[發(fā)明專利]一種測(cè)量閾值電壓和飽和漏電流退化電路有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201310253482.7 | 申請(qǐng)日: | 2013-06-24 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN103323763A | 公開(kāi)(公告)日: | 2013-09-25 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 何燕冬;艾雷;洪杰;張鋼剛;張興 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 北京大學(xué) |
| 主分類號(hào): | G01R31/26 | 分類號(hào): | G01R31/26 |
| 代理公司: | 北京路浩知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11002 | 代理人: | 王瑩 |
| 地址: | 100871*** | 國(guó)省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 測(cè)量 閾值 電壓 飽和 漏電 退化 電路 | ||
1.一種測(cè)量閾值電壓和飽和漏電流退化電路,其特征在于,包括:PMOS晶體管、NMOS晶體管、負(fù)載電容、電壓比較器、第一數(shù)級(jí)反相器鏈和第二數(shù)級(jí)反相器鏈,上述部件組成一個(gè)三角波產(chǎn)生電路。
2.如權(quán)利要求1所述的電路,其特征在于,所述
PMOS晶體管的源端和襯底接電源電壓VDD,柵極接輸入電平Vg,NMOS晶體管的源端和襯底接地,柵極接第一數(shù)級(jí)反相器鏈的輸出端,PMOS晶體管的漏端與NMOS晶體管的漏端相連后,連接電容、第二數(shù)級(jí)反相器鏈的輸入端和電壓比較器的同相輸入端;
所述電容的另一端接地,電壓比較器的反相輸入端接輸入?yún)⒖茧娖絍ref,其輸出端接第一數(shù)級(jí)反相器鏈的輸入端。
3.如權(quán)利要求1所述的電路,其特征在于,NMOS晶體管寬長(zhǎng)比大于PMOS晶體管的寬長(zhǎng)比,所述電路產(chǎn)生的三角波為鋸齒波。
4.如權(quán)利要求1所述的電路,其特征在于,所述PMOS晶體管始終對(duì)電容進(jìn)行充電,所述電壓比較器控制所述NMOS晶體管是否對(duì)電容進(jìn)行放電。
5.如權(quán)利要求1所述的電路,其特征在于,所述第二數(shù)級(jí)反相器鏈連接示波器,用來(lái)測(cè)試波形的周期。
6.如權(quán)利要求1所述的電路,其特征在于,包括:NMOS晶體管的源端和襯底接地,柵極接輸入電平Vg,PMOS晶體管的源端和襯底接電源電壓VDD,柵極接反相器鏈的輸出端,PMOS晶體管的漏端與NMOS晶體管的漏端相連后,連接電容、第二數(shù)級(jí)反相器鏈的輸入端和電壓比較器的同相輸入端;
電容的另一端接地,電壓比較器的反相輸入端接輸入?yún)⒖茧娖絍ref,輸出端接第一數(shù)級(jí)反相器鏈的輸入端。
7.如權(quán)利要求6所述的電路,其特征在于,PMOS晶體管的寬長(zhǎng)比大于MN的寬長(zhǎng)比,所述電路產(chǎn)生的三角波為鋸齒波。
8.如權(quán)利要求6所述的電路,其特征在于,所述NMOS晶體管始終對(duì)電容進(jìn)行放電,所述電壓比較器控制PMOS晶體管是否對(duì)電容進(jìn)行充電。
9.如權(quán)利要求6所述的電路,其特征在于,所述第二數(shù)級(jí)反相器鏈連接示波器,用來(lái)測(cè)試波形的周期。
10.如權(quán)利要求1或6所述的電路,其特征在于,所述第一數(shù)級(jí)反相器鏈和第二數(shù)級(jí)反相器鏈的尺寸逐級(jí)增大以用來(lái)驅(qū)動(dòng)大電容負(fù)載。
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G01R 測(cè)量電變量;測(cè)量磁變量
G01R31-00 電性能的測(cè)試裝置;電故障的探測(cè)裝置;以所進(jìn)行的測(cè)試在其他位置未提供為特征的電測(cè)試裝置
G01R31-01 .對(duì)相似的物品依次進(jìn)行測(cè)試,例如在成批生產(chǎn)中的“過(guò)端—不過(guò)端”測(cè)試;測(cè)試對(duì)象多點(diǎn)通過(guò)測(cè)試站
G01R31-02 .對(duì)電設(shè)備、線路或元件進(jìn)行短路、斷路、泄漏或不正確連接的測(cè)試
G01R31-08 .探測(cè)電纜、傳輸線或網(wǎng)絡(luò)中的故障
G01R31-12 .測(cè)試介電強(qiáng)度或擊穿電壓
G01R31-24 .放電管的測(cè)試
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