[發明專利]規避定頻干擾源的取樣方法無效
| 申請號： | 201310017419.3 | 申請日： | 2013-01-17 |
| 公開（公告）號： | CN103840817A | 公開（公告）日： | 2014-06-04 |
| 發明（設計）人： | 許新富 | 申請（專利權）人： | 義隆電子股份有限公司 |
| 主分類號： | H03K19/0185 | 分類號： | H03K19/0185 |
| 代理公司： | 北京三友知識產權代理有限公司 11127 | 代理人： | 任默聞 |
| 地址： | 中國臺*** | 國省代碼： | 中國臺灣;71 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 規避 干擾 取樣 方法 | ||
【權利要求書】：
1.一種規避定頻干擾源的取樣方法，其特征在于，所述取樣方法包含以下步驟：
取得所述定頻干擾源的頻率F；
求得一取樣頻率fs，其中fs=F/n，且n為正整數；以及
電子裝置的一取樣電路以所述取樣頻率fs進行取樣。
2.根據權利要求1所述的取樣方法，其特征在于，求得所述取樣頻率fs的步驟更包含：
所述取樣頻率fs落在所述取樣電路的取樣頻段內。
3.根據權利要求2所述的取樣方法，其特征在于，在求得所述取樣頻率fs的步驟中，若符合所述取樣頻段的取樣頻率fs為多個，則以具最小n值的取樣頻率fs進行取樣。
4.根據權利要求1所述的取樣方法，其特征在于，在所述取樣電路以所述取樣頻率fs進行取樣的步驟后，另包含以下步驟：
對所述取樣電路的輸出信號，進行一低通濾波處理。
5.根據權利要求1所述的取樣方法，其特征在于，所述取樣電路以所述取樣頻率fs進行取樣的步驟包含：
根據電子裝置的一系統時脈產生器提供的系統時脈，產生具所述取樣頻率fs的時脈，以提供所述取樣電路進行取樣。
6.根據權利要求5所述的取樣方法，其特征在于，所述時脈產生器為一振蕩器以及一共振器的其中之一。
7.根據權利要求5所述的取樣方法，其特征在于，所述時脈產生器為處理器內建的RC起振電路。
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