[發(fā)明專利]汞離子的光電化學測定有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201310260726.4 | 申請日： | 2013-06-27 |
| 公開（公告）號： | CN103308577A | 公開（公告）日： | 2013-09-18 |
| 發(fā)明（設(shè)計）人： | 王光麗;劉康麗;徐秀芳;董玉明 | 申請（專利權(quán)）人： | 江南大學 |
| 主分類號： | G01N27/26 | 分類號： | G01N27/26 |
| 代理公司： | 暫無信息 | 代理人： | 暫無信息 |
| 地址： | 214122 江蘇省*** | 國省代碼： | 江蘇;32 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 離子 光電 化學 測定 | ||
1.汞離子的光電化學測定，其特征在于：
a、一定量的表面修飾劑與0.02mol/L的水溶性鋅鹽溶液混合后，用1mol/L的NaOH溶液調(diào)節(jié)溶液的pH為中性；然后通入高純氮氣30min后，加入0.1mol/L的Na2S(或者NaHSe)水溶液，繼續(xù)通N2攪拌，在一定溫度下加熱反應(yīng)一定時間，得水溶性ZnX(X代表硫、硒)納米材料；
b、將經(jīng)過預處理的ITO玻璃片浸在含有NaCl的2％PDDA聚合物的溶液中，幾分鐘后用去離子水沖洗電極表面；然后再浸入到水溶性ZnX(X代表硫、硒)納米材料中，幾分鐘后用去離子水清洗電極表面。以上步驟即完成對ITO電極的修飾。所制得的電極可儲存在室溫下；
c、由一定濃度的電子供體和一定pH的磷酸緩沖溶液組成電解質(zhì)溶液，以制得的ZnX(X代表硫、硒)修飾的電極作為工作電極，加入待測的Hg2+溶液后，一定電位下，在自制的光電化學儀器上進行光電流的測定。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的汞離子的光電化學測定，其特征在于所述的ZnX(X代表硫、硒)納米材料的表面修飾劑為巰基乙醇，巰基乙酸，巰基丙酸，半胱氨酸，檸檬酸三鈉，表面修飾劑的量為鋅離子的物質(zhì)的量的1-6倍。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的汞離子的光電化學測定，其特征在于合成ZnX(X代表硫、硒)納米材料時所選用的反應(yīng)溫度為室溫-100度，反應(yīng)時間為1-6小時。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的汞離子的光電化學測定，其特征在于光電流測定時所使用的電子供體為抗壞血酸，三乙醇胺，三乙基胺，Na2SO3，電子供體的濃度為0.05-0.5mol/L。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的汞離子的光電化學測定，其特征在于光電流測定時所使用的磷酸緩沖溶液的pH為3.0-10.0。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的汞離子的光電化學測定，其特征在于光電流測定時采用的電壓為-0.2-0.2V(相對于Ag/AgCl參比電極)。
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