[實用新型]多通道電控雙折射液晶衰減波紋測試系統有效
| 申請號： | 201220723579.0 | 申請日： | 2012-12-25 |
| 公開（公告）號： | CN203053677U | 公開（公告）日： | 2013-07-10 |
| 發明（設計）人： | 趙利剛;劉華;袁海驥 | 申請（專利權）人： | 科納技術(蘇州)有限公司 |
| 主分類號： | G01M11/00 | 分類號： | G01M11/00 |
| 代理公司： | 暫無信息 | 代理人： | 暫無信息 |
| 地址： | 215121 江蘇省蘇州市工業園區啟明路15*** | 國省代碼： | 江蘇;32 |
| 權利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 通道 雙折射 液晶 衰減 波紋 測試 系統 | ||
【權利要求書】：
1.多通道電控雙折射液晶衰減波紋測試系統，其特征在于：包括光源模塊、光學平臺、待測多通道電控雙折射液晶及其夾、治具、45度偏振片、平面反射鏡、環形器、光譜分析儀，其中光源模塊作為寬帶光源，寬帶光源經過光學平臺入射到帶有夾、治具的待測多通道電控雙折射液晶上，45度偏振片用于從多通道電控雙折射液晶產生不同偏振光的衰減改變，平面反射鏡用于反射不同偏振態的寬帶光，該光再經過光學平臺，經由環形器接收到光譜分析儀，光譜分析儀用于測量多通道電控雙折射液晶的插入衰減損耗。?
下載完整專利技術內容需要扣除積分，VIP會員可以免費下載。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息，商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于科納技術(蘇州)有限公司，未經科納技術(蘇州)有限公司許可，擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作，請聯系【客服】
本文鏈接：http://www.szxzyx.cn/pat/books/201220723579.0/1.html，轉載請聲明來源鉆瓜專利網。
