[發(fā)明專利]熒光量測腔體及其系統(tǒng)與其方法

無效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201310003586.2
• 申請日: 2013-01-06
• 公開（公告）號: CN103837510A
• 公開（公告）日: 2014-06-04
• 發(fā)明（設計）人: 謝騄璘;呂文斌;黃煥祺;曾文綬;高斌栩
• 申請（專利權）人: 財團法人工業(yè)技術研究院
• 主分類號: G01N21/64
• 分類號: G01N21/64
• 代理公司: 北京市柳沈律師事務所 11105
• 代理人: 陳小雯

1.一種熒光量測腔體，其包括：

本體，其具有至少一信號窗口；以及

內射面，其設置于該本體的內壁。

2.如權利要求1所述的熒光量測腔體，其中該每一信號窗口為一孔洞。

3.如權利要求1所述的熒光量測腔體，其中該內射面為一曲面、一凹面、一凸面或一平面其中之一。

4.如權利要求3所述的熒光量測腔體，其中該內射面為一硫酸鋇材料、一全反射材料或一全漫射材料其中之一所涂布。

5.如權利要求1所述的熒光量測腔體，其中該本體為一積分球、一積分柱或一積分運算模塊其中之一。

6.一種熒光量測系統(tǒng)，其包括：

至少一光源控制模塊；

至少一光譜儀；

至少一熒光量測腔體，其分別耦接于該至少一光譜儀及該至少一光源控制模塊，其中該每一熒光量測腔體具有：

本體，其具有至少一信號窗口；及

內射面，其設置于該本體的內壁；以及

至少一中央控制模塊，其分別電連接于該至少一光譜儀及該至少一光源控制模塊。

7.如權利要求6所述的熒光量測系統(tǒng)，其中該每一光源控制模塊具有：

光源控制單元，其一端與該中央控制模塊連接；及

至少一光源，每一光源連接于該光源控制單元的另一端，且耦接于該其中之一信號窗口，并發(fā)射一光至該熒光量測腔體內。

8.如權利要求7所述的熒光量測系統(tǒng)，其中該每一光源為一脈沖式激光或一發(fā)光二極管其中之一。

9.如權利要求6所述的熒光量測系統(tǒng)，其中該每一光譜儀具有：

光譜分析單元；及

至少一感測通道模塊，其中每一感測通道模塊具有一感測光纖及一感測探頭，該感測光纖的兩端分別連接于該光譜分析單元及該感測探頭，且該感測探頭耦接于該其中之一信號窗口，以測量一熒光信號，并經由該感測光纖將該熒光信號傳送至該光譜分析單元以分析及產生一熒光資訊。

10.如權利要求9所述的熒光量測系統(tǒng)，其中該感測探頭為一電耦合元件或一互補金屬氧化物半導體其中之一。

11.如權利要求6所述的熒光量測系統(tǒng)，其中該每一信號窗口為一孔洞。

12.如權利要求6所述的熒光量測系統(tǒng)，其中該內射面為一曲面、一凹面、一凸面或一平面其中之一。

13.如權利要求12所述的熒光量測系統(tǒng)，其中該內射面為一硫酸鋇材料、一全反射材料或一全漫射材料其中之一所涂布。

14.如權利要求6所述的熒光量測系統(tǒng)，其中該本體為一積分球、一積分柱或一積分運算模塊其中之一。

15.一種熒光量測方法，其包括有下列步驟：

提供至少一熒光量測腔體，其具有本體且在該本體上開設至少一信號窗口以及一內射面設置于該本體的內壁；

提供至少一光源控制模塊，其發(fā)射一光至該至少一熒光量測腔體內；以及

提供至少一光譜儀，其接收一熒光信號，以分析及產生一熒光資訊。

16.如權利要求15所述的熒光量測方法，其還包括提供至少一中央控制模塊，以驅動該每一光源控制模塊。

17.如權利要求16所述的熒光量測方法，其中該每一中央控制模塊還驅動該每一光譜儀。

18.如權利要求15所述的熒光量測方法，其還包括提供一多熒光量測腔體模式，該多熒光量測腔體模式使該每一光譜儀分析及產生一全區(qū)域熒光資訊平均值以及一不同區(qū)域熒光資訊數(shù)值。

19.如權利要求15所述的熒光量測方法，其還包括提供一單熒光量測腔體模式，該單熒光量測腔體模式使該每一光譜儀分析及產生該其中之一熒光量測腔體的一全區(qū)域熒光資訊平均值，以及該另一熒光量測腔體的一全區(qū)域熒光資訊平均值。

20.如權利要求15所述的熒光量測方法，其中該每一光源控制模塊具有：

光源控制單元，其一端與該中央控制模塊連接；及

至少一光源，每一光源連接于該光源控制單元的另一端，且耦接于該其中之一信號窗口，并發(fā)射一光至該熒光量測腔體內。