[發明專利]一種檢測在役支柱瓷絕緣子裂紋缺陷的方法有效
| 申請號： | 201310286537.4 | 申請日： | 2013-07-09 |
| 公開（公告）號： | CN103344694A | 公開（公告）日： | 2013-10-09 |
| 發明（設計）人： | 鄭重;馮偉;黃智偉;陳校蕓;劉建寅;于洪;余洋 | 申請（專利權）人： | 華北電力大學 |
| 主分類號： | G01N27/61 | 分類號： | G01N27/61 |
| 代理公司： | 北京眾合誠成知識產權代理有限公司 11246 | 代理人： | 薄觀玖 |
| 地址： | 102206 *** | 國省代碼： | 北京;11 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 一種 檢測 支柱 絕緣子 裂紋 缺陷 方法 | ||
【權利要求書】：
1.一種檢測在役支柱瓷絕緣子裂紋缺陷的方法，其特征在于，該方法在測量區域的一端貼近絕緣支柱表面固定一個均壓環，將環繞絕緣支柱的一個水平圓周等電位并作為參考電位，
該方法步驟為：
(1)根據被測元件尺寸，確定測量點數，選定測量裝置;
(2)針對支柱瓷絕緣子的斷裂高發部位，進行電位值測量；
(3)根據電位值，計算電場強度的軸向分量，并繪制出曲線組圖；
(4)根據電場曲線圖，對缺陷進行定位；分析劣化程度；得出結論。
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