[發(fā)明專利]用于使用離子轟擊修改基片表面的方法有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201280023271.8 | 申請(qǐng)日: | 2012-03-14 |
| 公開(公告)號(hào): | CN103703061A | 公開(公告)日: | 2014-04-02 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | U.舒爾茨;P.蒙策特;R.蒂爾施;W.舍恩貝格爾;M.法蘭;R.克萊因亨佩爾 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 韶華歐洲有限責(zé)任公司 |
| 主分類號(hào): | C08J7/12 | 分類號(hào): | C08J7/12;B29C59/14 |
| 代理公司: | 中國專利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人: | 臧永杰;劉春元 |
| 地址: | 德國大勒*** | 國省代碼: | 德國;DE |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 用于 使用 離子 轟擊 修改 表面 方法 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及一種用于通過離子轟擊來修改基片表面的方法,利用所述方法特別可以在聚合物表面上產(chǎn)生反射減少表面結(jié)構(gòu)。?
本專利申請(qǐng)要求德國專利申請(qǐng)10?2011?013?822.6的優(yōu)先權(quán),所述德國專利申請(qǐng)的公開內(nèi)容由此通過引用被結(jié)合。?
背景技術(shù)
從出版物WO?97/48992已知,通過施加由若干薄透明層所組成的干涉層系統(tǒng)可以減少聚合物基片表面的界面反射。這種干涉層系統(tǒng)通常由真空涂層方法來施加,盡管由于對(duì)層厚精度的高要求,到大面積聚合物基片的施加在技術(shù)上是復(fù)雜的。此外,在由聚合物所制成的基片的情況下難以確保干涉層系統(tǒng)的足夠粘附,所述干涉層系統(tǒng)通常由氧化材料形成。?
在出版物DE?10241708?B4中描述了減少由聚合物所制成的基片的界面反射的可替換手段。在該方法中,通過用離子束的離子轟擊在聚合物基片的表面處所產(chǎn)生的折射率梯度層減少聚合物表面的界面反射。然而,所提議的用離子束處理聚合物表面不能被容易地應(yīng)用于大面積基片,例如聚合物薄膜。?
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的是詳細(xì)說明用于通過離子轟擊來修改基片的、特別是聚合物基片的表面的方法,利用所述方法特別可以達(dá)到基片的被減少的界面反射,并且所述方法應(yīng)當(dāng)適合于大面積的處理。更特別地,所述方法應(yīng)當(dāng)在所謂的卷對(duì)卷(roll-to-roll)操作中是可采用的,在所述卷對(duì)卷操作中,例如以薄膜形式的基片從一卷被松開并且被卷繞到另一個(gè)卷上,并且以這種方式通過為表面處理所提供的真空系統(tǒng)優(yōu)選連續(xù)地被運(yùn)送。?
通過根據(jù)權(quán)利要求1的用于修改基片表面的方法達(dá)到該目的。本發(fā)明的有利構(gòu)型和改進(jìn)是從屬權(quán)利要求的主題。?
在通過離子轟擊來修改基片表面的方法的一個(gè)構(gòu)型中,通過磁場輔助的輝光放電在工藝氣體(process?gas)中產(chǎn)生離子。有利地通過具有電極和用于產(chǎn)生磁場的至少一個(gè)磁體的磁控管來產(chǎn)生所述磁場輔助的輝光放電。?
這種磁控管本身是已知的并且被用于例如磁控濺射系統(tǒng)中用于沉積薄層。此處所描述的方法因此可以有利地在現(xiàn)有真空涂層系統(tǒng)中被實(shí)施。?
在常規(guī)磁控濺射中,通過磁控管產(chǎn)生等離子體并且所使用的工藝氣體通常是惰性氣體、特別是氬。在磁控濺射中,在等離子體中所生成的正離子被加速到電極,所述電極因此也被稱為目標(biāo)。擊中電極的離子從電極材料碰撞出原子,所述電極材料被沉積在基片上。?
與如本身已知的磁控濺射不同,具有至少一個(gè)電負(fù)性組分的工藝氣體被用于此處所描述的方法中,使得在磁場輔助的輝光放電中產(chǎn)生負(fù)離子。?
至少一些負(fù)離子在電極表面處被產(chǎn)生并且通過被施加到電極的電壓在基片的方向上被加速。優(yōu)選地,負(fù)離子由電極加速,使得所述負(fù)離子以至少100?eV的能量擊中基片。?
擊中基片的負(fù)離子造成其表面的修改。更特別地,這樣可以在基片表面處產(chǎn)生反射減少表面結(jié)構(gòu)。擊中基片表面的離子可以特別地造成從那里的材料去除,通過所述材料去除,基片表面被粗糙化。該粗糙化造成減少表面反射的折射率梯度。可替換地也可能的是,入射離子被注入基片的近表面區(qū)域中,并且這樣產(chǎn)生密度和/或折射率梯度。?
基片表面特別地通過離子轟擊被粗糙化,并且通過所述方法有利地可以產(chǎn)生比較深的結(jié)構(gòu)。在有利的構(gòu)型中,通過離子轟擊,在基片表面處產(chǎn)生延伸進(jìn)基片中至少50nm深的結(jié)構(gòu)。在基片表面處所產(chǎn)生的結(jié)構(gòu)的特性可以特別地通過被施加到磁控管電極的電壓相對(duì)于時(shí)間的分布曲線(profile)和大小的變化被變更。?
被施加到電極用于在基片的方向上加速負(fù)離子的電壓優(yōu)選地是中頻電壓。已經(jīng)發(fā)現(xiàn),使用中頻電壓促進(jìn)在電極表面處形成負(fù)離子。更優(yōu)選地,所述中頻電壓具有在1kHz和250kHz之間的頻率。?
除了在基片、特別是聚合物基片上達(dá)到反射減少效果之外,所述方法也可以被用于使表面粗糙化用于其它目的。所述方法的目標(biāo)可以例如是增加特定表面面積或增加吸收系數(shù)。所述方法可以被轉(zhuǎn)移到通過電負(fù)性離子可以被有效去除的所有基片。除了塑料之外,這特別地涉及碳。?
工藝氣體的電負(fù)性組分優(yōu)選地是氧。在所述方法的此外有利的構(gòu)型中,在工藝氣體中所使用的電負(fù)性組分是氟或氯。使用氧、氟或氯是特別有利的,因?yàn)楦鶕?jù)鮑林(Pauling)電負(fù)標(biāo),這些材料在化學(xué)元素之中具有最高電負(fù)性。?
磁控管的電極優(yōu)選地包括元素Al、Mg、Si或Ti中至少之一或由元素Al、Mg、Si或Ti中至少之一組成。電極也可以包括合金,所述合金以至少10%的重量比包括這些元素中至少之一。?
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