[發明專利]一種實驗室排風處理方法無效
| 申請號: | 201310283664.9 | 申請日: | 2013-07-08 |
| 公開(公告)號: | CN103386410A | 公開(公告)日: | 2013-11-13 |
| 發明(設計)人: | 李欽才 | 申請(專利權)人: | 安徽東冠器械設備有限公司 |
| 主分類號: | B08B15/02 | 分類號: | B08B15/02 |
| 代理公司: | 合肥市長遠專利代理事務所(普通合伙) 34119 | 代理人: | 劉勇;楊靜 |
| 地址: | 239300 安徽*** | 國省代碼: | 安徽;34 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 實驗室 處理 方法 | ||
技術領域
本發明涉及實驗室排風技術領域,尤其涉及一種實驗室排風處理方法。
背景技術
實驗室內產生的廢氣、廢水、粉塵都有可能對環境造成較大破壞,現有技術中,實驗室廢氣、廢水、粉塵都是分開處理的,采用分開處理廢氣、廢水、粉塵的方式無疑會提高處理效率,在對廢氣進行處理的過程中,首先將實驗室廢氣通過排風系統吸入,然后,通過廢氣處理系統對由排風機抽出的廢氣進行凈化處理,使之廢氣變成達到排放標準的氣體,該種處理方式存在的一個問題是,由排風氣體抽入的廢氣中存在一定量的粉塵顆粒,這些粉塵顆粒在采用廢氣處理系統進行處理不一定能夠完全處理到達到排放標準,且處理效率較低,另外,這些粉塵顆粒達到一定濃度或者顆粒達到一定的粒徑后,會對廢氣處理系統中的相關裝置造成損壞,使得裝置使用壽命較低,亟待改進。
發明內容
針對現有技術存在的問題,本發明的目的在于提出一種實驗室排風處理方法,可以有效完成廢氣處理,且使廢氣中包含的固體顆粒不會對環境有害且不會對廢氣處理裝置造成損壞,從而延長設備的使用壽命。
一種實驗室排風處理方法,包括如下步驟:
采集實驗室廢氣;
測定所述實驗室廢氣中固體顆粒的即時含量;
如果所述固體顆粒的即時含量高于預設閥值,則減少所述實驗室廢氣中固體顆粒的即時含量,直至所述固體顆粒的即時含量低于預設閥值;
當所述固體顆粒的即時含量低于或等于所述預設閥值時,對所述實驗室廢氣進行實驗室廢氣處理。
所述采集實驗室廢氣具體為:通過設置集塵罩和排風扇采集實驗室廢氣。
所述測定所述實驗室廢氣中固體顆粒的即時含量具體為:通過粒子計數器測定所述實驗室廢氣中固體顆粒的即時含量。
所述減少所述實驗室廢氣中固體顆粒的即時含量,直至所述固體顆粒的即時含量低于預設閥值具體為:采用固體顆粒吸收裝置吸收所述實驗室廢氣中的固體顆粒,以減少所述實驗室廢氣中固體顆粒的即時含量,并測量所述固體顆粒在所述實驗室廢氣中的含量,直至所述固體顆粒的即時含量低于預設閥值。
所述對所述實驗室廢氣進行實驗室廢氣處理具體為:去除實驗室廢氣中對人體有害和/或對環境有害的第一氣體。
本發明中,首先對廢氣中包含的固體顆粒的含量進行檢測,如果固體顆粒含量達到一定閥值,可能對廢氣處理裝置造成損壞或其排放對環境有害時,則使廢氣首先經過粉塵處理裝置以去除其中的粉塵,再進行廢氣處理,以避免對廢氣處理裝置造成損壞,或對環境造成危害;如果廢氣中固體顆粒含量未達預設閥值,則直接進行廢氣處理。
附圖說明
圖1是本發明實施例中一種實驗室排風處理方法的流程示意圖。
具體實施方式
下面結合附圖并通過具體實施方式來進一步說明本發明的技術方案:
如圖1所述,圖1是本發明實施例中一種實驗室排風處理方法的流程示意圖。
參照圖1,本發明提出的一種實驗室排風處理方法,包括如下步驟:
S1、采集實驗室廢氣。
通過設置集塵罩和排風扇采集實驗室廢氣。
S2、測定所述實驗室廢氣中固體顆粒的即時含量。
通過粒子計數器測定所述實驗室廢氣中固體顆粒的即時含量。
S3、如果所述固體顆粒的即時含量高于預設閥值,則減少所述實驗室廢氣中固體顆粒的即時含量,直至所述固體顆粒的即時含量低于預設閥值。
如果所述固體顆粒的即時含量高于預設閥值,則采用固體顆粒吸收裝置吸收所述實驗室廢氣中的固體顆粒,以減少所述實驗室廢氣中固體顆粒的即時含量,并測量所述固體顆粒在所述實驗室廢氣中的含量,直至所述固體顆粒的即時含量低于預設閥值。
S4、當所述固體顆粒的即時含量低于或等于所述預設閥值時,對所述實驗室廢氣進行實驗室廢氣處理。
對所述實驗室廢氣進行實驗室廢氣處理具體為,去除實驗室廢氣中對人體有害和/或對環境有害的第一氣體。
本發明中,首先對廢氣中包含的固體顆粒的含量進行檢測,如果固體顆粒含量達到一定閥值,可能對廢氣處理裝置造成損壞或其排放對環境有害時,則使廢氣首先經過粉塵處理裝置以去除其中的粉塵,再進行廢氣處理,以避免對廢氣處理裝置造成損壞,或對環境造成危害;如果廢氣中固體顆粒含量未達預設閥值,則直接進行廢氣處理。
以上所述,僅為本發明較佳的具體實施方式,但本發明的保護范圍并不局限于此,任何熟悉本技術領域的技術人員在本發明揭露的技術范圍內,根據本發明的技術方案及其發明構思加以等同替換或改變,都應涵蓋在本發明的保護范圍之內。
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