[發明專利]關于UV危害防護的鏡片評級有效
| 申請號: | 201280063449.1 | 申請日: | 2012-12-13 |
| 公開(公告)號: | CN104011532B | 公開(公告)日: | 2016-10-26 |
| 發明(設計)人: | K·西特克;G·巴耶;F·德阿夫加維韋斯;G·凱塔 | 申請(專利權)人: | 埃西勒國際通用光學公司 |
| 主分類號: | G01N21/33 | 分類號: | G01N21/33;G01J1/42;G02C7/10;B07C5/342;A61F9/02;G01M11/02 |
| 代理公司: | 北京市金杜律師事務所 11256 | 代理人: | 王茂華 |
| 地址: | 法國沙*** | 國省代碼: | 法國;FR |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 關于 uv 危害 防護 鏡片 評級 | ||
1.一種關于鏡片所提供的UV危害防護對所述鏡片(1)進行評級的方法,由此計算指數值(E-SPF)以用于對射到所述鏡片的一個佩戴者的眼睛上的總UV量相對于沒有鏡片情況下的UV暴露的減少量進行量化,所述方法包括以下步驟:
/1/為所述鏡片(1)提供UV透射值(τUV),所述UV透射值是通過在確定的UV波長范圍(UV?A和UV?B)上對多個光譜透射值(τ(λ))求積分而得到的,這些光譜透射值被加權以用于針對每個波長值(λ)對危害(S(λ))和強度(Es(λ))進行量化;
/2/在所述鏡片(1)的背面(1b)上提供UV反射值(RUV),所述UV反射是通過在所確定的UV波長范圍(UV?A和UV?B)上對多個光譜反射值(R(λ))求積分而得到的,這些光譜反射值與所述鏡片的所述背面相關并且被加權以用于針對每個波長值(λ)對所述危害(S(λ))和強度(Es(λ))進行量化;
/3/針對所述UV透射和所述UV反射,分別使用具有多個非零正因數(β,α)的加法公式將所述鏡片(1)的UV透射值(τUV)和UV反射值(RUV)兩者組合;以及
/4/從非零基數(BN)除以在步驟/3/中得到的結果來計算所述指數值(E-SPF)。
2.根據權利要求1所述的方法,其中,在步驟/4/中所計算的該指數值(E-SPF)等于該基數(BN)除以在用于使用該加法公式組合該鏡片(1)的該UV透射值(τUV)和UV反射(RUV)值的步驟/3/中得到的該結果。
3.根據權利要求1或2所述的方法,其中,當在所述加法公式中用由用于該UV透射的一個比例引起的一個最大值替代該鏡片的該UV透射(τUV),并且還用零替代該鏡片的該UV反射(RUV)時,該加法公式的該結果是單位值,
并且其中,當使用該鏡片(1)的該UV透射值(τUV)和該UV反射(RUV)值時,該加法公式的該結果等于與該佩戴者沒有鏡片相比當該佩戴者佩戴有該鏡片時眼睛的總紫外暴露的一個減少因數。
4.根據以上權利要求中任一項所述的方法,其中,步驟/1/和/2/中針對每個波長值(λ)的強度(Es(λ))的量化是通過將多個太陽光譜輻照度值作為一個因數用在該鏡片(1)的這些光譜透射(τ(λ))值和光譜反射(R(λ))值的一個加權函數內而實現的。
5.根據以上權利要求中任一項所述的方法,其中,在步驟/1/中針對UV到該眼鏡片(1)上的一個小于30°的入射角(iT)的一個第一值提供該UV透射(τUV),并且在步驟/2/中針對到該鏡片的該背面(1b)上的在135°和160°之間的入射角(iR)的一個第二值提供該UV反射(RUV),從該鏡片的一個前向定向的參考方向(FD)測量這些入射角度(iT,iR)。
6.根據以上權利要求中任一項所述的方法,其中,步驟/3/中所使用的該鏡片(1)的該UV透射(τUV)的該因數(β)與該基數(BN)的一個比率在從0.01至1的范圍內。
7.根據以上權利要求中任一項所述的方法,其中,步驟/3/中所使用的該鏡片(1)的該背面(1b)上的該UV反射(RUV)的該因數(α)與該基數(BN)的一個比率在從0.01至1的范圍內。
8.根據以上權利要求中任一項所述的方法,其中,步驟/3/中針對該鏡片(1)而使用的該UV透射(τUV)和該UV反射(RUV)的這些因數(β,α)是從多個光度測量而得到的,這些光度測量分別是針對射到該佩戴者的眼睛上的直接太陽UV強度和從一個佩戴者的頭部的背側射到該鏡片(1)的該背面(1b)上的直接太陽UV強度而執行的,其中,用于多個參數的多個參考值選自一個包括以下各項的列表:多個白天的光照參數、與該鏡片一起使用的一個眼鏡架的尺寸和佩戴參數、以及該鏡片的一個基本參數。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于埃西勒國際通用光學公司,未經埃西勒國際通用光學公司許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201280063449.1/1.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。
- 上一篇:一種漏纜故障定位方法以及系統
- 下一篇:MCU超再生接收芯片





