[發(fā)明專利]實(shí)現(xiàn)電容屏阻抗降低的方法及電容屏在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201310303002.3 | 申請(qǐng)日: | 2013-07-18 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN103412694A | 公開(kāi)(公告)日: | 2013-11-27 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 向火平 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 向火平 |
| 主分類號(hào): | G06F3/044 | 分類號(hào): | G06F3/044 |
| 代理公司: | 暫無(wú)信息 | 代理人: | 暫無(wú)信息 |
| 地址: | 523000 廣東省東*** | 國(guó)省代碼: | 廣東;44 |
| 權(quán)利要求書(shū): | 查看更多 | 說(shuō)明書(shū): | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 實(shí)現(xiàn) 電容 阻抗 降低 方法 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及電容屏設(shè)計(jì)技術(shù),尤其涉及一種實(shí)現(xiàn)電容屏阻抗降低的方法,更涉及一種滿足該方法的電容屏。
背景技術(shù)
電容式觸摸屏是在玻璃表面鍍上一層透明的特殊金屬導(dǎo)電物質(zhì)。當(dāng)手指觸摸在金屬層上時(shí),觸點(diǎn)的電容就會(huì)發(fā)生變化,使得與之相連的振蕩器頻率發(fā)生變化,通過(guò)測(cè)量頻率變化可以確定觸摸位置獲得信息。如果電容屏的通道阻值過(guò)大,將會(huì)影響IC的識(shí)別能力,常規(guī)方法就是降低材料的面阻值(如從80-100歐降低到30-60歐)。此種方法有兩種實(shí)現(xiàn)PATTERN方式,一是黃光工藝,將PATTERN間隙改為0.03以下后做曝光顯影蝕刻。此種方法因間隙做到0.03mm以下,可能更少這樣就有很多地方可能存在導(dǎo)通。而是將材料做消影處理,將材料做到30-60歐或者更低時(shí),消影效果不好,消影成本高。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的在于,針對(duì)現(xiàn)有技術(shù)的不足,提供一種實(shí)現(xiàn)電容屏阻抗降低的方法,通過(guò)圖案表面鍍金屬使電容屏的通道阻值降低,解決因通道過(guò)長(zhǎng)電阻超高造成的IC無(wú)法驅(qū)動(dòng)問(wèn)題;本發(fā)明還提供一種滿足該方法的電容屏。
為有效解決上述問(wèn)題,本發(fā)明采取的技術(shù)方案如下:
一種實(shí)現(xiàn)電容屏阻抗降低的方法,該方法包括以下步驟:
(1)由ITO玻璃/膜基板及邊緣導(dǎo)通電路組成電容屏,在所述ITO玻璃或膜基板上制作圖案;
(2)將制作完成的圖案表面進(jìn)行鍍金屬處理;
(3)將鍍金屬處理完成的ITO玻璃或膜基板進(jìn)行表面處理;
(4)烘烤成型,將鍍金屬完成的電容屏經(jīng)烘烤干燥后覆上保護(hù)膜,完成電鍍過(guò)程并封裝成型。
特別的,所述步驟(1)還包括以下步驟:
將需要制作圖案的的ITO玻璃或膜基板清洗干凈后,做保護(hù)處理并在制作的圖案之間留出不大于0.03mm的間隙。
特別的,所述步驟(2)還包括以下步驟:
在鍍金屬處理后,可根據(jù)電容屏的功能設(shè)定標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行活化、清洗、蝕刻及化學(xué)鍍金處理,將電容屏金屬區(qū)域的走線及局部控制電路走線實(shí)施完成。
特別的,所述步驟(3)還包括以下步驟:
所述表面處理過(guò)程通過(guò)水洗及無(wú)腐蝕性的化學(xué)制劑結(jié)合使用,去除所述ITO玻璃或膜基板上的金屬殘留物。
特別的,所述步驟(4)還包括以下步驟:
在圖案上鍍金屬完成后的ITO玻璃或膜基板經(jīng)貼合后組成電容屏樣板,并在該樣板上覆蓋保護(hù)玻璃或保護(hù)膜組成完成的電容屏。
一種滿足上述方法的電容屏,該電容屏由基板及設(shè)置在基板邊緣的布線區(qū)域組成,所述基板由由ITO玻璃/膜基板組成,所述ITO玻璃/膜基板表面包括規(guī)則的幾何圖案,該幾何圖案上包括鍍金層。
特別的,所述布線區(qū)域包括垂直交互的兩組電極及多組組合排布的導(dǎo)通電路,所述導(dǎo)通電路及與之相連的電極通過(guò)化學(xué)鍍金屬形成鍍金屬層實(shí)現(xiàn)走線分布。
本發(fā)明的有益效果:本發(fā)明提供的實(shí)現(xiàn)電容屏阻抗降低的方法,通過(guò)圖案表面鍍金屬使電容屏的通道阻值降低,解決因通道過(guò)長(zhǎng)電阻超高造成的IC無(wú)法驅(qū)動(dòng)問(wèn)題;本發(fā)明還提供一種滿足該方法的電容屏,不會(huì)因間隙做到0.03mm以下,造成很多地方可能存在導(dǎo)通的情況,亦不會(huì)影響到消影效果,有效控制產(chǎn)品成本。
下面結(jié)合附圖對(duì)本發(fā)明進(jìn)行詳細(xì)說(shuō)明。
附圖說(shuō)明
圖1是本發(fā)明公開(kāi)的實(shí)現(xiàn)電容屏阻抗降低的方法流程圖;
圖2是本發(fā)明公開(kāi)的電容屏組成結(jié)構(gòu)示意圖。
具體實(shí)施方式
實(shí)施例:
如圖1及圖2所示,本實(shí)施例中的實(shí)現(xiàn)電容屏阻抗降低的方法包括以下步驟:
一種實(shí)現(xiàn)電容屏阻抗降低的方法,該方法包括以下步驟:
(1)由ITO玻璃/膜基板及邊緣導(dǎo)通電路組成電容屏,在所述ITO玻璃或膜基板上制作圖案;將需要制作圖案的的ITO玻璃或膜基板清洗干凈后,做保護(hù)處理并在制作的圖案之間留出不大于0.03mm的間隙。
(2)將制作完成的圖案表面進(jìn)行鍍金屬處理;在鍍金屬處理后,可根據(jù)電容屏的功能設(shè)定標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行活化、清洗、蝕刻及化學(xué)鍍金處理,將電容屏金屬區(qū)域的走線及局部控制電路走線實(shí)施完成。
(3)將鍍金屬處理完成的IT0玻璃或膜基板進(jìn)行表面處理;所述表面處理過(guò)程通過(guò)水洗及無(wú)腐蝕性的化學(xué)制劑結(jié)合使用,去除所述ITO玻璃或膜基板上的金屬殘留物。
(4)烘烤成型,將鍍金屬完成的電容屏經(jīng)烘烤干燥后覆上保護(hù)膜,完成電鍍過(guò)程并封裝成型。在圖案上鍍金屬完成后的ITO玻璃或膜基板經(jīng)貼合后組成電容屏樣板,并在該樣板上覆蓋保護(hù)玻璃或保護(hù)膜組成完成的電容屏。
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