[發(fā)明專利]一種用于實現(xiàn)動態(tài)磁場加工的研磨裝置及其研磨方法無效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201310239864.4 | 申請日: | 2013-06-18 |
| 公開(公告)號: | CN103331693A | 公開(公告)日: | 2013-10-02 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 李長坤;吳波;茍利軍;李士盈;鄭定洋;賈衍俊;李杰;何暢;胡世艷 | 申請(專利權(quán))人: | 武漢理工大學(xué)泰州高技術(shù)產(chǎn)業(yè)研究院 |
| 主分類號: | B24B37/00 | 分類號: | B24B37/00;B24B37/27;B24B37/11 |
| 代理公司: | 南京正聯(lián)知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 32243 | 代理人: | 顧伯興 |
| 地址: | 225321 *** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 用于 實現(xiàn) 動態(tài) 磁場 加工 研磨 裝置 及其 方法 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及到一種用于實現(xiàn)動態(tài)磁場加工的研磨裝置及其研磨方法。
背景技術(shù)
在目前的磁力研磨加工領(lǐng)域中,大多采用的是靜態(tài)磁場對工件表面進(jìn)行研磨加工,由一系列交替排列的永磁體提供加工區(qū)域的磁場,但永磁體相對于旋轉(zhuǎn)中心是不存在偏心距的,即加工過程中對于工件表面某處的磁場是不發(fā)生改變的。而若采用動態(tài)磁場研磨可以實現(xiàn)磁性粒子和磨粒在工件表面雜亂無章的運(yùn)動,進(jìn)而可以有效避免重復(fù)軌跡的出現(xiàn),提高研磨的加工效率和研磨效果的均勻性。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明要解決的技術(shù)問題是提供一種能夠?qū)崿F(xiàn)動態(tài)磁場加工的研磨裝置及其研磨方法。
為了解決上述技術(shù)問題,本發(fā)明提供了一種用于動態(tài)磁場加工的研磨裝置,包括工作臺和研磨頭,所述研磨頭由研磨夾具和夾板組成,所述夾板內(nèi)設(shè)有永磁體,所述研磨夾具設(shè)有滑槽,所述夾板設(shè)于滑槽內(nèi)并呈活動連接狀態(tài)。
基于上述研磨裝置的設(shè)計,采取相應(yīng)的研磨方法如下:
1)、研磨裝置的設(shè)計:研磨頭采用偏心式的設(shè)計,可以通過調(diào)整永磁體的偏心距實現(xiàn)磁場的動態(tài)變化,同時可以通過改變裝夾的永磁體的規(guī)格實現(xiàn)磁場強(qiáng)度的調(diào)整;
2)、研磨軌跡的設(shè)計:根據(jù)Peano曲線的思想,通過PLC控制實現(xiàn)工作臺的運(yùn)動軌跡的變化,以達(dá)到研磨效果的均勻性。
采用上述結(jié)構(gòu)和方法,其有益效果在于:利用研磨裝置的設(shè)計和研磨軌跡的控制共同實現(xiàn)動態(tài)磁場研磨,研磨夾具采用偏心式的設(shè)計,可以通過調(diào)整夾板的偏心距實現(xiàn)磁場的動態(tài)變化,同時可以通過改變裝夾的永磁體的規(guī)格實現(xiàn)磁場強(qiáng)度的調(diào)整,研磨軌跡的控制策略采用Peano曲線的思想,以達(dá)到研磨效果的均勻性,同時可以實現(xiàn)研磨加工過程中磁場的動態(tài)變化。
附圖說明
圖1為本發(fā)明研磨裝置結(jié)構(gòu)示意圖;
圖2為本發(fā)明研磨裝置的研磨頭的立體圖;
圖3為本發(fā)明研磨方法的研磨軌跡示意圖。
圖中:1-工作臺、2-研磨頭、3-研磨夾具、4-夾板、5-永磁體、6-滑槽。
具體實施方式
下面結(jié)合附圖對本發(fā)明做進(jìn)一步詳細(xì)的說明。
如圖1和2所示,一種用于動態(tài)磁場加工的研磨裝置,包括工作臺1和研磨頭2,所述研磨頭2由研磨夾具3和夾板4組成,所述夾板4內(nèi)設(shè)有永磁體5,所述研磨夾具3設(shè)有滑槽6,所述夾板4設(shè)于滑槽6內(nèi)并呈活動連接狀態(tài),該研磨裝置的研磨頭2采用偏心式的設(shè)計,可以通過調(diào)整永磁體5的偏心距實現(xiàn)磁場的動態(tài)變化,同時可以通過改變裝夾的永磁體5的規(guī)格實現(xiàn)磁場強(qiáng)度的調(diào)整;如圖3所示,研磨軌跡的控制策略采用Peano曲線的思想,以達(dá)到研磨效果的均勻性,同時可以實現(xiàn)研磨加工過程中磁場的動態(tài)變化。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于武漢理工大學(xué)泰州高技術(shù)產(chǎn)業(yè)研究院,未經(jīng)武漢理工大學(xué)泰州高技術(shù)產(chǎn)業(yè)研究院許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請聯(lián)系【客服】
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