制作方法,其特征在于所述種子層的材料還可以是鎢、鋁等。
4.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的TSV種子層制作方法,其特征在于所述TSV的孔徑在5微米以上,深寬比不小于6的范圍。
5.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的TSV種子層制作方法,其特征在于所述低氣壓環(huán)境的氣壓值小于102Pa,回流溫度在200-800℃范圍。
6.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的TSV種子層制作方法,其特征在于在利用PVD工藝在襯底表面和TSV孔內(nèi)淀積銅種子層之前先淀積一層阻擋層。
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H01L21-02 .半導(dǎo)體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個(gè)器件所使用的除半導(dǎo)體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測(cè)試或測(cè)量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導(dǎo)體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導(dǎo)體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內(nèi)或其上形成的多個(gè)固態(tài)組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造
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