[發明專利]基于全橋電測法的微型電阻式位移計

無效

• 申請號: 201310088221.4
• 申請日: 2013-03-19
• 公開（公告）號: CN103175465A
• 公開（公告）日: 2013-06-26
• 發明（設計）人: 劉耀儒;楊強;程立;楊若瓊
• 申請（專利權）人: 清華大學
• 主分類號: G01B7/02
• 分類號: G01B7/02
• 代理公司: 北京清亦華知識產權代理事務所(普通合伙) 11201
• 代理人: 廖元秋

1.一種基于全橋電測法的微型電阻式位移計，其特征在于，用于地質力學模型試驗中的位移測量，該位移計主要包括薄銅片，測試螺栓，保護殼，4個應變片及其導線,帶孔底座；其中，測試螺栓固定在薄銅片的上端，薄銅片的中部和下端置于保護殼中，薄銅片的中部兩側表面的相對位置粘接四個應變片，薄銅片的下部與底座固定；4個應變片分別與導線相連接組成全橋電路。?

2.如權利要求1所述位移計，其特征在于，該底座為塑料底座，由底板和豎板組成，底板一端為一圓孔，用于與地質力學模型固定，底座另一端也有一小圓孔，用于穿插4根導線；豎板結合在底板一端上開有兩個孔，用于將底座與薄銅片下部通過固定螺栓固定。?

3.如權利要求1所述位移計，其特征在于，該薄銅片為0.5mm厚的薄銅片，高度3.6cm，上窄下寬，上部最窄處0.9cm，下部最寬出1.5cm，薄銅片下部固定在塑料底座上；4個箔式電阻應變片置于銅片兩側表面中部，其中，第一應變片和第四應變片，第二應變片和第三應變片分別處于銅片兩側相同位置。?

4.如權利要求1所述位移計，其特征在于，該每個應變片表面均涂有石蠟加凡士林密封，用于防潮和隔溫，以提高穩定性。?

5.如權利要求1所述位移計，其特征在于，該位移計的總體大小為1cm*2cm*3.5cm。?