[發明專利]電磁開關裝置有效
| 申請號: | 201280014004.4 | 申請日: | 2012-03-09 |
| 公開(公告)號: | CN103477410A | 公開(公告)日: | 2013-12-25 |
| 發明(設計)人: | 小玉和廣;岡田全史 | 申請(專利權)人: | 松下電器產業株式會社 |
| 主分類號: | H01H50/04 | 分類號: | H01H50/04;H01H47/00 |
| 代理公司: | 中科專利商標代理有限責任公司 11021 | 代理人: | 潘劍穎 |
| 地址: | 日本*** | 國省代碼: | 日本;JP |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 電磁 開關 裝置 | ||
1.一種電磁開關裝置,響應于來自外部的命令來斷開或閉合觸點,并包括:
測量裝置,被配置為測量與所述觸點的斷開/閉合相關聯的改變;
確定裝置,被配置為基于所述測量裝置測量的所述改變,確定所述觸點的狀態;以及
輸出裝置,被配置為向外部輸出所述確定裝置的確定結果。
2.根據權利要求1所述的電磁開關裝置,
其中,所述測量裝置被配置為測量所述觸點已被斷開或閉合的次數。
3.根據權利要求2所述的電磁開關裝置,
其中,所述測量裝置被配置為基于所述命令已被輸入的次數,來測量所述觸點已被斷開或閉合的次數。
4.根據權利要求2所述的電磁開關裝置,還包括:輔助觸點,與所述觸點的斷開/閉合互鎖,
其中,所述測量裝置被配置為基于所述輔助觸點已被斷開或閉合的次數,來測量所述觸點已被斷開或閉合的次數。
5.根據權利要求2所述的電磁開關裝置,還包括:電磁體,
其中,所述觸點包括固定觸點和可移動觸點,
所述電磁體以電磁力使所述可移動觸點與所述固定觸點接觸或分離,以及
其中,所述測量裝置被配置為基于構成所述電磁體的線圈的阻抗的改變,來測量所述觸點已被斷開或閉合的次數。
6.根據權利要求2所述的電磁開關裝置,還包括:移位裝置,
其中,所述觸點包括固定觸點和可移動觸點,
所述移位裝置被配置為對所述可移動觸點進行移位,以及
其中,所述測量裝置被配置為基于所述移位裝置對所述可移動觸點的移位,來測量所述觸點已被斷開或閉合的次數。
7.根據權利要求2所述的電磁開關裝置,還包括:移位裝置,
其中,所述觸點包括固定觸點和可移動觸點,
所述移位裝置被配置為施加外力以使所述可移動觸點移位,以及
其中,所述測量裝置被配置為基于所述移位裝置施加的外力所引起的應變,來測量所述觸點已被斷開或閉合的次數。
8.根據權利要求2所述的電磁開關裝置,
其中,所述測量裝置被配置為基于施加于所述觸點兩端的電壓,來測量所述觸點已被斷開或閉合的次數。
9.根據權利要求4至8中任一項所述的電磁開關裝置,
其中,所述確定裝置被配置為基于每預定時間段內所述觸點已被斷開或閉合的次數,來確定所述觸點的狀態。
10.根據權利要求1所述的電磁開關裝置,
其中,所述測量裝置被配置為測量所述觸點閉合的累計時間。
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