[發明專利]觸控裝置及其感測電路

在審

• 申請號: 201310274952.8
• 申請日: 2013-07-02
• 公開（公告）號: CN104238841A
• 公開（公告）日: 2014-12-24
• 發明（設計）人: 雷家正
• 申請（專利權）人: 聯合聚晶股份有限公司
• 主分類號: G06F3/044
• 分類號: G06F3/044
• 代理公司: 北京康信知識產權代理有限責任公司 11240
• 代理人: 余剛;李靜

技術領域

本發明涉及一種觸控裝置，且特別是用于觸控面板的一種感測電路。

背景技術

觸控裝置是現今許多電子裝置的輸入界面，其可以讓使用者較為直接與方便地操作電子裝置。觸控面板有電容式與電阻式觸控面板，其中電容式觸控面板又可以分為互容式與自容式觸控面板。

請參照圖1A，圖1A是一種互容式觸控面板的平面圖。觸控面板1包括多個第一電極線G1～G4與多個第二電極線S1～S4。所述多個第一電極線G1～G4沿著垂直方向間隔設置，向水平方向延伸，且彼此平行。所述多個第二電極線S1～S4沿著水平方向間隔設置，向垂直方向延伸，且彼此平行。所述多個第一電極線G1～G4與所述多個第二電極線S1～S4彼此電性絕緣，且在平面上來看，所述多個第一電極線G1～G4與所述多個第二電極線S1～S4彼此交錯，以形成多個電容。

請參照圖1B，圖1B是互容式觸控面板的等效電路圖。圖1A的觸控面板1的所述多個第一電極線G1～G4與所述多個第二電極線S1～S4的多個交錯處會形成電容C₁₁～C₁₄、C₂₁～C₂₄、C₃₁～C₃₄與C₄₁～C₄₄。觸控面板1的檢測電路可以檢測所述電容C₁₁～C₁₄、C₂₁～C₂₄、C₃₁～C₃₄與C₄₁～C₄₄的變化量來進行觸控位置的定位。

另外，值得一提的是，任意兩條相鄰的第一電極線“G1、G2”、“G2、G3”與“G3、G4”可能也會形成非理想的電容C_G12、C_G23與C_G34，而影響檢測電路的定位判斷。同樣地，任意兩條相鄰的第二電極線“S1、S2”、“S2、S3”與“S3、S4”可能也會形成非理想的電容C_S12、C_S23與C_S34，而影響檢測電路的定位判斷。除此之外，多個第一電極線G1～G4、所述多個第二電極線S1～S4與電子裝置的顯示面板的共電極之間還具有多個非理想的電容C_G1D（如圖1D所示）、C_G2D、C_G3D、C_G4D、C_S1D（如圖1D所示）、C_S2D、C_S3D、C_S4D，而影響檢測電路對觸控位置的定位判斷。

請接著參照圖1C，圖1C是傳統觸控裝置的電路圖。傳統觸控裝置2具有觸控面板1與驅動電路。驅動電路包括掃描信號產生器（圖1C未繪示）與檢測電路。掃描信號產生器耦接所述多個第一電極線G1～G4。檢測電路包括多個檢測單元，多個檢測單元分別耦接所述多個第二電極線S1～S4。

掃描信號產生器且用以產生多個掃描信號V_sig1～V_sig4，且所述多個掃描信號V_sig1～V_sig4分時送至所述多個第一電極線G1～G4，其中所述多個掃描信號V_sig1～V_sig4均為脈沖信號，且所述多個檢測單元的檢測是由所述多個掃描信號V_sig1～V_sig4的上升邊緣所觸發。在第一時間，掃描信號V_sig1被送至第一電極線G1，而在第二時間，掃描信號V_sig2被送至第一電極線G2，其余掃描信號V_sig3與V_sig4的傳送則可以依此類推。多個檢測單元用以檢測其耦接的多個第二電極線S1～S4上的信號量。

通過上述將所述多個掃描信號V_sig1～V_sig4分時送至所述多個第一電極線G1～G4的做法，所述多個檢測單元在第一時間會分別檢測電容C11～C14是否有變化，而在第二時間會分別檢測電容C21～C24，其余電容C31～C34與C41～C44的檢測則可以依此類推。若觸控位置位于第一電極線G3與第二電極線S4的交錯處，則耦接在第二電極線S4的檢測單元會在第三時間檢測到互容C34的變化。