[發(fā)明專(zhuān)利]一種測(cè)試局部放電暫態(tài)地電壓檢測(cè)儀性能的系統(tǒng)和方法有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201310084623.7 | 申請(qǐng)日: | 2013-03-15 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN103197272A | 公開(kāi)(公告)日: | 2013-07-10 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 袁帥;閻春雨;畢建剛;是艷杰;楊寧;吳立遠(yuǎn);王峰;楊圓;弓艷朋;鄧彥國(guó);孟楠 | 申請(qǐng)(專(zhuān)利權(quán))人: | 中國(guó)電力科學(xué)研究院;國(guó)家電網(wǎng)公司 |
| 主分類(lèi)號(hào): | G01R35/00 | 分類(lèi)號(hào): | G01R35/00 |
| 代理公司: | 北京安博達(dá)知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11271 | 代理人: | 徐國(guó)文 |
| 地址: | 100192 北*** | 國(guó)省代碼: | 北京;11 |
| 權(quán)利要求書(shū): | 查看更多 | 說(shuō)明書(shū): | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 測(cè)試 局部 放電 電壓 檢測(cè) 性能 系統(tǒng) 方法 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及高壓輸變電設(shè)備放電故障檢測(cè)技術(shù)領(lǐng)域,具體涉及一種測(cè)試局部放電暫態(tài)地電壓檢測(cè)儀性能的系統(tǒng)和方法。
背景技術(shù)
局部放電暫態(tài)地電壓檢測(cè)法作為一種帶電檢測(cè)技術(shù),具有使用方便、針對(duì)性強(qiáng)等優(yōu)點(diǎn),已逐步在國(guó)內(nèi)變電站推廣使用。局部放電暫態(tài)地電壓檢測(cè)儀一般用于對(duì)交流金屬封閉開(kāi)關(guān)設(shè)備(簡(jiǎn)稱(chēng)開(kāi)關(guān)柜)進(jìn)行局部放電帶電檢測(cè)或局部放電狀態(tài)監(jiān)測(cè)。開(kāi)關(guān)柜內(nèi)部局部放電會(huì)產(chǎn)生電磁波,在金屬壁形成趨膚效應(yīng)并且沿著金屬表面進(jìn)行傳播,同時(shí)在金屬表面產(chǎn)生暫態(tài)地電壓。局部放電產(chǎn)生的暫態(tài)地電壓信號(hào)的大小與局部放電的強(qiáng)度及放電點(diǎn)的位置有直接關(guān)系。因此,可以利用專(zhuān)門(mén)的傳感器對(duì)暫態(tài)地電壓信號(hào)進(jìn)行檢測(cè),以判斷開(kāi)關(guān)柜內(nèi)部的局部放電缺陷,同時(shí)可以利用同一放電源產(chǎn)生的暫態(tài)地電壓信號(hào)到達(dá)不同位置傳感器的時(shí)間差或幅值差對(duì)局部放電源進(jìn)行定位。
目前,暫態(tài)地電壓檢測(cè)儀缺乏標(biāo)準(zhǔn)化、統(tǒng)一一致的測(cè)試方法及測(cè)試系統(tǒng),影響了儀器的制造和檢驗(yàn),阻礙了技術(shù)進(jìn)一步發(fā)展。因此,進(jìn)行暫態(tài)地電壓檢測(cè)儀測(cè)試系統(tǒng)和檢測(cè)方法的研究具有重要的實(shí)際指導(dǎo)意義。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明涉及一種測(cè)試局部放電暫態(tài)地電壓檢測(cè)儀性能的系統(tǒng)和方法,所述系統(tǒng)包括信號(hào)發(fā)生器、同軸電纜2、金屬板、匹配電阻4、TEV傳感器5、暫態(tài)地電壓檢測(cè)儀6和信號(hào)電纜7;
所述信號(hào)發(fā)生器為正弦信號(hào)發(fā)生器1或脈沖信號(hào)發(fā)生器8,所述信號(hào)發(fā)生器與所述金屬板通過(guò)所述同軸電纜2相連接,所述暫態(tài)地電壓檢測(cè)儀6與所述TEV傳感器5通過(guò)所述信號(hào)電纜7相連接,所述TEV傳感器5緊貼于所述金屬板的表面上,所述金屬板通過(guò)所述匹配電阻4接地,所述信號(hào)發(fā)生器與所述暫態(tài)地電壓檢測(cè)儀6的接地端直接與地相連;
通過(guò)調(diào)節(jié)所述信號(hào)發(fā)生器發(fā)出的信號(hào)的類(lèi)型、幅值或大小,根據(jù)所述被測(cè)暫態(tài)地電壓檢測(cè)儀6的輸出值測(cè)試所述暫態(tài)地電壓檢測(cè)儀6的頻帶、線(xiàn)性度誤差、脈沖計(jì)數(shù)測(cè)量誤差、穩(wěn)定性誤差和定位功能。
