[發明專利]一種評價圖像中塊效應的方法及裝置有效
| 申請號: | 201310271856.8 | 申請日: | 2013-07-01 |
| 公開(公告)號: | CN103366369A | 公開(公告)日: | 2013-10-23 |
| 發明(設計)人: | 李雷達;祝漢城;錢建生 | 申請(專利權)人: | 中國礦業大學 |
| 主分類號: | G06T7/00 | 分類號: | G06T7/00 |
| 代理公司: | 北京修典盛世知識產權代理事務所(特殊普通合伙) 11424 | 代理人: | 楊方成;許向華 |
| 地址: | 221116 江蘇省徐*** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 評價 圖像 效應 方法 裝置 | ||
1.一種評價圖像中塊效應的方法,其特征在于,該方法包括:
將待評價灰度圖像進行第一次分塊處理,并以所述第一次分塊處理獲取的圖像塊邊緣為基準,分別按照水平方向、垂直方向進行第二次分塊處理;其中,所述第二次分塊處理得到的圖像塊與所述第一次分塊處理得到的圖像塊大小相同;
對所述第二次分塊處理獲取的圖像塊進行離散正交矩變換生成矩陣,并對矩陣里的每一個元素求絕對值得到矩陣T;
根據所述矩陣T獲取對應圖像塊的質量分數;
根據所述第二次分塊處理獲取的圖像塊的質量分數得到待評價灰度圖像的質量分數;
根據所述待評價灰度圖像的質量分數評價圖像的塊效應。
2.如權利要求1所述的方法,其特征在于,所述根據所述矩陣T獲取對應圖像塊的質量分數的步驟包括:
根據所述矩陣T獲取對應圖像塊的實際質量分數;
將所述實際質量分數與一閾值進行比較;當所述實際質量分數大于等于閾值,則對應圖像塊的質量分數大小等于閾值;當所述實際質量分數小于閾值,則對應圖像塊的質量分數大小等于所述實際質量分數。
3.如權利要求2所述的方法,其特征在于,所述圖像塊的實際質量分數為水平方向的一圖像塊的質量分數。
4.如權利要求3所述的方法,其特征在于,所述水平方向的圖像塊的質量分數根據所述矩陣T除第一列之外的其他列中的至少一列的元素之和、所述矩陣T中所有元素之和以及所述矩陣T中第一行第一列的元素獲取。
5.如權利要求2所述的方法,其特征在于,所述圖像塊的實際質量分數為垂直方向的一圖像塊的質量分數。
6.如權利要求5所述的方法,其特征在于,所述垂直方向的圖像塊的質量分數根據所述矩陣T除第一行之外的其他行中的至少一行的元素之和、所述矩陣T中所有元素之和以及所述矩陣T中第一行第一列的元素獲取。
7.如權利要求1所述的方法,其特征在于,所述根據所述第二次分塊處理獲取的圖像塊的質量分數得到待評價灰度圖像的質量分數的步驟包括:
對水平方向的圖像塊的質量分數求平均值,并對垂直方向的圖像塊的質量分數求平均值;
根據所述水平方向的圖像塊的質量分數的平均值和所述垂直方向的圖像塊的質量分數的平均值獲取待評價灰度圖像的質量分數。
8.如權利要求7所述的方法,其特征在于,所述根據所述第二次分塊處理獲取的圖像塊的質量分數得到待評價灰度圖像的質量分數的步驟還包括:
對獲取的待評價灰度圖像的質量分數進行歸一化處理。
9.一種評價圖像中塊效應的裝置,其特征在于,該裝置包括:
分塊處理單元,用于將待評價灰度圖像進行第一次分塊處理,并以所述第一次分塊處理獲取的圖像塊邊緣為基準,分別按照水平方向、垂直方向進行第二次分塊處理;其中,所述第二次分塊處理得到的圖像塊與所述第一次分塊處理得到的圖像塊大小相同;
離散正交矩變換單元,用于對第二次分塊處理獲取的圖像塊進行離散正交矩變換生成矩陣,并對矩陣里的每一個元素求絕對值得到矩陣T;
圖像塊質量分數單元,用于根據所述矩陣T獲取對應圖像塊的質量分數;
圖像質量分數單元,用于根據所述第二次分塊處理獲取的圖像塊的質量分數得到待評價灰度圖像的質量分數;
評價單元,用于根據所述待評價灰度圖像的質量分數評價圖像的塊效應。
10.如權利要求9所述的裝置,其特征在于,所述圖像塊質量分數單元包括:
圖像塊實際質量分數模塊,用于根據所述矩陣T獲取對應圖像塊的實際質量分數;
比較模塊,用于將所述實際質量分數與一閾值進行比較;當所述實際質量分數大于等于閾值,則對應圖像塊的質量分數大小等于閾值;當所述實際質量分數小于閾值,則對應圖像塊的質量分數大小等于所述實際質量分數。
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