[發明專利]上行外部干擾檢測方法、干擾源定位方法及裝置

在審

• 申請號: 201310046071.0
• 申請日: 2013-02-05
• 公開（公告）號: CN103974280A
• 公開（公告）日: 2014-08-06
• 發明（設計）人: 趙國峰;李偉民;王燕云;孔小玲;蔣賢忠
• 申請（專利權）人: 中興通訊股份有限公司
• 主分類號: H04W24/00
• 分類號: H04W24/00
• 代理公司: 深圳鼎合誠知識產權代理有限公司 44281
• 代理人: 薛祥輝

1.一種上行外部干擾檢測方法，其特征在于，包括：

分別獲取N個時間粒度內到達小區的干擾信號功率，N≥1；

將獲取到的各時間粒度內到達小區的干擾信號功率與第一閾值比較，統計干擾信號功率大于所述第一閾值的時間粒度數；

將統計得出的時間粒度數與第二閾值比較，若大于所述第二閾值，則判斷為相應小區存在上行外部干擾。

2.如權利要求1所述的上行外部干擾檢測方法，其特征在于，分別獲取N個時間粒度內到達小區的干擾信號功率的方法，具體為：

分別獲取N個時間粒度內小區的上行業務負荷、底噪和接收帶內功率；

根據各時間粒度內的所述上行業務負荷、底噪和接收帶內功率分別計算相應時間粒度內到達相應小區的干擾信號功率。

3.如權利要求1或2所述的上行外部干擾檢測方法，其特征在于，根據各時間粒度內的所述上行業務負荷、底噪和接收帶內功率分別計算相應時間粒度內到達相應小區的干擾信號功率的方法，具體為：分別將各時間粒度內的所述接收帶內功率減去所述上行業務負荷和底噪，得到相應時間粒度內到達相應小區的干擾信號功率。

4.一種上行干擾源定位方法，其特征在于，包括：

根據如權利要求1至3任一項所述的上行外部干擾檢測方法，判斷出存在上行外部干擾的所有受干擾小區；

根據預設規則從所有受干擾小區中判斷出受同一干擾源影響的受干擾小區；

根據受同一干擾源影響的受干擾小區，計算所述同一干擾源的位置信息。

5.如權利要求4所述的上行干擾源定位方法，其特征在于，根據預設規則從所有受干擾小區中判斷出受同一干擾源影響的受干擾小區的方法，具體為：

以每一個受干擾小區為基準小區，計算其它各受干擾小區與基準小區的間距、外部干擾的相關性；

將計算出的間距與第三閾值比較，計算出的外部干擾的相關性與第四閾值比較；

若距離小于第三閾值且外部干擾相關性大于第四閾值，則判斷相應受干擾小區與基準小區受同一干擾源影響。

6.如權利要求4或5所述的上行干擾源定位方法，其特征在于，根據受同一干擾源影響的受干擾小區，計算所述同一干擾源的位置信息的方法，具體為：根據干擾信號傳輸至所述受同一干擾源影響的各受干擾小區的傳播損耗、各受干擾小區的接收帶內功率以及各受干擾小區的水平方向角度，計算所述同一干擾源的位置信息。

7.一種上行外部干擾檢測裝置，其特征在于，包括干擾信號功率獲取模塊、第一比較模塊、第二比較模塊和檢測模塊，其中：

所述干擾信號功率獲取模塊用于分別獲取N個時間粒度內到達小區的干擾信號功率，N≥1；

所述第一比較模塊用于將所述干擾信號功率獲取模塊獲取到的各時間粒度內到達小區的干擾信號功率與第一閾值比較，統計干擾信號功率大于所述第一閾值的時間粒度數；

所述第二比較模塊用于將所述第一比較模塊統計得出的時間粒度數與第二閾值比較；

所述檢測模塊用于所述第二比較模塊的比較結果為大于所述第二閾值后，判斷為相應小區存在上行外部干擾。

8.如權利要求7所述的上行外部干擾檢測裝置，其特征在于，所述干擾信號功率獲取模塊包括獲取子模塊和第一計算模塊，其中，

所述獲取子模塊用于分別獲取N個時間粒度內小區的上行業務負荷、底噪和接收帶內功率；

所述第一計算模塊用于根據各時間粒度內的所述上行業務負荷、底噪和接收帶內功率分別計算相應時間粒度內到達相應小區的干擾信號功率。

9.一種上行干擾源定位裝置，其特征在于，包括如權利要求7或8所述的上行外部干擾檢測裝置，還包括判斷模塊和定位模塊，其中，

所述上行外部干擾檢測裝置用于判斷出存在上行外部干擾的所有受干擾小區；

所述判斷模塊用于根據預設規則從所有受干擾小區中判斷出受同一干擾源影響的受干擾小區；

所述定位模塊用于根據受同一干擾源影響的受干擾小區，計算所述同一干擾源的位置信息。