[發明專利]一種多層涂層體系臨界腐蝕損傷的快速評價方法

在審

• 申請號: 201310061870.5
• 申請日: 2013-03-26
• 公開（公告）號: CN104076079A
• 公開（公告）日: 2014-10-01
• 發明（設計）人: 舒暢;蘇艷
• 申請（專利權）人: 中國兵器工業第五九研究所
• 主分類號: G01N27/416
• 分類號: G01N27/416
• 代理公司: 重慶弘旭專利代理有限責任公司 50209
• 代理人: 李靖

1.一種多層涂層體系臨界腐蝕損傷快速評價方法，其特征在于：采用便攜式電化學系統采集現場涂層電化學信號，輸入計算機，由預先裝設的涂層電化學特征分析系統給出評價結論，具體包括如下步驟：

（1）目視檢測待評價多層涂層體系的宏觀形貌特征，選擇腐蝕嚴重部位測試EIS數據，和涂層厚度，輸入計算機進行后續處理；

（2）利用計算機裝設的涂層電化學特征分析系統，分析測試所得電化學數據，獲得多層涂層體系每一層涂層的電容及電阻；

（3）根據每一層涂層的電容及電阻評價多層涂層體系是否達到臨界腐蝕損傷。

2.根據權利要求1所述的多層涂層體系臨界腐蝕損傷快速評價方法，其特征在于：所述涂層電化學特征分析系統是基于一種多層涂層體系腐蝕介質滲透物理模型和一種電化學阻抗譜CM等效電路模型構建的。

3.根據權利要求2所述的一種多層涂層體系臨界腐蝕損傷快速評價方法，其特征在于：所述多層涂層體系腐蝕介質滲透物理模型是基于涂層的多孔性質，通過分析電解質滲入多層涂層體系的過程以及多層涂層體系破壞機制，結合多層涂層體系制備方式建立的，反映了涂層的結構、以及涂層與界面的結構的變化。

4.根據權利要求2所述的一種多層涂層體系臨界腐蝕損傷快速評價方法，其特征在于：所述電化學阻抗譜CM等效電路模型是由每一層涂層體系的電阻電容并聯后再串聯組成，表現形式為為R((R₀C₀)((R₁C₁)…(R_nC_n))，其分層層數應與多層涂層體系物理模型一致。

5.根據權利要求1~4所述的一種多層涂層體系臨界腐蝕損傷快速評價方法，其特征在于：通過涂層電化學特征分析系統，獲得多層涂層體系每一層涂層的電容及電阻。

6.根據權利要求1~5所述的一種多層涂層體系臨界腐蝕損傷快速評價方法，其特征在于：建立了基于每一層涂層的電容及電阻評價多層涂層體系是否達到臨界腐蝕損傷的方法，確定了評價多層涂層體系達到臨界腐蝕損傷的涂層電阻臨界值。

7.根據權利要求1~6所述的一種多層涂層體系臨界腐蝕損傷快速評價方法，其特征在于：建立多層涂層體系每一層涂層體系電容電阻、總電阻與涂層厚度之間的變化趨勢曲線。

8.根據權利要求1~7所述的一種多層涂層體系臨界腐蝕損傷快速評價方法，其特征在于：在對多層涂層體系臨界腐蝕損傷值進行快速評價的基礎上，根據所述變化趨勢曲線和涂層剩余厚度，可預測涂層體系的剩余壽命。