[發明專利]一種布里淵譜自適應分析方法

有效

• 申請號: 201310264807.1
• 申請日: 2013-06-27
• 公開（公告）號: CN103344191A
• 公開（公告）日: 2013-10-09
• 發明（設計）人: 閆繼送;袁明;張志輝;孫強
• 申請（專利權）人: 中國電子科技集團公司第四十一研究所
• 主分類號: G01B11/16
• 分類號: G01B11/16;G01K11/32
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

技術領域

本發明屬于光纖傳感技術領域，尤其涉及的是一種布里淵譜自適應分析方法。

背景技術

光纖應變傳感器由于不受電磁輻射影響，能在惡劣環境下長期工作，安全、可靠、靈敏度高，在工程上的應用也越來越多，尤其是基于布里淵散射信號探測的光纖分布式傳感系統，是目前分布式光纖傳感的主要研究方向，由于布里淵散射譜的頻移與光纖的應變呈線性關系，通過檢測光纖沿線各點的布里淵頻移可得到光纖的應力分布信息。正因如此，在該傳感系統中，光纖應力分布測試儀是測試光纖應變分布的不可或缺的測試儀器，其對光纖沿線各點布里淵譜的分析結果也將直接影響到最終的分布式應變測試精度。

對于光纖應力分布測試儀，在進行布里淵譜分析過程中，現有的技術主要是采用基于洛倫茲曲線擬合方法，當探測光脈沖小于20ns時，由于布里淵探測光脈寬小于聲子壽命，采用洛倫茲曲線擬合方法擬合的布里淵譜譜寬和中心頻率誤差較大，最終導致較大的應變計算誤差。

因此，現有技術存在缺陷，需要改進。

發明內容

本發明所要解決的技術問題是針對現有技術的不足，提供一種布里淵譜自適應分析方法。

本發明的技術方案如下：

一種布里淵譜自適應分析方法，其中，包括以下步驟：

步驟101：判定測試數據是否超出光纖范圍，是則結束，否則執行下一步；

步驟102：快速計算所述測試數據的基礎布里淵譜特征值；

步驟103：選定最合適的擬合函數；

步驟104：根據特征值與所述擬合函數，選定最優擬合方法，對所述測試數據進行分析，如計算完成則輸出計算結果，分析過程結束；如計算未完成，則執行下一步

步驟105：選定所述擬合函數對應的次級數據庫中更換次級擬合方法，對所述測試數據進行分析，如計算完成則輸出計算結果，分析過程結束；如計算未完成，則執行下一步；

步驟106：選定所述擬合函數對應的最終數據庫中更換最終擬合方法，對所述測試數據進行分析，如計算完成則輸出計算結果，分析過程結束；如計算未完成，則分析過程結束。

進一步，步驟101中，所述測試數據是根據損耗閾值LT及布里淵譜測試數據進行判定。

進一步，所述損耗閾值LT根據布里淵譜測試數據的測試量程及脈沖寬度進行選擇。

進一步，步驟103中，所述最合適的擬合函數是在自適應數據庫中，根據測試參數選定；所述最合適的擬合函數為高斯擬合函數，或洛侖茲擬合函數；所述測試參數為對所述測試數據進行應變和/或溫度測試所得的參數。

進一步，步驟104中，所述最優擬合方法為在自適應數據庫中擬合函數對應的最佳數據庫中選定。

進一步，步驟104中所述的擬合方法為以計算速度及計算精度為約束選定具體的擬合方法。

進一步，步驟105或步驟106中，所述選定擬合函數都在自適應數據庫中進行選定。

進一步，步驟105中所述的擬合方法為以計算速度及適應性為約束選定具體的擬合方法。

進一步，步驟106中所述的擬合方法為對所述測試數據進行多點平滑處理后而進行的選定。

采用上述方案，可以實現計算速度快、效率高；對布里淵散射譜分析快速、準確，無漏點。

附圖說明

圖1為本發明的一種布里淵譜自適應分析方法流程圖。

具體實施方式

以下結合附圖和具體實施例，對本發明進行詳細說明。

實施例1

如圖1所示，本發明提供一種布里淵譜自適應分析方法，其中，包括以下步驟：

步驟101：判定測試數據是否超出光纖范圍，是則結束，否則執行下一步；其中測試數據為布里淵譜測試數據；并根據損耗閾值LT及布里淵譜測試數據來判定是否超出光纖范圍；

步驟102：快速計算所述測試數據的基礎布里淵譜特征值所述損耗閾值LT根據布里淵譜測試數據的測試量程及脈沖寬度進行選擇；

步驟103：選定最合適的擬合函數；所述最合適的擬合函數是在自適應數據庫中，根據測試參數選定；所述最合適的擬合函數為高斯擬合函數，或洛侖茲擬合函數；所述測試參數為對所述測試數據進行應變和/或溫度測試所得的參數；