[發(fā)明專利]半導(dǎo)體制程裝置在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 201310234165.0 | 申請日: | 2013-06-13 |
| 公開(公告)號: | CN104241163A | 公開(公告)日: | 2014-12-24 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 林武郎;鄭煌玉;郭明倫;劉又瑋;陳世敏;黃文泰 | 申請(專利權(quán))人: | 技鼎股份有限公司 |
| 主分類號: | H01L21/67 | 分類號: | H01L21/67 |
| 代理公司: | 上海波拓知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 31264 | 代理人: | 楊波 |
| 地址: | 中國臺灣新竹市*** | 國省代碼: | 中國臺灣;71 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 半導(dǎo)體 裝置 | ||
1.一種半導(dǎo)體制程裝置,適用于進行光電半導(dǎo)體的快速升降溫制程,其特征在于:所述半導(dǎo)體制程裝置包括制程腔體及至少一個加熱源,所述制程腔體包括散熱底板以及配置于所述散熱底板上且與所述散熱底板直接接觸的環(huán)狀金屬側(cè)壁,所述至少一個加熱源配置于所述制程腔體內(nèi)。
2.如權(quán)利要求1所述的半導(dǎo)體制程裝置,其特征在于:所述制程腔體還包括導(dǎo)流板,所述導(dǎo)流板具有多個導(dǎo)流孔,且所述導(dǎo)流板設(shè)置于所述至少一個加熱源上方。
3.如權(quán)利要求1所述的半導(dǎo)體制程裝置,其特征在于:所述半導(dǎo)體制程裝置還包括載盤,且所述環(huán)狀金屬側(cè)壁具有一抽取口,所述載盤適于經(jīng)由所述抽取口進出所述制程腔體。
4.如權(quán)利要求2所述的半導(dǎo)體制程裝置,其特征在于:所述導(dǎo)流板的材料為石英、金屬或陶瓷。
5.如權(quán)利要求1所述的半導(dǎo)體制程裝置,其特征在于:所述環(huán)狀金屬側(cè)壁包括多個板體,所述多個板體可拆卸地組合于彼此而成為所述環(huán)狀金屬側(cè)壁。
6.如權(quán)利要求1所述的半導(dǎo)體制程裝置,其特征在于:所述至少一個加熱源包括多個燈管,所述多個燈管具有不同的輸出功率。
7.如權(quán)利要求1所述的半導(dǎo)體制程裝置,其特征在于:所述散熱底板的材質(zhì)為金屬或陶瓷。
8.如權(quán)利要求1所述的半導(dǎo)體制程裝置,其特征在于:所述散熱底板包括板體和冷卻管路,所述板體具有位于相對兩側(cè)的第一表面及第二表面,所述環(huán)狀金屬側(cè)壁位于所述第一表面上;所述冷卻管路設(shè)置于所述板體的第二表面。
9.如權(quán)利要求1所述的半導(dǎo)體制程裝置,其特征在于:所述散熱底板具有多條冷卻通道。
10.如權(quán)利要求1所述的半導(dǎo)體制程裝置,其特征在于:所述散熱板具有第一表面、第二表面以及散熱孔,所述第一表面與所述第二表面位于相對兩側(cè),所述散熱孔連通所述第一表面與所述第二表面,所述環(huán)狀金屬側(cè)壁位于所述第一表面上。
11.如權(quán)利要求1所述的半導(dǎo)體制程裝置,其特征在于:所述半導(dǎo)體制程裝置還包括隔絕板,所述隔絕板設(shè)置于所述加熱源及所述環(huán)狀金屬側(cè)壁之間。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于技鼎股份有限公司,未經(jīng)技鼎股份有限公司許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201310234165.0/1.html,轉(zhuǎn)載請聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 上一篇:一種框架式超聲清洗設(shè)備
- 下一篇:溝槽型IGBT及制備方法
- 同類專利
- 專利分類
H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導(dǎo)體或固體器件或其部件的方法或設(shè)備
H01L21-02 .半導(dǎo)體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個器件所使用的除半導(dǎo)體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測試或測量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導(dǎo)體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導(dǎo)體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內(nèi)或其上形成的多個固態(tài)組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造





