[發(fā)明專(zhuān)利]一種提高GaN基LED抗靜電能力的外延結(jié)構(gòu)及其生長(zhǎng)方法無(wú)效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201310180371.8 | 申請(qǐng)日: | 2013-05-16 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN103258927A | 公開(kāi)(公告)日: | 2013-08-21 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 楊奎;吳禮清;郭麗彬;李剛;牛勇 | 申請(qǐng)(專(zhuān)利權(quán))人: | 合肥彩虹藍(lán)光科技有限公司 |
| 主分類(lèi)號(hào): | H01L33/04 | 分類(lèi)號(hào): | H01L33/04;H01L33/00 |
| 代理公司: | 暫無(wú)信息 | 代理人: | 暫無(wú)信息 |
| 地址: | 230011 *** | 國(guó)省代碼: | 安徽;34 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 提高 gan led 抗靜電 能力 外延 結(jié)構(gòu) 及其 生長(zhǎng) 方法 | ||
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技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明屬于Ⅲ-Ⅵ族氮化物材料制備技術(shù)領(lǐng)域,特別涉及一種能夠提高GaN基LED抗靜電能力的外延結(jié)構(gòu)及其生長(zhǎng)方法。
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背景技術(shù)
發(fā)光二極管(LED,Light?Emitting?Diode)是一種半導(dǎo)體固體發(fā)光器件,其利用半導(dǎo)體PN結(jié)作為發(fā)光材料,可以將電能直接轉(zhuǎn)換為光能。當(dāng)半導(dǎo)體PN結(jié)的兩端加上正向電壓后,注入PN結(jié)中的少數(shù)載流子和多數(shù)載流子發(fā)生復(fù)合,復(fù)合的能量以光的形式發(fā)射;并且隨著能量的高低,可以形成各種顏色的光。
以GaN為代表的Ⅲ-Ⅵ族材料屬于寬禁帶半導(dǎo)體材料,在20世紀(jì)90年代之后得到迅猛發(fā)展。優(yōu)異的耐腐蝕能力、高擊穿電場(chǎng)、高熱導(dǎo)率、高電子飽和速率、高抗輻射能力,使得以GaN為代表的Ⅲ-Ⅵ族材料成為新興半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)的基礎(chǔ)器件和核心材料,被譽(yù)為IT產(chǎn)業(yè)的發(fā)動(dòng)機(jī)。GaN基材料是現(xiàn)代發(fā)光二極管的基石,已經(jīng)實(shí)現(xiàn)工業(yè)化生產(chǎn)、在背光源、照明、景觀燈等方面都有應(yīng)用;,具有高效、環(huán)保、節(jié)能、壽命長(zhǎng)等顯著特點(diǎn),是一種新型固態(tài)冷光源。
目前在LED的外延制備過(guò)程中,工業(yè)生產(chǎn)均采用異質(zhì)外延的生長(zhǎng)方式。但異質(zhì)外延會(huì)對(duì)LED帶來(lái)不利影響,以藍(lán)寶石襯底為例:藍(lán)寶石和GaN材料之間存在很大的晶格失配和熱失配,給GaN外延層引入大量位錯(cuò)和缺陷,缺陷密度高達(dá)120-1020cm-2,造成載流子泄漏和非輻射復(fù)合中心的增多,對(duì)LED芯片的抗靜電能力極為不利。鑒于此,有必要提供一種新型的LED外延結(jié)構(gòu)以克服上述缺點(diǎn)。
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發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明針對(duì)現(xiàn)有技術(shù)中存在的問(wèn)題,提供一種提高GaN基LED抗靜電能力的外延結(jié)構(gòu),通過(guò)在N層插入ALxGa1-xN(0.05<x<0.25)層,限制外延層中位錯(cuò)和缺陷密度,改善載流子的分布,可以有效的提高LED芯片的抗靜電能力10%以上。
本發(fā)明還提供一種上述提高GaN基LED抗靜電能力的外延結(jié)構(gòu)的生長(zhǎng)方法。
為達(dá)到上述目的,本發(fā)明所采用的技術(shù)方案如下:
????一種提高GaN基LED抗靜電能力的外延結(jié)構(gòu),該外延結(jié)構(gòu)從下向上的順序依次為:襯底、低溫GaN緩沖層、GaN非摻雜層、第一個(gè)N型GaN層、多量子阱結(jié)構(gòu)MQW、多量子阱有源層、低溫P型GaN層、P型AlGaN層、高溫P型GaN層和P型接觸層,在所述第一個(gè)N型GaN層與多量子阱結(jié)構(gòu)MQW層之間依次插入生長(zhǎng)N型ALxGa1-xN層和第二個(gè)N型GaN層,其中0.05<x<0.25。
????一種提高GaN基LED抗靜電能力的外延結(jié)構(gòu)的生長(zhǎng)方法,在所述N型ALxGa1-xN層插入生長(zhǎng)后,在生長(zhǎng)第一個(gè)N型GaN層時(shí),該第一個(gè)N型GaN層流量相對(duì)不插入N型ALxGa1-xN層的情況減少10%~20%;在插入生長(zhǎng)所述N型ALxGa1-xN層后生長(zhǎng)第二個(gè)N型GaN層時(shí),該第二個(gè)N型GaN層流量與上述生長(zhǎng)第一個(gè)N型GaN層流量相同。
所述N型ALxGa1-xN插入層的生長(zhǎng)厚度保持在0-1μm之間。
本發(fā)明的優(yōu)點(diǎn)在于,通過(guò)插入具有N型ALxGa1-xN(0.05<x<0.25)層的新結(jié)構(gòu),一方面,可以降低N層的整體厚度,另一方面可以有效的限制外延層內(nèi)部,由于與襯底之間的晶格失配產(chǎn)生的位錯(cuò)和缺陷密度,改善載流子的分布;可以有效的降低GaN基LED在靜電發(fā)生時(shí)壞死的可能性、提高產(chǎn)品的品質(zhì),延長(zhǎng)器件壽命,有效的提高LED芯片的抗靜電能力10%以上。
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附圖說(shuō)明
圖1是本發(fā)明所提供的LED外延結(jié)構(gòu)示意圖。
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具體實(shí)施方式
下面對(duì)本發(fā)明的實(shí)施例作詳細(xì)說(shuō)明:本實(shí)施例在以本發(fā)明技術(shù)方案為前提下進(jìn)行實(shí)施,給出了詳細(xì)的實(shí)施方式和具體的操作過(guò)程,但本發(fā)明的保護(hù)范圍不限于下述的實(shí)施例。
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H01L 半導(dǎo)體器件;其他類(lèi)目中不包括的電固體器件
H01L33-00 至少有一個(gè)電位躍變勢(shì)壘或表面勢(shì)壘的專(zhuān)門(mén)適用于光發(fā)射的半導(dǎo)體器件;專(zhuān)門(mén)適用于制造或處理這些半導(dǎo)體器件或其部件的方法或設(shè)備;這些半導(dǎo)體器件的零部件
H01L33-02 .以半導(dǎo)體為特征的
H01L33-36 .以電極為特征的
H01L33-44 .以涂層為特征的,例如鈍化層或防反射涂層
H01L33-48 .以半導(dǎo)體封裝體為特征的
H01L33-50 ..波長(zhǎng)轉(zhuǎn)換元件





