[發明專利]基于粗糙集理論和可靠性預計的星載電子系統FMECA方法

有效

• 申請號: 201310143886.0
• 申請日: 2013-04-23
• 公開（公告）號: CN103279640A
• 公開（公告）日: 2013-09-04
• 發明（設計）人: 尤明懿
• 申請（專利權）人: 中國電子科技集團公司第三十六研究所
• 主分類號: G06F19/00
• 分類號: G06F19/00
• 代理公司: 北京天達知識產權代理事務所(普通合伙) 11386
• 代理人: 胡時冶

1.一種基于粗糙集理論和可靠性預計的星載電子系統FMECA的方法，其特征在于，包括：

星載電子系統定性FMECA分析，確定星載電子系統的故障模式；

根據FMECA分析小組各專家分別對故障模式相關參數重要性的評分，基于粗糙集理論構建故障模式相關參數歸一化的權重粗糙集；

根據FMECA分析小組各專家分別對所有故障模式的故障模式相關參數進行評分，并基于粗糙集理論構建各故障模式的評分粗糙集；

基于所述權重粗糙集合以及所述評分粗糙集，構造各故障模式歸一化的加權評分粗糙集矩陣；

根據所述加權評分粗糙集矩陣的元素計算各故障模式的近似系數；

根據各故障模式的近似系數確定所有故障模式的優先級RPN。

2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述故障相關參數包括下述參數中的一個或多個：

參數S，表示故障模式的嚴酷度等級；

參數O，表示故障模式的發生概率等級；

參數D，表示故障模式發生的檢測難易程度。

3.根據權利要求2所述的方法，其特征在于，當所述故障模式相關參數為參數S、O、D三個時，構建權重粗糙集的過程具體包括：

假設專家k對參數j的重要性的評分為其中j＝S,O,D，則構建參數j的權重評分序列為：

Wj=[wj1,...,wjN]---(1)]]>

式（1）中，N為FMECA分析小組中的專家人數；

基于粗糙集理論，參數的權重粗糙集形式為：

RN(wjk)=[wjkL,wjkU]---(2)]]>

式（2）中，和分別為權重粗糙集的上下界，計算為：

wjkU=1NjkLΣwji,ifwji≤wjk]]>

wjkL=1NjkUΣwji,ifwji≤wjk---(3)]]>

式（3）中，為W_j中不大于的評分的個數，為W_j中不小于的評分的個數，據此得到參數j的權重粗糙集序列：

{[wj1L,wj1U],...,[wjNL,wjNU]}---(4)]]>

根據式（4）確定參數j的權重粗糙集序列，參數j的權重粗糙集表示為：

RN(wj)=[wjL,wjU]=[1NΣk=1NwjkL,1NΣk=1NwjkU]---(5)]]>

根據式（5），參數j的權重的歸一化的權重粗糙集可表示為：

RNn(wj)=[wjL′,wjU′]=[1NΣk=1NwjkL,1NΣk=1NwjkU]/maxj=S,O,D(1NΣk=1NwjkU)---(6).]]>