[發(fā)明專利]背側(cè)金屬-氧化物-金屬/金屬-絕緣體-金屬器件有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201310096995.1 | 申請日: | 2013-03-25 |
| 公開(公告)號: | CN103367244A | 公開(公告)日: | 2013-10-23 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | J·B·譚;Y·K·林;S·N·袁;S·Y·西婭 | 申請(專利權(quán))人: | 新加坡商格羅方德半導(dǎo)體私人有限公司 |
| 主分類號: | H01L21/768 | 分類號: | H01L21/768;H01L23/522 |
| 代理公司: | 北京戈程知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11314 | 代理人: | 程偉;王錦陽 |
| 地址: | 新加坡*** | 國省代碼: | 新加坡;SG |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 金屬 氧化物 絕緣體 器件 | ||
1.一種方法,其包括:
形成襯底,其具有前側(cè)與相對該前側(cè)的背側(cè),該襯底在該襯底的前側(cè)上包含電路系統(tǒng);以及
于該襯底的背側(cè)上形成金屬-氧化物-金屬M(fèi)OM電容器、金屬-絕緣體-金屬M(fèi)IM電容器、或其結(jié)合。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,包括于該襯底中形成硅通孔TSV,其將該MOM電容器、該MIM電容器、或其結(jié)合連接至該襯底的前側(cè)上的電路系統(tǒng)。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,其中,該襯底的前側(cè)上的電路系統(tǒng)包含前側(cè)MOM電容器、前側(cè)MIM電容器、或其結(jié)合。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,包括通過形成多個(gè)平行觸指來形成該MOM電容器。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的方法,包括通過形成多個(gè)超厚金屬UTM觸指來形成該平行觸指。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,包括通過下列步驟來形成該MOM電容器:
于該襯底的背側(cè)上形成第一層,其包含第一組平行觸指;以及
于該襯底的背側(cè)上的該第一層下方形成一個(gè)或多個(gè)其它層,其包含一個(gè)或多個(gè)其它組平行觸指。
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,包括通過形成包含第一組互連觸指及與該第一組互連觸指交錯(cuò)的第二組互連觸指的層來形成該MOM電容器。
8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,包括通過形成第一板、第二板、及在該第一板與該第二板間的介電層來形成該MIM電容器。
9.一種器件,其包括:
襯底,其具有前側(cè)與相對該前側(cè)的背側(cè);
電路系統(tǒng),其位于該襯底的前側(cè)上;以及
金屬-氧化物-金屬M(fèi)OM電容器、金屬-絕緣體-金屬M(fèi)IM電容器、或其結(jié)合,其位于該襯底的背側(cè)上。
10.根據(jù)權(quán)利要求9所述的器件,包括位于該襯底中的硅通孔TSV,其將該MOM電容器、該MIM電容器、或其結(jié)合連接至該襯底的前側(cè)上的電路系統(tǒng)。
11.根據(jù)權(quán)利要求9所述的器件,其中,該襯底的前側(cè)上的電路系統(tǒng)包含前側(cè)MOM電容器、前側(cè)MIM電容器、或其結(jié)合。
12.根據(jù)權(quán)利要求9所述的器件,其中,該MOM電容器包含多個(gè)平行觸指。
13.根據(jù)權(quán)利要求12所述的器件,其中,該平行觸指包含多個(gè)超厚金屬UTM觸指。
14.根據(jù)權(quán)利要求9所述的器件,其中,該MOM電容器包括:
第一層,其位于該襯底的背側(cè)上,且包含第一組平行觸指;以及
一個(gè)或多個(gè)其它層,其位于該襯底的背側(cè)上的該第一層下方,且包含一個(gè)或多個(gè)其它組平行觸指。
15.根據(jù)權(quán)利要求9所述的器件,其中,該MOM電容器包括包含第一組互連觸指及與該第一組互連觸指交錯(cuò)的第二組互連觸指的層。
16.根據(jù)權(quán)利要求9所述的器件,其中,該MIM電容器包含第一板、第二板、及在該第一板與該第二板間的介電層。
17.一種方法,其包括:
形成襯底,其具有前側(cè)與相對該前側(cè)的背側(cè);
于該襯底的前側(cè)上形成電路系統(tǒng);
于該襯底中形成硅通孔TSV,其電性連接至該襯底的前側(cè)上的電路系統(tǒng);以及
于該襯底的背側(cè)上形成金屬-氧化物-金屬M(fèi)OM電容器、金屬-絕緣體-金屬M(fèi)IM電容器、或其結(jié)合,其電性連接至該TSV。
18.根據(jù)權(quán)利要求17所述的方法,其中,該襯底的前側(cè)上的電路系統(tǒng)包含前側(cè)MOM電容器、前側(cè)MIM電容器、或其結(jié)合,該方法包括:
通過于該襯底的背側(cè)上形成至少一層來形成該MOM電容器,各層包含多個(gè)平行觸指。
19.根據(jù)權(quán)利要求17所述的方法,其中,該襯底的前側(cè)上的電路系統(tǒng)包含前側(cè)MOM電容器、前側(cè)MIM電容器、或其結(jié)合,該方法包括:
通過形成第一板、第二板、及在該第一板與該第二板間的介電層來形成該MIM電容器。
20.根據(jù)權(quán)利要求17所述的方法,包括使用標(biāo)準(zhǔn)芯片堆棧/封裝技術(shù)將該MOM電容器、該MIM電容器、或其結(jié)合及其它電路系統(tǒng)、器件、或其結(jié)合封裝。
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H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導(dǎo)體或固體器件或其部件的方法或設(shè)備
H01L21-02 .半導(dǎo)體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個(gè)器件所使用的除半導(dǎo)體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測試或測量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導(dǎo)體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導(dǎo)體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內(nèi)或其上形成的多個(gè)固態(tài)組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造





