[發明專利]溫度檢測范圍確定裝置及方法有效
| 申請號: | 201310247416.9 | 申請日: | 2013-06-20 |
| 公開(公告)號: | CN103512662A | 公開(公告)日: | 2014-01-15 |
| 發明(設計)人: | 細居智樹;本田光弘 | 申請(專利權)人: | 阿自倍爾株式會社 |
| 主分類號: | G01J5/00 | 分類號: | G01J5/00 |
| 代理公司: | 上海市華誠律師事務所 31210 | 代理人: | 肖華 |
| 地址: | 日本東京都千代田*** | 國省代碼: | 日本;JP |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 溫度 檢測 范圍 確定 裝置 方法 | ||
1.一種溫度檢測范圍確定裝置,其特征在于,包括:
存儲部,其對于成為溫度分布的檢測對象的空間中所設置的多個熱電堆陣列傳感器的每一個,存儲該熱電堆陣列傳感器應檢測溫度的預定檢測范圍的位置坐標;
檢測溫度取得部,其從所述各熱電堆陣列傳感器取得檢測溫度;
溫度變化對照部,其對于所述各熱電堆陣列傳感器當中的、相互的預定檢測范圍部分重復的兩個熱電堆陣列傳感器,在從該重復區域內選擇的一方的熱電堆陣列傳感器側的每個檢查位置和從另一方的熱電堆陣列傳感器的預定檢測范圍內選擇的另一方的熱電堆陣列傳感器側的各對照位置之間,對在各個位置檢測到的所述檢測溫度的時間序列變化進行對照,來確定得到了最高的對照結果的最佳對照位置;
系數推算部,其對每個所述檢查位置生成表示有關該檢查位置的所述最佳對照位置和位置偏差系數的關系的方程式,所述位置偏差系數示出表示該檢查位置的位置坐標與表示該最佳對照位置的位置坐標之間的位置偏差,通過使這些方程式聯立用最小二乘法進行求解,來推算這些位置偏差系數;以及
檢測范圍確定部,其通過根據所述位置偏差系數對所述另一方的熱電堆陣列傳感器的所述預定檢測范圍的位置坐標進行校正,來對所述另一方的熱電堆陣列傳感器的實際檢測范圍進行確定。
2.根據權利要求1所述的溫度檢測范圍確定裝置,其特征在于,將所述檢查位置的位置坐標設為x,y;所述最佳對照位置的位置坐標設為x’,y’;所述位置偏差系數設為c0,c1,c2,c3,c4,c5時,所述方程式由下式表示
x’=c0x+c1y+c2
y’=c3x+c4y+c5。
3.一種溫度檢測范圍確定方法,其特征在于,包括如下步驟:
存儲步驟,存儲部對于設置在成為溫度分布的檢測對象的空間中的多個熱電堆陣列傳感器的每一個,存儲該熱電堆陣列傳感器應檢測溫度的預定檢測范圍的位置坐標;
檢測溫度取得步驟,檢測溫度取得部從所述各熱電堆陣列傳感器取得檢測溫度;
溫度變化對照步驟,溫度變化對照部對于所述各熱電堆陣列傳感器當中的、相互的預定檢測范圍部分重復的兩個熱電堆陣列傳感器,在從該重復區域內選擇的一方的熱電堆陣列傳感器側的每個檢查位置和從另一方的熱電堆陣列傳感器的預定檢測范圍內選擇的另一方的熱電堆陣列傳感器側的各對照位置之間,對在各個位置上檢測的所述檢測溫度的時間序列變化進行對照,來確定得到了最高的對照結果的最佳對照位置;
系數推算步驟,系數推算部對于每個所述檢查位置生成表示有關該檢查位置的所述最佳對照位置和位置偏差系數的關系的方程式,所述位置偏差系數示出表示該檢查位置的位置坐標與表示該最佳對照位置的位置坐標之間的位置偏差,通過使這些方程式聯立用最小二乘法進行求解,來推算這些位置偏差系數;以及
檢測范圍確定步驟,檢測范圍確定部通過根據所述位置偏差系數對所述另一方的熱電堆陣列傳感器的所述預定檢測范圍的位置坐標進行校正,來確定所述另一方的熱電堆陣列傳感器的實際檢測范圍。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于阿自倍爾株式會社,未經阿自倍爾株式會社許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201310247416.9/1.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。





