[實用新型]測試裝置及其探針構造有效
| 申請號： | 201220645657.X | 申請日： | 2012-11-29 |
| 公開（公告）號： | CN202929164U | 公開（公告）日： | 2013-05-08 |
| 發明（設計）人： | 金永斌;府偉 | 申請（專利權）人： | 蘇州日月新半導體有限公司 |
| 主分類號： | G01R31/26 | 分類號： | G01R31/26;G01R1/073 |
| 代理公司： | 上海翼勝專利商標事務所(普通合伙) 31218 | 代理人： | 翟羽 |
| 地址： | 215021 江蘇省*** | 國省代碼： | 江蘇;32 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 測試 裝置 及其 探針 構造 | ||
1.一種測試裝置，其特征在于：所述測試裝置包括：
一測試座，包括多個探針孔；以及
多個測試探針對，插設于所述測試座的所述探針孔內，其中每一所述測試探針對包括一第一彈簧探針與一第二彈簧探針，所述第一彈簧探針的第一接觸端偏離于所述第一彈簧探針的中心軸，所述第二彈簧探針的第二接觸端偏離于所述第一彈簧探針的中心軸，所述第一接觸端與所述第二接觸端之間的距離介于0.5毫米與0.1毫米之間。
2.根據權利要求1所述的測試裝置，其特征在于：所述的測試裝置還包括一承載板，所述測試座設置于所述承載板上。
3.根據權利要求1所述的測試裝置，其特征在于：所述測試座更包括一插槽，以放置及定位一待測物。
4.根據權利要求1所述的測試裝置，其特征在于：所述第一彈簧探針設有一第一偏心件，所述第一接觸端形成于所述第一偏心件的尖端或頂端上，所述第二彈簧探針設有一第二偏心件，所述第二接觸端形成于所述第二偏心件的尖端或頂端上。
5.根據權利要求4所述的測試裝置，其特征在于：所述第一偏心件及所述第二偏心件為為楔形。
6.根據權利要求4所述的測試裝置，其特征在于：所述第一偏心件及所述第二偏心件為為圓錐狀。
7.根據權利要求4所述的測試裝置，其特征在于：所述第一偏心件及所述第二偏心件為為階梯狀。
8.根據權利要求1所述的測試裝置，其特征在于：所述第一接觸端與所述第二接觸端之間的距離介于0.15毫米與0.2毫米之間。
9.一種測試裝置的探針構造，其特征在于：所述探針構造包括：
多個測試探針對，其中每一所述測試探針對包括一第一彈簧探針與一第二彈簧探針，所述第一彈簧探針的第一接觸端偏離于所述第一彈簧探針的中心軸，所述第二彈簧探針的第二接觸端偏離于所述第一彈簧探針的中心軸，所述第一接觸端與所述第二接觸端之間的距離介于0.5毫米與0.1毫米之間。
10.根據權利要求9所述的測試裝置的探針構造，其特征在于：所述第一接觸端與所述第二接觸端之間的距離介于0.15毫米與0.2毫米之間。
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