[發明專利]校正電路及實時時鐘電路

有效

• 申請號: 201310067061.5
• 申請日: 2013-03-01
• 公開（公告）號: CN103116385A
• 公開（公告）日: 2013-05-22
• 發明（設計）人: 劉錦秀;郭書苞;李定
• 申請（專利權）人: 華為技術有限公司
• 主分類號: G06F1/14
• 分類號: G06F1/14
• 代理公司: 北京同立鈞成知識產權代理有限公司 11205
• 代理人: 劉芳

1.一種校正電路，其特征在于，包括：集成在芯片中的分頻電路、分頻系數運算電路、內置溫度采集電路和上下電檢測電路；

所述內置溫度采集電路，用于采集所述芯片的溫度；

所述上下電檢測電路，用于檢測所述芯片上電或下電；

所述分頻系數運算電路，用于在所述上下電檢測電路檢測到所述芯片下電時，根據所述內置溫度采集電路采集到的所述芯片的溫度，計算分頻系數，并將所述分頻系數輸出給所述分頻電路；

所述分頻電路，用于根據所述分頻系數運算電路輸出的所述分頻系數，向實時時鐘提供計時脈沖，以使所述時鐘根據所述計時脈沖輸出時鐘信號。

2.根據權利1所述的校正電路，其特征在于，還包括：

溫度采集控制電路，與所述實時時鐘和所述內置溫度采集電路連接，用于根據所述實時時鐘輸出的時鐘信號，控制所述內置溫度采集電路采集所述芯片的溫度。

3.根據權利1或2所述的校正電路，其特征在于，所述校正電路還包括：

外置溫度采集器，用于采集所述芯片外部的石英晶體的溫度；

溫度選擇電路，與所述內置溫度采集電路、外置溫度采集器、上下電檢測電路、分頻系數運算電路連接，用于在所述上下電檢測電路檢測到所述芯片下電時，將所述內置溫度采集電路采集到的所述芯片的溫度輸出給所述分頻系數運算電路，在所述上下電檢測電路檢測到所述芯片上電時，將所述外置溫度采集器采集到的所述石英晶體的溫度輸出給所述分頻系數運算電路。

4.根據權利3所述的校正電路，其特征在于，所述溫度采集控制電路還與所述外置溫度采集器連接，還用于根據所述實時時鐘輸出的時鐘信號，控制所述外置溫度采集電路采集所述石英晶體的溫度。

5.根據權利1或2所述的校正電路，其特征在于，還包括：

溫度偏差運算電路，與所述內置溫度采集電路、上下電檢測電路、分頻系數運算電路連接，用于在所述上下電檢測電路檢測到所述芯片下電時，將所述內置溫度采集電路采集到的所述芯片的溫度輸出給所述分頻系數運算電路，在在所述上下電檢測電路檢測到所述芯片上電時，對所述內置溫度采集電路采集到的所述芯片的溫度進行偏差補償，將偏差補償得到的溫度輸出給所述分頻系數運算電路。

6.根據權利要求1至5任一所述的校正電路，其特征在于，所述分頻系數運算電路具體用于，根據預先保存的多個溫度和各溫度相對于標準振蕩頻率的頻率偏差，獲得輸入溫度對應的頻率偏差，根據所述輸入溫度對應的頻率偏差得到所述分頻系數，并輸出給所述分頻電路；其中，所述標準振蕩頻率為石英晶體的振蕩頻率32768赫茲。

7.根據權利要求6所述的校正電路，其特征在于，所述預先保存的多個溫度均大于所述中心溫度，或均小于所述中心溫度，其中所述中心溫度為所述石英晶體的振蕩頻率和溫度關系曲線的中心對稱點對應的溫度；所述分頻系數運算電路包括：比較電路、溫度對稱電路、多路選擇電路、查表電路和插值運算電路；

所述比較電路，用于比較所述輸入溫度和所述中心溫度的大小；

所述溫度對稱電路，用于計算與所述輸入溫度關于所述中心溫度對稱的溫度；

所述多路選擇電路，與所述比較電路、溫度對稱電路、查表電路連接，用于若所述輸入溫度大于所述中心溫度且所述預先保存的多個溫度均小于所述中心溫度，或所述輸入溫度小于所述中心溫度且所述預先保存的多個溫度均大于所述中心溫度時，將所述對應的溫度輸出給所述查表電路，否則將所述輸入溫度輸出給所述查表電路；

所述查表電路，與所述多路選擇電路和插值運算電路連接，用于根據接收到的溫度在預先保存的多個溫度和各溫度相對于所述標準振蕩頻率的頻率偏差查找，將與所述接收到的溫度相關的兩個溫度相對于所述標準振蕩頻率的頻率偏差輸出給所述插值運算電路；

所述插值運算電路，與所述查表電路和分頻電路連接，用于根據所述查表電路輸出的所述兩個溫度相對于所述標準振蕩頻率的頻率偏差，進行插值運算，得到所述輸入溫度對應的頻率偏差，根據所述輸入溫度對應的頻率偏差得到所述分頻系數，并將所述分頻系數輸出給所述分頻電路。

8.根據權利要求1至7中任一所述的校正電路，其特征在于，所述分頻電路為小數分頻電路。