[發(fā)明專利]成像光電系統(tǒng)光譜響應(yīng)非均勻性測量方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201310026239.1 | 申請日: | 2013-01-24 |
| 公開(公告)號: | CN103105286A | 公開(公告)日: | 2013-05-15 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 范紀(jì)紅;俞兵;侯西旗;袁良;李琪;盧飛;秦艷 | 申請(專利權(quán))人: | 中國兵器工業(yè)第二〇五研究所 |
| 主分類號: | G01M11/02 | 分類號: | G01M11/02 |
| 代理公司: | 暫無信息 | 代理人: | 暫無信息 |
| 地址: | 710065 陜西*** | 國省代碼: | 陜西;61 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 成像 光電 系統(tǒng) 光譜 響應(yīng) 均勻 測量方法 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明屬于光學(xué)計量測試領(lǐng)域,涉及一種光譜響應(yīng)非均勻性測量方法,尤其涉及一種成像光電系統(tǒng)光譜響應(yīng)非均勻性測量方法。
背景技術(shù)
成像光電系統(tǒng)包括從紫外、可見到紅外的各類成像光電系統(tǒng),如CCD相機、CCD立體相機、航天相機、成像光譜儀等,成像光電系統(tǒng)用來探測、識別和分辨目標(biāo)及背景,廣泛應(yīng)用于衛(wèi)星遙感、空間探測、軍事偵察、軍事感知、目標(biāo)識別、目標(biāo)跟蹤、軍事圖像通信等領(lǐng)域。
隨著成像光電系統(tǒng)在軍事領(lǐng)域和航天領(lǐng)域的廣泛應(yīng)用和發(fā)展,對成像光電系統(tǒng)提出了更加苛刻的要求:高分辨率、卓越的信噪比、光譜響應(yīng)均勻性好、寬動態(tài)范圍及適用于惡劣的環(huán)境。光譜響應(yīng)非均勻性是評價成像光電系統(tǒng)的重要技術(shù)參數(shù)之一,由于成像光電系統(tǒng)的圖像中疊加非均勻性噪聲而影響成像系統(tǒng)的靈敏度,因此必須對成像光電系統(tǒng)的光譜響應(yīng)非均勻性進(jìn)行測量,從而對成像光電系統(tǒng)光譜響應(yīng)非均勻性進(jìn)一步修正。目前,俄羅斯、英國、美國等國家都相繼開展了成像光電系統(tǒng)光譜響應(yīng)非均勻性測量技術(shù)的研究,在紫外、可見及近紅外波段采用單色積分球光源的方法,將成像光電系統(tǒng)放置在積分球光源的出口,由單色積分球光源直接照射被測成像光電系統(tǒng),由于單色積分球光源出口的均勻性比較好,因此可直接實現(xiàn)被測成像光電系統(tǒng)光譜響應(yīng)非均勻性的測量。在中、遠(yuǎn)紅外波段采用面源黑體的方法,利用面源黑體均勻的輻射實現(xiàn)被測成像光電系統(tǒng)響應(yīng)非均勻性的測量。
國內(nèi)主要采用小光點注入法和均勻光源法實現(xiàn)成像光電系統(tǒng)光譜響應(yīng)非均勻性測量。但是由于成像光電系統(tǒng)中CCD器件的像元尺寸越來越小,小光點注入法已無法滿足實際測量要求,因此目前多采用均勻光源法,例如,《光譜學(xué)與光譜分析》第32卷,第5期上,《哈達(dá)瑪變換光譜成像儀光譜響應(yīng)非均勻性修正》一文中,采用的方法就是用積分球光源實現(xiàn)哈達(dá)瑪變換光譜成像儀光譜響應(yīng)非均勻性進(jìn)行測量,從而進(jìn)一步對其光譜響應(yīng)非均勻性進(jìn)行修正。但是,由于均勻光源本身存在不均勻性,因此采用均勻光源法測量成像光電系統(tǒng)光譜響應(yīng)非均勻性存在一定誤差。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明要解決的技術(shù)問題是,針對目前成像光電系統(tǒng)光譜響應(yīng)非均勻性的測量難題,提供一種成像光電系統(tǒng)光譜響應(yīng)非均勻性的高準(zhǔn)確度測量方法,克服利用均勻光源法測量成像光電系統(tǒng)光譜響應(yīng)非均勻性存在的問題。
為解決上述技術(shù)問題,本發(fā)明提供的成像光電系統(tǒng)光譜響應(yīng)非均勻性測量的方法包括以下步驟:
第一步:搭建成像光電系統(tǒng)光譜響應(yīng)非均勻性測量系統(tǒng)
將可調(diào)諧激光器、激光穩(wěn)功率控制器、帶有監(jiān)視探測器的積分球、準(zhǔn)直透鏡、均勻性補償器、安裝在二維掃描機構(gòu)上的類針孔輻射計依次放置在光學(xué)平臺上,其中,積分球的出口處于準(zhǔn)直透鏡的物方焦面上,二維掃描機構(gòu)受計算機控制,類針孔輻射計的輸出送入所述計算機,可調(diào)諧激光器輸出的激光由激光穩(wěn)功率控制器的中心入射,由激光穩(wěn)功率控制器輸出的功率穩(wěn)定的激光垂直入射在所述積分球入口中心,積分球上的監(jiān)視探測器將探測信號反饋給激光穩(wěn)功率控制器,由積分球出射的均勻激光由準(zhǔn)直透鏡形成準(zhǔn)直激光束,準(zhǔn)直激光束經(jīng)均勻性補償器補償后照射到類針孔輻射計的輸入端;
第二步:計算機控制測量
2.1將可調(diào)諧激光器調(diào)整到波長點λ1,計算機首先控制類針孔輻射計測量波長點λ1處的背景信號,然后控制二維掃描機構(gòu)帶動類針孔輻射計根據(jù)設(shè)置的掃描間隔對類針孔輻射計輸入端的準(zhǔn)直激光束截面進(jìn)行二維掃描,計算機將類針孔輻射計輸出的激光信號扣除背景信號得到波長為λ1且對應(yīng)二維掃描坐標(biāo)為(xp,yp)的實測信號V(xp,yq,λ1),xp表示行方向x的掃描坐標(biāo)點且p=0、1、2、…、P-1,P為行方向掃描距離與掃描間距的比值,yq表示列方向y的掃描坐標(biāo)點且q=0、1、2、…、Q-1,Q為列方向掃描距離與掃描間距的比值,然后根據(jù)公式(1)計算激光波長為λ1時準(zhǔn)直激光束截面的均勻性U(xpyqλ1)并保存該組數(shù)據(jù):
式中,V最大(xp,yq,λ1)表示類針孔輻射計在波長λ1處所有實測信號值中的最大值;
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