[發(fā)明專利]一種測(cè)控天線的阻抗匹配方法

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201310059532.8
• 申請(qǐng)日: 2013-02-26
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN103138038A
• 公開(kāi)（公告）日: 2013-06-05
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 李鴻斌;董楠;高曉艷;楊帆;倪海權(quán);任順;羅強(qiáng);趙臻
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 北京空間飛行器總體設(shè)計(jì)部
• 主分類號(hào): H01Q1/00
• 分類號(hào): H01Q1/00;H01Q1/50
• 代理公司: 中國(guó)航天科技專利中心 11009
• 代理人: 范曉毅

1.一種測(cè)控天線的阻抗匹配方法，其特征在于：在測(cè)控天線的饋管（1）頂端增加調(diào)配帽（2），改變饋管中的電場(chǎng)分布，使電壓最小點(diǎn)移動(dòng)到饋管（1）內(nèi)部，然后調(diào)節(jié)測(cè)控天線中套在內(nèi)導(dǎo)體（3）上的匹配管（4）的尺寸或位置，或者尺寸和位置同時(shí)調(diào)節(jié)，使測(cè)控天線駐波比小于1.2。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種測(cè)控天線的阻抗匹配方法，其特征在于：所述調(diào)配帽（2）為聚酰亞胺、玻璃纖維復(fù)材或石英纖維復(fù)材制備得到。

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種測(cè)控天線的阻抗匹配方法，其特征在于：所述調(diào)配帽（2）為階梯狀，包括上端部（5）與下端部（6），上端部（5）的形狀、尺寸與饋管（1）外徑的形狀、尺寸相匹配，下端部（6）的形狀、尺寸與饋管（1）內(nèi)徑的形狀、尺寸相匹配。

4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的一種測(cè)控天線的阻抗匹配方法，其特征在于：所述調(diào)配帽（2）的上端部（5）為圓柱形狀，下端部（6）為月牙形臺(tái)階。

5.根據(jù)權(quán)利要求3或4所述的一種測(cè)控天線的阻抗匹配方法，其特征在于：所述調(diào)配帽（2）的下端部（6）的厚度為1.5-2.5mm。

6.根據(jù)權(quán)利要求3或4所述的一種測(cè)控天線的阻抗匹配方法，其特征在于：所述調(diào)配帽（2）的下端部（6）有兩個(gè)凸臺(tái)（7），調(diào)配帽（2）的下端部（6）插入饋管（2）頂端，兩個(gè)凸臺(tái)（7）卡在饋管（1）頂端的兩個(gè)凹槽（8）處，上端部（5）露在饋管（2）外。

7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的一種測(cè)控天線的阻抗匹配方法，其特征在于：所述調(diào)配帽（2）和饋管（1）之間用環(huán)氧膠固定。

8.根據(jù)權(quán)利要求1-4任一權(quán)利要求所述的一種測(cè)控天線的阻抗匹配方法，其特征在于：所述內(nèi)導(dǎo)體（3）深入饋管（1）內(nèi)，一端與饋管（1）通過(guò)螺紋連接。

9.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種測(cè)控天線的阻抗匹配方法，其特征在于：所述調(diào)節(jié)測(cè)控天線中套在內(nèi)導(dǎo)體（3）上的匹配管（4）的尺寸包括調(diào)節(jié)匹配管（4）的直徑和/或長(zhǎng)度。