[發(fā)明專利]一種光電探測(cè)器頻率響應(yīng)測(cè)量裝置及其測(cè)量方法有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201310015436.3 | 申請(qǐng)日: | 2013-01-16 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN103837188A | 公開(kāi)(公告)日: | 2014-06-04 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 張尚劍;鄒新海;王恒;張雅麗;劉永;陸榮國(guó) | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 電子科技大學(xué) |
| 主分類(lèi)號(hào): | G01D18/00 | 分類(lèi)號(hào): | G01D18/00 |
| 代理公司: | 成都華典專利事務(wù)所(普通合伙) 51223 | 代理人: | 徐豐;楊保剛 |
| 地址: | 610000 四川省成*** | 國(guó)省代碼: | 四川;51 |
| 權(quán)利要求書(shū): | 查看更多 | 說(shuō)明書(shū): | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 光電 探測(cè)器 頻率響應(yīng) 測(cè)量 裝置 及其 測(cè)量方法 | ||
1.一種光電探測(cè)器頻率響應(yīng)測(cè)量裝置,其特征在于,包括半導(dǎo)體激光器(1)、偏振控制器(2)、電光調(diào)制器(3)、微波信號(hào)源(4)、波長(zhǎng)可調(diào)諧激光器(5)、光耦合器(6)、待測(cè)光電探測(cè)器(7)、頻譜分析儀(8);所述半導(dǎo)體激光器(1)、偏振控制器、電光調(diào)制器、光耦合器與待測(cè)光電探測(cè)器之間依次光路連接,所述波長(zhǎng)可調(diào)諧激光器光路連接電光調(diào)制器;所述微波信號(hào)源與電光調(diào)制器之間為電路連接;所述待測(cè)光電探測(cè)器與頻譜分析儀之間為電路連接。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的光電探測(cè)器頻率響應(yīng)測(cè)量裝置,其特征在于,所述波長(zhǎng)可調(diào)諧激光器(5)為半導(dǎo)體波長(zhǎng)可調(diào)諧激光器或?yàn)楣饫w波長(zhǎng)可調(diào)諧激光器。
3.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的光電探測(cè)器頻率響應(yīng)測(cè)量裝置,其特征在于,所述電光調(diào)制器(3)為電光強(qiáng)度調(diào)制器或?yàn)殡姽庀辔徽{(diào)制器。
4.一種采用權(quán)利要求1的光電探測(cè)器頻率響應(yīng)測(cè)量裝置的頻率響應(yīng)測(cè)量方法,其特征在于,包括以下步驟,
①半導(dǎo)體激光器(1)輸出的光波經(jīng)偏振控制器(2)輸入到電光調(diào)制器(3),由微波信號(hào)源(4)輸出的微波信號(hào)經(jīng)由電光調(diào)制器(3)調(diào)制到光載波上,調(diào)制后的光信號(hào)與波長(zhǎng)可調(diào)諧激光器輸出的光信號(hào)通過(guò)光耦合器入射到待測(cè)光電探測(cè)器,待測(cè)光電探測(cè)器的輸出信號(hào)進(jìn)入頻譜分析儀中進(jìn)行測(cè)量。
②使半導(dǎo)體激光器輸出光波的頻率為ω1,使波長(zhǎng)可調(diào)諧激光器輸出光波的頻率為ω2,ω1>ω2,使微波信號(hào)的調(diào)制頻率為ωm;在頻譜分析儀上,將會(huì)觀測(cè)到半導(dǎo)體激光器中心載波、-1階微波調(diào)制邊帶、+1階微波調(diào)制邊帶分別與波長(zhǎng)可調(diào)諧激光器(5)中心載波的拍頻信號(hào),三個(gè)拍頻信號(hào)的頻率分別為ω1-ω2、ω1-ω2+ωm和ω1-ω2-ωm,并且ω1-ω2>ωm,測(cè)量頻率為ω1-ω2+ωm和頻率為ω1-ω2-ωm的拍頻信號(hào)的幅度之比,此即待測(cè)光電探測(cè)器在兩個(gè)頻點(diǎn)的頻率響應(yīng)之比,通過(guò)改變微波調(diào)制頻率ωm或者波長(zhǎng)可調(diào)諧激光器輸出光波的頻率ω2,重復(fù)測(cè)量頻率為ω1-ω2+ωm和ω1-ω2-ωm的信號(hào)幅度之比,即可得到待測(cè)光電探測(cè)器在不同頻率的響應(yīng)特性。
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