[發明專利]光源照射方向的校準方法有效
| 申請號： | 201310137027.0 | 申請日： | 2013-04-18 |
| 公開（公告）號： | CN103197275A | 公開（公告）日： | 2013-07-10 |
| 發明（設計）人： | 孫永亮 | 申請（專利權）人： | 海南英利新能源有限公司 |
| 主分類號： | G01R35/02 | 分類號： | G01R35/02 |
| 代理公司： | 北京康信知識產權代理有限責任公司 11240 | 代理人： | 吳貴明;張永明 |
| 地址： | 海南省海口市國家高新技術*** | 國省代碼： | 海南;66 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 光源 照射 方向 校準 方法 | ||
1.一種光源照射方向的校準方法，其特征在于，包括：
步驟S1：將目標照射區域分為至少兩個待測試區域；
步驟S2：打開光源并測量每個所述待測試區域的光照強度值；
步驟S3：根據所述光照強度值，確定所述光源的調節角度；
步驟S4：根據所述調節角度對所述光源的照射方向進行調節。
2.根據權利要求1所述的校準方法，其特征在于，所述步驟S2中測量所述光照強度值的方法采用：
A：使用輻照計測量每個所述待測試區域的所述光照強度值；或
B：將一個太陽能電池片依次放置在每個所述待測試區域，以通過測量所述太陽能電池片在每個所述待測試區域的電性能參數，計算得出每個所述待測試區域的光照強度值。
3.根據權利要求2所述的校準方法，其特征在于，所述電性能參數是短路電流值，并根據下述公式（1）計算所述光照強度值：
C=I×K公式（1）
其中，C是所述光照強度值；I是所述短路電流值；K是比例系數。
4.根據權利要求1所述的校準方法，其特征在于，所述步驟S3還包括：
步驟S31：根據至少兩個所述光照強度值計算得出所述目標照射區域的輻照不均勻度；
步驟S32：僅當所述輻照不均勻度超出偏差允許范圍時，執行所述步驟S4。
5.根據權利要求4所述的校準方法，其特征在于，根據下述公式（2）計算所述輻照不均勻度：
其中，δ是所述輻照不均勻度；A是至少兩個所述光照強度值中的最大值；B是至少兩個所述光照強度值中的最小值。
6.根據權利要求4所述的校準方法，其特征在于，所述校準方法還包括在所述步驟S4之后的步驟S5：
重復所述步驟S2至步驟S4，直至所述輻照不均勻度滿足所述偏差允許范圍為止。
7.根據權利要求6所述的校準方法，其特征在于，所述調節角度為1度的整數倍。
8.根據權利要求6所述的校準方法，其特征在于，在所述步驟S4中，通過轉動所述光源對所述光源的照射方向進行調節，所述光源的轉動方向按下述方法確定：所述光源沿由所述待測試區域中所述光照強度值小的區域到所述待測試區域中所述光照強度值大的區域的方向轉動。
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