[發(fā)明專利]一種布里淵譜自適應分析方法

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201310264807.1
• 申請日: 2013-06-27
• 公開（公告）號: CN103344191A
• 公開（公告）日: 2013-10-09
• 發(fā)明（設計）人: 閆繼送;袁明;張志輝;孫強
• 申請（專利權）人: 中國電子科技集團公司第四十一研究所
• 主分類號: G01B11/16
• 分類號: G01B11/16;G01K11/32
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

1.一種布里淵譜自適應分析方法，其特征在于，包括以下步驟：

步驟101：判定測試數據是否超出光纖范圍，是則結束，否則執(zhí)行下一步；

步驟102：快速計算所述測試數據的基礎布里淵譜特征值；

步驟103：選定最合適的擬合函數；

步驟104：根據特征值與所述擬合函數，選定最優(yōu)擬合方法，對所述測試數據進行分析，如計算完成則輸出計算結果，分析過程結束；如計算未完成，則執(zhí)行下一步；

步驟105：選定所述擬合函數對應的次級數據庫中更換次級擬合方法，對所述測試數據進行分析，如計算完成則輸出計算結果，分析過程結束；如計算未完成，則執(zhí)行下一步；

步驟106：選定所述擬合函數對應的最終數據庫中更換最終擬合方法，對所述測試數據進行分析，如計算完成則輸出計算結果，分析過程結束；如計算未完成，則分析過程結束。

2.如權利要求1所述的布里淵譜自適應分析方法，其特征在于，步驟101中，所述測試數據是根據損耗閾值LT及布里淵譜測試數據進行判定。

3.如權利要求2所述的布里淵譜自適應分析方法，其特征在于，所述損耗閾值LT根據布里淵譜測試數據的測試量程及脈沖寬度進行選擇。

4.如權利要求3所述的布里淵譜自適應分析方法，其特征在于，步驟103中，所述最合適的擬合函數是在自適應數據庫中，根據測試參數選定。

5.如權利要求4所述的布里淵譜自適應分析方法，其特征在于，所述最合適的擬合函數為高斯擬合函數，或洛侖茲擬合函數；所述測試參數為對所述測試數據進行應變和/或溫度測試所得的參數。

6.如權利要求5所述的布里淵譜自適應分析方法，其特征在于，步驟104中，所述最優(yōu)擬合方法為在自適應數據庫中擬合函數對應的最佳數據庫中選定。

7.如權利要求6所述的布里淵譜自適應分析方法，其特征在于，步驟104中所述的擬合方法為以計算速度及計算精度為約束選定具體的擬合方法。

8.如權利要求7所述的布里淵譜自適應分析方法，其特征在于，步驟105或步驟106中，所述選定擬合函數都在自適應數據庫中進行選定。

9.如權利要求8所述的布里淵譜自適應分析方法，其特征在于，步驟105中所述的擬合方法為以計算速度及適應性為約束選定具體的擬合方法。

10.如權利要求9所述的布里淵譜自適應分析方法，其特征在于，步驟106中所述的擬合方法為對所述測試數據進行多點平滑處理后而進行的選定。