[發明專利]稱量器具有效
| 申請號: | 201310246686.8 | 申請日: | 2013-06-20 |
| 公開(公告)號: | CN103542922B | 公開(公告)日: | 2020-06-09 |
| 發明(設計)人: | S·埃爾巴;A·布克曼;M·邁耶 | 申請(專利權)人: | 梅特勒-托萊多有限公司 |
| 主分類號: | G01G21/22 | 分類號: | G01G21/22;G01F19/00 |
| 代理公司: | 永新專利商標代理有限公司 72002 | 代理人: | 劉佳斐;蔡勝利 |
| 地址: | 瑞士格*** | 國省代碼: | 暫無信息 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 稱量 器具 | ||
1.稱量器具(1),包括用于化學或者生物物質的容器(4)和設置在所述容器(4)上的頸部(5),其中在所述稱量器具(1)的裝填位置(2),可以將稱量樣品(6)裝入到所述容器(4)內,并且在所述稱量器具(1)的卸載位置(3),所述容器(4)內部的稱量樣品(6)可以通過所述頸部(5)流出,其中
-所述容器(4)具有容器外表面(7)及是所述外表面(7)的一部分的就座表面(9)和裝填口(13),當所述稱量器具(1)處于其裝填位置(2)時,通過所述裝填口(13),可以將稱量樣品(6)裝入到所述稱量器具(1)內,其中在所述裝填位置(2),所述稱量器具(1)擱靠在所述就座表面(9)上;
-在所述頸部(5)的第一端處,所述頸部(5)具有通道開口(15),當所述稱量器具(1)處于卸載位置(3)時,所述稱量樣品(6)可以通過該通道開口(15)流出所述容器(4),并且在第二端處所述頸部(5)具有當所述稱量器具(1)處于卸載位置(3)時用于從所述頸部(5)卸載所述稱量樣品(6)的卸載口(14),并且其中當所述稱量器具(1)的所述頸部(5)設置在具有標準的研磨玻璃口(22)的量瓶(21)中的卸載位置(3)時,所述頸部(5)與所述量瓶(21)的所述研磨玻璃口(22)處于形狀配合的接合并且所述卸載口(14)位于比所述研磨玻璃口(22)低的高度;
-所述頸部(5)和容器(4)被相互連接到一起,從而在所述裝填位置(2)和卸載位置(3)之間,所述稱量樣品(6)可以經由所述通道開口(15)從所述容器(4)流過所述頸部(5);
其特征在于,所述頸部(5)在與所述容器(4)的就座表面(9)相同的平面中具有至少一個支承接觸點(11),從而在所述稱量器具(1)的裝填位置(2),所述稱量器具(1)擱靠在所述就座表面(9)上并且擱靠在所述至少一個支承接觸點(11)上,所述頸部(5)包括位于與所述容器(4)的就座表面(9)相同平面中的支承接觸面(10),從而在所述稱量器具(1)的裝填位置(2),所述稱量器具(1)擱靠在所述就座表面(9)上并且擱靠在所述支承接觸面(10)上,所述頸部(5)的軸線(12)相對于所述就座表面(9)的平面成銳角α地傾斜。
2.根據權利要求1所述的稱量器具(1),其特征在于,所述稱量器具(1)的表面的所有點處的切平面相對于所述頸部(5)的軸線(12)以相同代數符號的角度或者以零度角度地傾斜。
3.根據權利要求1或2所述的稱量器具(1),其特征在于,所述容器(4)具有明顯大于所述頸部(5)的寬度的寬度。
4.根據權利要求1或2所述的稱量器具(1),其特征在于,所述裝填口(13)具有基本上等于所述容器(4)的寬度的寬度。
5.根據權利要求1或2所述的稱量器具(1),其特征在于,所述容器(4)具有內表面(8),該內表面(8)包括其中可以放置所述稱量樣品(6)的底部區域(16),所述底部區域(16)被外周表面部位(17)包圍,并且所述外周表面部位(17)相對于所述底部區域(16)成鈍角地傾斜。
6.根據權利要求5所述的稱量器具(1),其特征在于,所述容器(4)和所述通道開口(15)被配置成,所述通道開口(15)位于所述底部區域(16)的高度上方的高度A處,從而在所述裝填位置(2),所述稱量樣品(6)不會通過所述頸部(5)流出所述容器(4)。
7.根據權利要求5所述的稱量器具(1),其特征在于,所述裝填口(13)被設計成,其在所述就座表面(9)的平面上的豎直投影基本上重疊所述底部區域(16)。
8.根據權利要求1或2所述的稱量器具(1),其特征在于,所述頸部(5)具有以比率1∶10漸縮的圓錐形狀,從而在所述卸載位置(3),所述頸部(5)符合所述研磨玻璃口(22)。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于梅特勒-托萊多有限公司,未經梅特勒-托萊多有限公司許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201310246686.8/1.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。
- 上一篇:鋰離子電池納米導電漿料的雜質測試方法
- 下一篇:測量氣體折射率的方法和裝置





