[發明專利]用于獲取在轉動部件上的旋轉角的組件

無效

• 申請號: 201310062677.3
• 申請日: 2013-02-21
• 公開（公告）號: CN103256901A
• 公開（公告）日: 2013-08-21
• 發明（設計）人: C·舍林
• 申請（專利權）人: 羅伯特·博世有限公司
• 主分類號: G01B11/26
• 分類號: G01B11/26;G01D5/347
• 代理公司: 北京市金杜律師事務所 11256
• 代理人: 蘇娟;馮思思

1.一種用于測量在轉動部件(3)上的旋轉角的組件，其具有：第一測量器件(5)，所述第一測量器件包括與所述轉動部件(3)相聯接的帶有相應的接收器(34.1、34.2)的第一盤(32)，所述第一測量器件根據所述轉動部件(3)的轉動運動提供重復的精確信號，所述精確信號能夠被評價用于確定所述轉動部件(3)的角度位置；所述組件還具有用于產生粗略信號的第二測量器件(7)，所述粗略信號能夠被評價用于獲得所述轉動部件(3)的旋轉圈數，其特征在于，所述第一測量器件(5)為光學的測量系統，其包括至少兩個分別具有光發射器(24.1、24.2)和被實施成光探測器(34.1、34.2)的接收器的精測量通道(K1、K2)和布置在所述至少兩個精測量通道(K1、K2)的照射路徑中的被實施成帶有偏振濾波器的檢偏振輪的第一盤(32、32′)，其中，所述至少兩個精測量通道(K1、K2)引導具有不同偏振面的偏振光穿過所述被實施成帶有偏振濾波器的檢偏振輪的第一盤(32、32′)。

2.按照權利要求1所述的組件，其特征在于，所述被實施成帶有偏振濾波器的檢偏振輪的第一盤(32、32′)具有預先規定的優選為π或2π的周期。

3.按照權利要求1或2所述的組件，其特征在于，所述第二測量器件(7)為具有至少一個粗測量通道(K3、K4)的光學測量系統，所述粗測量通道(K3、K4)具有光發射器(24.3、24.4)和被實施成光探測器(34.3、34.4)的接收器。

4.按照權利要求3所述的組件，其特征在于，為了將所述轉動部件(3)的旋轉圈數編碼，所述第二測量器件(7)具有與所述轉動部件(3)相聯接的具有可透光的區域和不可透光的區域的編碼盤(36)，其中，所述可透光的區域具有至少一個可透光的圓環段(36.1、36.2)，所述可透光的圓環段在所述至少一個粗測量通道(K3、K4)的照射區域中作用并且被所述粗測量通道探測。

5.按照權利要求4所述的組件，其特征在于，所述具有可透光的區域和不可透光的區域的編碼盤(36)通過傳動機構與所述轉動部件(3)相聯接，其中，所述傳動機構具有優選為1∶8或1∶16的預先規定的傳動比。

6.按照權利要求3所述的組件，其特征在于，所述轉動部件(3)的旋轉圈數能夠作為在所述至少一個粗測量通道(K3、K4)的光發射器(24.3、24.4)和光探測器(34.3、34.4)之間的距離變化被求出，其中，所述轉動部件(3)的轉動能夠被轉換成所述至少一個粗測量通道(K3、K4)的光探測器(34.3、34.4)的線性運動，以及其中，能夠通過光強度測量求出所述距離變化。

7.按照權利要求1至6中任一項所述的組件，其特征在于，所述測量通道(R、K1至K4)的至少兩個光發射器(24.1至24.4、RS)為光學的去耦裝置，其由共同的非偏振光源(22)供給。

8.按照權利要求7所述的組件，其特征在于，設有參考測量通道(R)，所述參考測量通道具有參考光發射器(RS)和參考探測器(RD)，所述參考測量通道求出并提供用于光強度的參考值。

9.按照權利要求7或8所述的組件，其特征在于，為了產生具有不同的偏振面的偏振光，第一精測量通道(K1)的照射路徑由具有第一偏振面(26.1)的偏振盤(26)影響，并且第二精測量通道(K2)的照射路徑由具有第二偏振面(26.2)的偏振盤(26)影響，其中，所述第二偏振面(26.2)具有相對于所述第一偏振面(26.1)優選為45°的旋轉角

10.按照權利要求1至6中任一項所述的組件，其特征在于，所述第一精測量通道(K1)的第一光發射器發出在第一偏振面(26.1)中的偏振光，并且第二精測量通道(K2)的第二光發射器發出在第二偏振面(26.2)中的偏振光，其中，所述第二偏振面(26.2)具有相對于所述第一偏振面(26.1)優選為45°的旋轉角