[發(fā)明專利]一種GaN基LED外延片的制備方法在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 201310262473.4 | 申請日: | 2013-06-28 |
| 公開(公告)號: | CN104253179A | 公開(公告)日: | 2014-12-31 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 陳振 | 申請(專利權(quán))人: | 晶能光電(江西)有限公司 |
| 主分類號: | H01L33/00 | 分類號: | H01L33/00 |
| 代理公司: | 暫無信息 | 代理人: | 暫無信息 |
| 地址: | 330096 江西省*** | 國省代碼: | 江西;36 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 gan led 外延 制備 方法 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及半導(dǎo)體光電器件領(lǐng)域,具體涉及一種GaN基LED外延片的制備方法。?
背景技術(shù)
發(fā)光二極管(Light?Emitting?Diode,簡稱LED)是一種低壓直流驅(qū)動的電致發(fā)光固態(tài)光源,它具有色純度高,響應(yīng)速度快,體積小,可靠性好,環(huán)保等優(yōu)點。近幾年來,LED無疑成為最受重視的光源技術(shù)之一。?
目前,一般采用藍寶石襯底的外延片來制備高效率的GaN基LED。如何提高GaN基LED的發(fā)光效率是一直以來的研究重點。LED的發(fā)光效率主要有兩方面因素:內(nèi)量子效應(yīng)和外量子效應(yīng)。隨著外延生長技術(shù)和多量子阱結(jié)構(gòu)的發(fā)展,GaN基LED的內(nèi)量子效率已經(jīng)有了非常大的提高。因此,進一步大幅度提高內(nèi)量子效率的可能性不大。而相對于內(nèi)量子效率,普通GaN基LED的外量子效率較低,這是由于GaN與空氣的折射率相差很大,GaN與空氣界面的全反射臨界角較小,在有源區(qū)產(chǎn)生的光僅有一小部分可以射出到空氣中。通過透明接觸層、倒金字塔結(jié)構(gòu)、倒裝芯片、垂直結(jié)構(gòu)、表面粗化、布拉格反射層(DBR)結(jié)構(gòu)、光子晶體及藍寶石圖形化襯底(Patterned?Sapphire?Substrate,簡稱PSS)技術(shù)能夠有效的提高芯片的光提取效率。PSS技術(shù)和表面粗化技術(shù)是目前普遍被看好的技術(shù)。PSS技術(shù)具有能夠降低外延層應(yīng)力,改善晶體生長性能,增加GaN/藍寶石接觸面逸出角等優(yōu)勢,但是PSS對圖像的規(guī)則度要求很高,如果制作出的圖形高低有差異,反而會影響外延質(zhì)量,造成外延缺陷。并且因為藍寶石襯底比較堅硬,無論是干法刻蝕還是濕法刻蝕,整片圖形做好一致性、均勻性都有一定的難度,制作過程對設(shè)備和工藝要求很高,導(dǎo)致成本偏高。表面粗化分為濕法粗化和干法粗化兩種,干法粗化是通過掩膜掩蔽,采用ICP刻蝕GaN材料表面達到粗糙化的效果,但干法粗化存在無法準確控制掩膜尺寸和均勻性的缺點,導(dǎo)致表面粗化的效果不一致,光提取效率的提高不均勻。?
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明所要解決的技術(shù)問題是:提供一種氮化鎵基LED外延片的制備方法,該方法能提高光提取效率,并且降低生產(chǎn)成本。?
為了解決本發(fā)明的技術(shù)問題,本發(fā)明的一個實施例提供一種氮化鎵基LED外延片的制備方法,該方法包括在藍寶石平面襯底上生長一層u-GaN層材料,該方法還包括在所述u-GaN層材料上依次生長InGaAlN多層結(jié)構(gòu),其中所述InGaAlN多層結(jié)構(gòu)包括n型GaN層,p型GaN層以及位于n型層和p型層之間的多量子阱發(fā)光層,其中采用濕法粗化法對所述u-GaN層或n型GaN層進行粗化。?
優(yōu)選的,所述濕法粗化方法為化學(xué)腐蝕法?。?
優(yōu)選的,所述化學(xué)腐蝕法的腐蝕液為下列酸性溶液的至少一種:H2SO4、HF、HCL、H3PO4、HNO3、CH3COOH。?
優(yōu)選的,所述化學(xué)腐蝕法的腐蝕液為下列堿性溶液的至少一種:KOH、NaOH、NH4OH。?
本發(fā)明的另一個實施例中,所述濕法粗化法為光電化學(xué)氧化和蝕刻法。?
優(yōu)選的,所述光電化學(xué)氧化和蝕刻法為在具有水溶液系統(tǒng),照明系統(tǒng)以及電偏置系統(tǒng)中執(zhí)行,水溶液為氧化劑與酸溶液的組合,照明系統(tǒng)為紫外燈系統(tǒng)。?
優(yōu)選的,所述光電化學(xué)氧化和蝕刻法的氧化劑為下列溶液的至少一種:H2O2、K2S2O8。?
優(yōu)選的,所述光電化學(xué)氧化和蝕刻法的酸溶液為下列溶液的至少一種:H2SO4、HF、HCL、H3PO4、HNO3、CH3COOH。?
本發(fā)明還提供一種GaN基LED外延片,其結(jié)構(gòu)自下而上依次為藍寶石襯底、低溫GaN緩沖層、u-GaN層、n型氮化鎵層、多量子阱層、p型摻雜GaN層、p型氮化鎵層、高摻雜的p-型GaN電極接觸層,其特征在于所述u-GaN層或n型氮化鎵層經(jīng)過濕法粗化處理,粗化后表面形成一層多孔洞結(jié)構(gòu)。?
本發(fā)明的有益效果:?
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