本發(fā)明提供的第一優(yōu)選實(shí)施例中:所述信號(hào)發(fā)生器為正弦信號(hào)發(fā)生器1;
所述金屬板為性能測(cè)試金屬板3,所述性能測(cè)試金屬板3為長(zhǎng)300mm寬300mm厚3mm邊角進(jìn)行圓弧形處理的鍍鋅鐵板;
所述TEV傳感器5的數(shù)量為一個(gè),緊貼于豎直放置的所述性能測(cè)試金屬板3的表面上。
本發(fā)明提供的第二優(yōu)選實(shí)施例中:所述信號(hào)發(fā)生器為脈沖信號(hào)發(fā)生器8;
所述金屬板為性能測(cè)試金屬板3,所述性能測(cè)試金屬板3為長(zhǎng)300mm寬300mm厚3mm邊角進(jìn)行圓弧形處理的鍍鋅鐵板;
所述TEV傳感器5的數(shù)量為一個(gè),緊貼于豎直放置的所述性能測(cè)試金屬板3的表面上。
本發(fā)明提供的第三優(yōu)選實(shí)施例中:所述信號(hào)發(fā)生器為脈沖信號(hào)發(fā)生器8;
所述金屬板為定位測(cè)試金屬板9,所述定位測(cè)試金屬板9為長(zhǎng)2000mm寬150mm厚3mm邊角進(jìn)行圓弧形處理的鍍鋅鐵板;
所述TEV傳感器5的數(shù)量為兩個(gè),所述兩個(gè)TEV傳感器5均緊貼于水平放置的所述定位測(cè)試金屬板9的表面上。
本發(fā)明提供的第四優(yōu)選實(shí)施例中:所述信號(hào)發(fā)生器的型號(hào)為Agilent?33250。
本發(fā)明提供的第五優(yōu)選實(shí)施例中:所述匹配電阻4的大小為50Ω。
本發(fā)明提供的第六優(yōu)選實(shí)施例提供一種測(cè)試局部放電暫態(tài)地電壓檢測(cè)儀性能的方法,所述方法基于第一優(yōu)選實(shí)施例提供的系統(tǒng),測(cè)試所述暫態(tài)地電壓檢測(cè)儀6的頻帶,包括:
步驟S101,調(diào)節(jié)所述正弦信號(hào)發(fā)生器1輸出的正弦波信號(hào)的幅值至2V-5V范圍內(nèi)任意值并維持不變;
步驟S102,在所述被測(cè)暫態(tài)地電壓檢測(cè)儀6規(guī)定的上下限截止頻率之間改變所述正弦信號(hào)發(fā)生器1的輸出的所述正弦波的頻率,檢測(cè)出所述被測(cè)暫態(tài)地電壓檢測(cè)儀6輸出信號(hào)基本恒定區(qū)域中的中心頻率fc;
步驟S103,以所述被測(cè)暫態(tài)地電壓檢測(cè)儀6輸出信號(hào)頻率為fc時(shí)所述正弦信號(hào)發(fā)生器1的輸出正弦波信號(hào)頻率為初始值,以1MHz步長(zhǎng)降低所述正弦波信號(hào)的頻率,并保證所述正弦波信號(hào)電壓幅值不變,找出所述被測(cè)暫態(tài)地電壓檢測(cè)儀6歸一化輸出降到0.501時(shí)的頻率點(diǎn),所述輸出降到0.501時(shí)的頻率點(diǎn)為所述被測(cè)暫態(tài)地電壓檢測(cè)儀的實(shí)測(cè)的下限截止頻率f下;
該專(zhuān)利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專(zhuān)利權(quán)人授權(quán)。該專(zhuān)利全部權(quán)利屬于中國(guó)電力科學(xué)研究院;國(guó)家電網(wǎng)公司,未經(jīng)中國(guó)電力科學(xué)研究院;國(guó)家電網(wǎng)公司許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購(gòu)買(mǎi)此專(zhuān)利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201310084623.7/2.html,轉(zhuǎn)載請(qǐng)聲明來(lái)源鉆瓜專(zhuān)利網(wǎng)。
- 軟件測(cè)試系統(tǒng)及測(cè)試方法
- 自動(dòng)化測(cè)試方法和裝置
- 一種應(yīng)用于視頻點(diǎn)播系統(tǒng)的測(cè)試裝置及測(cè)試方法
- Android設(shè)備的測(cè)試方法及系統(tǒng)
- 一種工廠(chǎng)測(cè)試方法、系統(tǒng)、測(cè)試終端及被測(cè)試終端
- 一種軟件測(cè)試的方法、裝置及電子設(shè)備
- 測(cè)試方法、測(cè)試裝置、測(cè)試設(shè)備及計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)
- 測(cè)試裝置及測(cè)試系統(tǒng)
- 測(cè)試方法及測(cè)試系統(tǒng)
- 一種數(shù)控切削指令運(yùn)行軟件測(cè)試系統(tǒng)及方法





