[發明專利]一種深溝球軸承套圈密封槽軸向位置測量方法在審
| 申請號: | 201310033769.9 | 申請日: | 2013-01-30 |
| 公開(公告)號: | CN103115540A | 公開(公告)日: | 2013-05-22 |
| 發明(設計)人: | 劉凈衛 | 申請(專利權)人: | 洛陽市洛凌軸承科技股份有限公司 |
| 主分類號: | G01B5/00 | 分類號: | G01B5/00 |
| 代理公司: | 洛陽市凱旋專利事務所 41112 | 代理人: | 陸君 |
| 地址: | 471003 河南省*** | 國省代碼: | 河南;41 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 深溝 球軸承 密封 軸向 位置 測量方法 | ||
技術領域
本發明涉及一種測量方法,尤其是一種深溝球軸承套圈密封槽軸向位置測量方法。
背景技術
閉式深溝球軸承套圈能夠很好的潤滑,以到達高轉速的目的,套圈在加工過程中要加工密封槽,成品套圈采用橡膠密封圈或防塵蓋進行密封,其中密封槽的軸向位置尺寸直接影響到密封件的裝配,是閉式深溝球軸承套圈非常關鍵的尺寸。
公知的密封槽軸向位置尺寸測量是采用密封槽位置樣板,以鎖口尺寸為基礎、密封槽內壁至同一端面的尺寸。然而,針對另一種密封槽形狀,如圖1,可以看到密封槽位置尺寸標注為以密封槽設計圓D為基礎、密封槽內壁至另一端面的尺寸a。密封槽設計圓直徑和鎖口直徑是不相同的,如若采用同樣的測量方法,則需要轉換位置尺寸,位置尺寸轉換后受到高度尺寸散差的影響,不能很好的滿足設計者的意圖。即便是采用輪廓儀可以勝任密封槽形狀尺寸的測量,但輪廓儀費用昂貴,且在實際生產過程中,尤其是批量加工過程中,不能有很好的應用,不經濟。
綜上所述,采用現有的測量方法無法很好的滿足圖紙設計的要求。
發明內容
為了克服背景技術中的局限性,本發明公開了一種深溝球軸承套圈密封槽位置測量方法,該方法簡易,便于調整、操作;便于操作工的自檢及檢驗員的巡檢,能夠很好的控制此類密封槽位置,且效率高、經濟實用。
?本發明解決其技術問題所采用的技術方案是:一種深溝球軸承套圈密封槽軸向位置測量方法,包括下列步驟:(1)加工密封槽測量環標準件,在測量環標準件上設置測量點,為對表點;(2)將0.01mm圓形儀表安裝在高度測量儀上,測量環標準件放在高度測量儀的測量臺上,調整下方的高度測量儀V形叉,0.01mm圓形儀表表尖所指向標準件的對表點;(3)調整圓形儀表表針至0示值位置,并固定好圓形儀表。(4)取出測量環標準件,放置深溝球軸承至測量臺上,將0.01mm圓形儀表表尖放在密封槽內壁,旋轉一周,讀取儀表最大和最小示值。(5)與標準件的高度值取和,取和后的值即為密封槽位置的最大、最小值。
?本發明所述的密封槽測量環標準件外徑尺寸為軸承套圈的外徑尺寸,內徑尺寸為軸承套圈的內徑尺寸,高度尺寸為密封槽位置尺寸。
?本發明所述的測量環標準件上設置的對表點是以標準件中心為圓心、以密封槽設計圓直徑為直徑的圓環上一點。
?本發明的有益效果是,對于深溝球軸承套圈不同形狀的密封槽軸向位置的測定,不需要轉換位置尺寸,不會受到高度尺寸散差的影響,而且也不用采用費用昂貴的輪廓儀費用昂貴,且在實際生產過程中,尤其是批量加工過程中,通過密封槽測量環標準間的加工,能夠多次重復利用,經濟實用。
附圖說明
圖1為閉式深溝球軸承套圈密封槽形狀示意圖;
圖2為密封槽位置的局部放大圖;
圖3為密封槽測量環標準件示意圖;
圖4為圖3的K向對標點位置示意圖。
????圖中,1、對表點。
具體實施方式
軸承套圈尺寸:外徑φ225.2mm,內徑φ201.3mm,密封槽設計圓φ205.3mm,密封槽位置a為31.4mm;
(1)加工密封槽測量環標準件,標準件尺寸:外徑φ225.2mm,內徑φ201.3mm,高度尺寸31.4mm;在測量環標準件上(由檢定人員)設置測量點,即為對表點,對表點距離外徑為(225.2-205.3)/2mm=9.95mm;
?(2)將0.01mm圓形儀表安裝在高度測量儀上,測量環標準件放在高度測量儀的測量臺上,調整下方的高度測量儀V形叉,0.01mm圓形儀表表尖所指向標準件的測量點;
?(3)調整圓形儀表表針至0示值位置,并固定好圓形儀表;
(4)取出測量環標準件,放置深溝球軸承至測量臺上,將0.01mm圓形儀表表尖放在密封槽內壁,旋轉一周,讀取儀表最大和最小示值,①+0.02(max),+0.01(min),②-0.01(max),-0.03(min);
?(5)與標準件的高度值取和,取和后的值即為密封槽位置的最大、最小值,①31.42mm(max),31.41mm(min),密封槽位置相對基準值31.4mm大,意味著密封槽淺,②-0.01mm(max),-0.03mm(min),密封槽位置相對基準值31.4mm小,意味著密封槽深。
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