[發明專利]充電構件、處理盒和電子照相設備

在審

• 申請號: 201280012404.1
• 申請日: 2012-03-07
• 公開（公告）號: CN103430106A
• 公開（公告）日: 2013-12-04
• 發明（設計）人: 谷口智士;兒玉真隆;青山雄彥
• 申請（專利權）人: 佳能株式會社
• 主分類號: G03G15/02
• 分類號: G03G15/02
• 代理公司: 北京魏啟學律師事務所 11398
• 代理人: 魏啟學

技術領域

本發明涉及一種充電構件以及使用其的處理盒和電子照相設備。

背景技術

在電子照相設備中，為了穩定地向鼓形的電子照相感光構件(下文簡稱為感光構件)靜電充電，通常將處于將其疊加到直流電壓上的狀態的交流電壓施加至與電子照相感光構件接觸的充電構件。作為此類充電系統中的一個問題，出現由存在于感光構件與充電構件之間的共振引起的振動噪聲。

為了應對該問題，如在專利文獻1中公開的，提出一種方法，其中使用具有在其下不會出現由于施加的交流電壓的頻率引起的共振的固有振動頻率的充電構件，從而防止發生振動噪聲。目前，近年來，隨著對電子照相設備的更高圖像品質和更高處理速度的需求，已經開始將高頻例如約3000Hz的交流電壓施加至充電構件。感光構件也以高速度旋轉，驅動感光構件的馬達自身也隨著該旋轉而振動，并且傳遞該馬達的驅動力的齒輪等也振動。這樣的振動不僅引起充電噪聲，還會使與感光構件接觸的充電構件振動，使得很難穩定地將感光構件充電到規定電位，并且結果是有時會降低電子照相圖像的等級。在這樣的情況下，本發明人已經認識到，必須開發可以更可靠地減少充電構件的振動的技術。

引文列表

專利文獻

專利文獻1：日本專利申請特開2004-279578。

非專利文獻

非專利文獻1：Shinji?Yamada的“Learned?Person?from?Today?Series,Thoroughly?Plain?Book?on?Vibration?&?Noise”，第一版，The?Nikkan?Kogyo?Simbun,Ltd.,2007年3月5日，第24-25頁。

非專利文獻2：Haruhiko?Tohara和其他10名共同作者的“Rubber?Vibration?Insulators,New?Edition”，新版，The?Japan?Association?of?Rolling?Stock?Industries,1998年10月30日，第97-99頁。

發明內容

發明要解決的問題

因此，本發明旨在提供如下的充電構件：即使在向其施加高頻交流電壓的情況下，其也不會容易地引起振動并且也能夠穩定地將感光構件靜電充電。

本發明還旨在提供能夠穩定地形成高級電子照相圖像的處理盒和感光構件。

用于解決問題的方案

根據本發明的一個方面，提供具有導電性基體、導電性彈性層和表面層的充電構件；彈性層從基體側依次具有第一橡膠層和層壓至第一橡膠層的第二橡膠層，其中當第一橡膠層的固有振動頻率由f1表示，和第二橡膠層的固有振動頻率由f2表示時，其具有2.35以上且10.0以下的固有振動頻率比f2/f1。

根據本發明的另一方面，提供具有一體化連接的上述充電構件和感光構件的處理盒，并將其構成為可拆卸地安裝到電子照相設備主體上。

根據本發明的又一方面，提供具有上述充電構件和感光構件的電子照相設備。

發明的效果

根據本發明，可以獲得如下的充電構件：即使在向其施加高頻交流電壓的情況下，其也不會容易地引起振動并且能夠穩定地將感光構件靜電充電。

根據本發明，還可以獲得有助于形成高級電子照相圖像的處理盒。根據本發明，可以進一步獲得能夠形成高級電子照相圖像的電子照相設備。

附圖說明

圖1是顯示根據本發明充電構件一個實例的側面圖。

圖2是顯示根據本發明充電構件另一個實例的側面圖。

圖3A說明如何測量根據本發明充電構件的彈性模量。

圖3B說明如何測量根據本發明充電構件的彈性模量。

圖4A說明如何測量根據本發明充電構件的電阻。

圖4B說明如何測量根據本發明充電構件的電阻。

圖5是顯示根據本發明電子照相設備一個實例的示意性結構圖。

圖6是顯示根據本發明處理盒一個實例的示意性結構圖。

圖7是顯示用于制備根據本發明充電構件的設備的一個實例的示意性結構圖。

圖8A說明如何測量充電構件的彈性層的比重。

圖8B說明如何測量充電構件的彈性層的比重。

圖9說明如何評價充電構件的耐久性。

圖10說明如何測量在充電構件中引起的振動。

具體實施方式