[發明專利]相位復原測試過程中消除系統誤差的絕對標定方法有效
| 申請號： | 201310086106.3 | 申請日： | 2013-03-18 |
| 公開（公告）號： | CN103207023A | 公開（公告）日： | 2013-07-17 |
| 發明（設計）人： | 馬冬梅;邵晶 | 申請（專利權）人： | 中國科學院長春光學精密機械與物理研究所 |
| 主分類號： | G01J9/00 | 分類號： | G01J9/00 |
| 代理公司： | 長春菁華專利商標代理事務所 22210 | 代理人： | 張偉 |
| 地址： | 130033 吉*** | 國省代碼： | 吉林;22 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 相位 復原 測試 過程 消除 系統誤差 絕對 標定 方法 | ||
【權利要求書】：
1.相位復原測試過程中消除系統誤差的絕對標定方法，其特征在于，該方法包括如下步驟：
步驟一：將光學放大系統和傳感器放置在精密調整機構上，調整精密調整機構，測量波前信息，并將此位置設定為初始位置；
步驟二：再次調整精密調整機構至以初始位置星點圖像的焦面為中心做X方向偏移△x、以初始位置星點圖像的焦面為中心做Y方向偏移△y和以初始位置波前光軸為軸旋轉Δθ，三個不同的位置并進行測量；
步驟三：將不同位置的測量結果使用澤尼克多項式擬合，考慮系統誤差的影響，所有波前相位的測量結果由系統誤差和真實波前組成；
步驟四：將不同位置的三次波前相位測量結果分別減去初始位置的波前相位測量結果，建立方程，利用剪切波前求解方法，求解澤尼克系數，獲得真實的被測波前信息。
2.如權利要求1所述的相位復原測試過程中消除系統誤差的絕對標定方法，其特征在于，所述步驟二中偏移和旋轉量在10%-20%之間。
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