[發明專利]使用具有不同頻率步階的發送信號的填充物位確定

在審

• 申請號: 201310176725.1
• 申請日: 2013-05-14
• 公開（公告）號: CN104034392A
• 公開（公告）日: 2014-09-10
• 發明（設計）人: 米卡埃爾·克列曼
• 申請（專利權）人: 羅斯蒙特儲罐雷達股份公司
• 主分類號: G01F23/284
• 分類號: G01F23/284
• 代理公司: 北京集佳知識產權代理有限公司 11227
• 代理人: 朱勝;陳煒

1.一種使用雷達物位計系統來確定罐體中的制品的填充物位的方法，包括以下步驟：

向所述制品的表面發送第一發送信號，所述第一發送信號包括限定所述第一發送信號的第一帶寬的、第一數量的離散且相互不同的頻率的時間序列，所述第一發送信號展現所述第一帶寬與所述第一數量之間的第一比率；

接收由所述第一發送信號在所述第一發送信號遇到的阻抗不連續處的反射產生的第一反射信號；

將所述第一發送信號和所述第一反射信號混合，以形成第一中頻信號；

基于所述第一中頻信號，確定表示表面回波候選的第一集合的第一數據集合；

向所述制品的表面發送第二發送信號，所述第二發送信號包括限定所述第二發送信號的第二帶寬的、第二數量的離散且相互不同的頻率的時間序列，所述第二發送信號展現所述第二帶寬與所述第二數量之間的第二比率，其中所述第二比率不同于所述第一比率；

接收由所述第二發送信號在所述第二發送信號遇到的阻抗不連續處的反射產生的第二反射信號；

將所述第二發送信號和所述第二反射信號混合，以形成第二中頻信號；

基于所述第二中頻信號，確定表示表面回波候選的第二集合的第二數據集合；

基于所述第一數據集合和所述第二數據集合之間的比較，從指示所述發送信號在所述罐體中相同物位的阻抗不連續處的反射的所述表面回波候選的第一集合和所述表面回波候選的第二集合識別表面回波候選的子集；以及

基于來自所述表面回波候選的第一集合和所述表面回波候選的第二集合的所述表面回波候選的子集，確定所述填充物位。

2.根據權利要求1所述的方法，其中，所述第二數量基本上小于所述第一數量。

3.根據權利要求2所述的方法，其中，所述第二數量小于所述第一數量的一半。

4.根據權利要求1或2所述的方法，還包括以下步驟：

將包括在所述表面回波候選的子集中的表面回波候選中的一個表面回波候選指定為表面回波，其中所述表面回波候選的子集來自所述表面回波候選的第一集合和所述表面回波候選的第二集合，

其中，基于所述表面回波來確定所述填充物位。

5.根據權利要求1或2所述的方法，其中：

所述第一數量的離散且相互不同的頻率中的相鄰頻率之間的頻差是所述第一帶寬與所述第一數量之間的所述第一比率的整數倍；并且

所述第二數量的離散且相互不同的頻率中的相鄰頻率之間的頻差是所述第二帶寬與所述第二數量之間的所述第二比率的整數倍。

6.根據權利要求5所述的方法，其中：

所述第一數量的離散且相互不同的頻率中的相鄰頻率之間的所述頻差等于所述第一帶寬與所述第一數量之間的所述第一比率；并且

所述第二數量的離散且相互不同的頻率中的相鄰頻率之間的所述頻差等于所述第二帶寬與所述第二數量之間的所述第二比率。

7.根據權利要求1或2所述的方法，其中：

所述第一發送信號中的每個離散且相互不同的頻率在第一持續時間期間被發送；并且

所述第二發送信號中的每個離散且相互不同的頻率在第二持續時間期間被發送。

8.根據權利要求7所述的方法，其中，所述第一持續時間等于所述第二持續時間。

9.根據權利要求1或2所述的方法，其中：

所述確定所述第一數據集合的步驟包括將所述第一中頻信號變換為第一頻譜的步驟；并且

所述確定所述第二數據集合的步驟包括將所述第二中頻信號變換為第二頻譜的步驟。

10.根據權利要求9所述的方法，其中：

所述確定所述第一數據集合的步驟還包括將所述第一頻譜變換為第一回波表示的步驟，其中所述第一回波表示指示距所述表面回波候選的第一集合中的每個所述表面回波候選的距離；并且

所述確定所述第二數據集合的步驟還包括將所述第二頻譜變換為第二回波表示的步驟，其中所述第二回波表示指示距所述表面回波候選的第二集合中的每個所述表面回波候選的距離。

11.根據權利要1或2所述的方法，其中，所述第一發送信號和所述第二發送信號是連續發送信號。