[發明專利]一種依賴電沉積曲線評價沉積膜質量的方法無效
| 申請號: | 201310240566.7 | 申請日: | 2013-06-17 |
| 公開(公告)號: | CN103424461A | 公開(公告)日: | 2013-12-04 |
| 發明(設計)人: | 郝臣;白毅;張鵬飛;王曉紅;趙玉濤;周鵬;惲悅;周瑞 | 申請(專利權)人: | 江蘇大學 |
| 主分類號: | G01N27/42 | 分類號: | G01N27/42 |
| 代理公司: | 南京經緯專利商標代理有限公司 32200 | 代理人: | 樓高潮 |
| 地址: | 212013 江*** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 依賴 沉積 曲線 評價 質量 方法 | ||
1.一種依賴電沉積曲線評價沉積膜質量的方法,按照下述步驟進行:
(1)清洗基片:取準備好的導電玻璃,將每20片1cm×4cm×1.5mm的導電玻璃置于100ml蒸餾水和2g去污粉配備的洗滌液中,浸泡1h,然后依次用丙酮、無水乙醇、去離子水超聲清洗,晾干備用;
(2)配制濃度為0.01-0.1?mol·L-1電解液100mL,每片導電玻璃量取電解液5mL,采用三電極體系進行電化學沉積,以導電玻璃為工作電極,鉑電極為輔助電極,飽和甘汞電極為參比電極,在一定的電位(如0.6V~1.0V、-0.9V~-1.7V、-1.1V~-1.5V、-2.0V~-1.1V),室溫下沉積300-600s;
(3)沉積結束后得到沉積膜的i-t曲線,并根據電流變化情況進行分析。
2.根據權利1所述的依賴電沉積曲線評價沉積膜質量的方法,其特征在于所用的導電玻璃為ITO或TCO導電玻璃。
3.根據權利1所述的依賴電沉積曲線評價沉積膜質量的方法,其特征在于采用的電化學沉積方法為陰極恒電位法。
4.根據權利1所述的依賴電沉積曲線評價沉積膜質量的方法,其特征在于根據沉積曲線形狀、走勢判斷沉積膜的好壞。
5.根據權利1所述的依賴電沉積曲線評價沉積膜質量的方法,其特征在于所用的電解液為硝酸鋅溶液、苯胺溶液、吡咯溶液或硫酸氧鈦-苯胺復合溶液。
6.根據權利1所述的依賴電沉積曲線評價沉積膜質量的方法,其特征在于沉積電位為-1.1V、-1.2V、0.7V或-1.5V。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于江蘇大學,未經江蘇大學許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201310240566.7/1.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。





