[發明專利]具有內建自我測試功能的驅動電路有效

申請號：	201310296827.7	申請日：	2013-07-16
公開（公告）號：	CN103943050A	公開（公告）日：	2014-07-23
發明（設計）人：	黃智全;左克揚	申請（專利權）人：	瑞鼎科技股份有限公司
主分類號：	G09G3/00	分類號：	G09G3/00;G09G3/36
代理公司：	中國商標專利事務所有限公司 11234	代理人：	宋義興;周偉明
地址：	中國臺灣新竹市***	國省代碼：	中國臺灣;71
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摘要：
搜索關鍵詞：	具有自我測試功能驅動電路
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【說明書】：

技術領域

本發明是關于一種具內建自我測試功能的驅動電路；具體而言，本發明是關于一種具有判斷機制并能夠提高驅動效率的源極驅動電路。

背景技術

一般而言，顯示模塊的源極驅動電路是使用額外的測試模塊測試輸出電壓的準確性。舉例而論，測試模塊包含許多測試接腳(test?pins)，且測試模塊具有高精確度的電壓數值以判斷驅動電路的輸出電壓合格(pass)或失效(fail)。

在實際情況中，為了求得精確的電壓值，驅動電路于每個畫素周期中需要足夠時間穩定(settle)，且穩定時間取決于電路輸出端的負載程度。此外，驅動電路執行完穩定作業后，測試模塊需要足夠時間執行運算(computing)。換句話說，驅動電路需要足夠的穩定時間(settling?time)及運算時間(computing?time)依序執行穩定與運算，但卻也因而降低了測試電路的測試效率。

需說明的是，測試模塊的測試端接腳數量高達(或至少為)1000個，且電壓的精確值需小于1mV。然而，接腳數量越多，驅動電路的材料成本就越高，且輸出電壓的高精確值取決于測試電路的效能，上述無形中增加測試電路的硬體成本及測試時間的負擔。

綜合上述諸多因素，如何設計能夠減少測試時間并且同時提升電壓準確度的顯示器驅動電路，為現今一大課題。

發明內容

有鑒于上述現有技術所遭遇到的問題，本發明提出一種具判斷機制并能夠提升測試效率的驅動電路。

于一方面，本發明提供一種能夠內建自我測試(Built-In-Self-Test,BIST)的驅動電路，以判斷電壓的準確度。

于另一方面，本發明提供一種具有數字判斷機制的驅動電路，以節省測試時間。

于另一方面，本發明提供一種使用磁滯比較器的驅動電路，其中磁滯比較器為可調整偏差電壓的磁滯比較器，以控制偏移電壓。

根據本發明的一具體實施例為一種驅動電路。于此實施例中，驅動電路連接于顯示模塊。驅動電路包含至少一參考電壓源、至少一偏移單元以及至少一緩沖模塊。至少一參考電壓源產生參考電壓，且至少一偏移單元產生偏移電壓，其中偏移電壓與參考電壓形成判斷電壓范圍。至少一緩沖模塊具有第一輸入端、第二輸入端及輸出端，其中第一輸入端接收模擬電壓，至少一參考電壓源連接第二輸入端，且至少一緩沖模塊根據模擬電壓是否落入判斷電壓范圍決定于輸出端輸出合格邏輯信號或失效邏輯信號。

需說明的是，緩沖模塊包含數字判斷單元，其中數字判斷單元接收模擬電壓及判斷電壓范圍并根據模擬電壓是否落入判斷電壓范圍選擇性輸出復數個數字信號，其中該等數字信號包含合格邏輯信號及失效邏輯信號。

相對于現有技術，根據本發明的驅動電路是使用緩沖模塊判斷模擬電壓的準確度，且根據模擬電壓是否落于判斷電壓范圍內以進行數字邏輯化測試。進一步而論，緩沖模塊為數字判斷緩沖模塊，其是通過數字邏輯機制判斷電壓的準確度，故能夠大幅減少測試時間。此外，本發明的驅動電路為一種內建自我測試的電路，能夠直接在原本的模塊中進行測試，不需使用額外的測試裝置，故可達到減少硬體成本的功效。

關于本發明的優點與精神可以通過以下的發明詳述及所附圖式得到進一步的了解。

附圖說明

圖1為本發明的驅動電路的實施例示意圖。

圖2為本發明的緩沖模塊的實施例示意圖。

圖3A為已知判斷機制的示意圖。

圖3B為本發明的數字判斷機制的實施例示意圖。

圖3C為本發明的數字判斷機制的另一實施例示意圖。

圖4為本發明的緩沖模塊的另一實施例示意圖。

圖5A為本發明的緩沖模塊的另一實施例示意圖。

圖5B為電壓對應電壓序碼的曲線圖。

圖6為本發明的驅動電路的另一實施例示意圖。

圖7A為本發明的驅動電路的另一實施例示意圖。