[發明專利]用于檢測可導電物體的裝置

有效

• 申請號: 201280026194.1
• 申請日: 2012-04-16
• 公開（公告）號: CN103688192B
• 公開（公告）日: 2017-01-18
• 發明（設計）人: R·P·施密特
• 申請（專利權）人: I控制有限合伙公司
• 主分類號: G01V3/10
• 分類號: G01V3/10
• 代理公司: 中國國際貿易促進委員會專利商標事務所11038
• 代理人: 張立國

1.用于檢測可導電物體的裝置（1），包括：

第一和第二線圈（10、11）或第一和第二線圈部分，但該第一和第二線圈部分以下也稱為第一和第二線圈，該第一和第二線圈或線圈部分能夠同時產生具有相反極性的磁場（20、21）；以及

第三線圈（12），該第三線圈具有一個、兩個或更多個線圈部分，該線圈部分以下同樣稱為第三線圈（12），所述第三線圈設置在相反的磁場的區域中，以及

電子器件（25），在給第一和第二線圈（10、11）供給以在時間上可變的電流形式的激勵期間和/或之后，所述電子器件采集在第三線圈（12）中的對激勵的響應、如例如感應電壓，或者在給第三線圈（12）供給以在時間上可變的電流形式的激勵期間，所述電子器件采集在第一和第二線圈（10、11）中的對激勵的響應；

從而可導電物體（30）在存在于所述磁場之一的區域中時在所采集的對激勵的響應中產生可檢測的信號。

2.根據權利要求1所述的裝置，其特征在于，所述第一和第二線圈或線圈部分相反地或同向地纏繞。

3.根據權利要求1或2所述的裝置，其特征在于，所述以在時間上可變的電流形式的激勵是任意形狀的脈沖束和/或純正弦形狀和/或周期性的脈沖和/或多重脈沖束和/或周期性的振蕩形狀和/或非周期性的脈沖序列和/或持續時間在0.1ns至1ms之間、如例如在1μs至50μs之間的矩形脈沖，和/或跳躍式地或非跳躍式地下降或上升和/或不是或者不包括矩形脈沖。

4.根據權利要求1至3之一所述的裝置，其特征在于，在所述第三線圈中的分別通過所述第一和第二線圈產生的對激勵的響應至少部分地、優選達至少90%或99%地補償，其中，優選在不存在要檢測的可導電物體（30）時，得出基本上為零的對激勵的響應，

或者

采集通過所述第三線圈（12）在所述第一和第二線圈（10、11）中產生的對激勵的響應，使得這兩個對激勵的響應至少部分地、優選達至少90%或99%補償，其中，優選在不存在要檢測的可導電物體（30）時，這兩個對激勵的響應基本上互補為零。

5.根據權利要求1至4之一所述的裝置，其特征在于，所述電子器件（25）構成為使得在不同的時間采集產生的對激勵的響應的曲線。

6.根據權利要求5所述的裝置，其特征在于，所述電子器件（25）構成為，使得確定所產生的對激勵的響應的最大點（M）的和/或最小點的和/或交零點（N）的和/或拐點的和/或其他點的時刻，和/或在不同時刻測量對激勵的響應，和/或采集對激勵的響應的變化。

7.根據權利要求1至6之一所述的裝置，其特征在于，在所述第一或第二線圈（10、11）之一的區域中設有金屬的可導電的物體（35）作為所述裝置的組成部分，利用該物體例如能實現所產生的對激勵的響應的校正或者減小參考物體（35）的預定值或干擾輪廓的影響或者將該參考物體的預定值或干擾輪廓的影響校正到零。

8.根據權利要求1至7之一所述的裝置，其特征在于，所述第一和第二線圈（10、11）具有一個共同的軸線，該共同的軸線與所述第三線圈（13）的軸線重合，其中，所述第三線圈（13）可選地居中地設置在所述第一和第二線圈（10、11）之間；或者所述第三線圈（13）的軸線與前兩個線圈（10、11）的共同的軸線或各軸線平行地錯開或者不平行。

9.根據權利要求1至8之一所述的裝置，其特征在于，設有一個或多個另外的線圈，所述另外的線圈能夠對所產生的對激勵的響應施加影響。

10.根據權利要求1至9之一所述的裝置，其特征在于，所述裝置包括金屬殼體部分或者全金屬殼體（29），其中，所述全金屬殼體（29）至少包圍所述第一、第二和第三線圈并且可能包圍所述電子器件（25）的一部分或整個電子器件（25），其中，所述金屬殼體部分或者所述全金屬殼體包括有色金屬或不銹鋼、或者由有色金屬或不銹鋼制成。

11.根據權利要求1至10之一所述的裝置，其特征在于，所述裝置構成為接近開關或構成為用于識別不同材料的裝置、構成為硬幣識別裝置或構成為用于采集損耗程度或磨損程度的裝置或者用于識別合金或缺陷部位、例如裂紋的裝置。

12.根據權利要求1至11之一所述的裝置，其特征在于，能夠采集接收信號的變化，其中，通過該變化的確定的特征能識別材料缺陷。