[發明專利]一種電阻測試方法有效
| 申請號： | 201310054770.X | 申請日： | 2013-02-20 |
| 公開（公告）號： | CN103134990A | 公開（公告）日： | 2013-06-05 |
| 發明（設計）人： | 沈茜;莫保章;婁曉祺 | 申請（專利權）人： | 上海華力微電子有限公司 |
| 主分類號： | G01R27/08 | 分類號： | G01R27/08 |
| 代理公司： | 上海申新律師事務所 31272 | 代理人： | 竺路玲 |
| 地址： | 201210 上海市浦*** | 國省代碼： | 上海;31 |
| 權利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 一種 電阻 測試 方法 | ||
【權利要求書】：
1.一種電阻測試方法，其特征在于，包括以下步驟：
S1、將N個待測電阻與M個pad串聯，形成一串聯電路，且該串聯電路中相鄰的兩個所述pad之間均設置有一個待測電阻；其中，M和N均為正整數，且M=N+1；
S2、給所述串聯電路上電，測量并獲取該串聯電路中每個所述pad上的電壓UM和所述串聯電路的電流I；
S3、電壓值和電流值傳輸到WAT測試Alg平臺，Alg平臺根據電阻公式
2.根據權利1所述的電阻測試方法，其特征在于，步驟S3中所述RN為第N個所述待測電阻的阻值，所述UM為第M個所述pad上的電壓值，所述UM-1為第M-1個所述pad上的電壓值，所述padM與padM-1為相鄰的兩個pad，且第N個所述待測電阻為位于所述padM與padM-1之間。
3.根據權利要求1所述的電阻測試方法，其特征在于，所述Um與Um-1為相鄰的兩個pad的電壓值。
4.根據權利要求1所述的電阻測試方法，其特征在于，所述Alg平臺利用探針卡與所述pad連接，獲取每個pad上的電壓值U并將所述電壓值傳輸到所述Alg平臺。
5.根據權利要求4所述的電阻測試方法，其特征在于，所述Alg平臺中設置有計算模塊，該計算模塊通過獲取的電壓值及電流值，并根據公式輸出每個待測電阻的阻值并進行保存。
下載完整專利技術內容需要扣除積分，VIP會員可以免費下載。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息，商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于上海華力微電子有限公司，未經上海華力微電子有限公司許可，擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作，請聯系【客服】
本文鏈接：http://www.szxzyx.cn/pat/books/201310054770.X/1.html，轉載請聲明來源鉆瓜專利網。
