[實用新型]一種懸式絕緣子坯件或瓷件頂厚測量裝置

有效

• 申請號: 201220502559.0
• 申請日: 2012-09-27
• 公開（公告）號: CN202853536U
• 公開（公告）日: 2013-04-03
• 發明（設計）人: 蘇飛;鄧小玲;薛征峰
• 申請（專利權）人: 重慶鴿牌電瓷有限公司
• 主分類號: G01B5/06
• 分類號: G01B5/06
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

技術領域

本實用新型屬于電瓷領域，具體涉及一種懸式絕緣子坯件或瓷件頂厚測量裝置。

背景技術

在絕緣子行業，為了保證懸式絕緣子的機械強度和結構高度，減少其分散性，在懸式絕緣子的生產過程中需要對懸式絕緣子坯件或瓷件頭部尺寸進行嚴格控制，由于頭部的頂部厚度是關系到懸式絕緣子機械強度和結構高度的重要參數，所以必須按批次進行測量檢驗。目前，對懸式絕緣子坯件或瓷件的頭部尺寸測量時，需要破壞坯件和瓷件，這樣只能對批量生產的絕緣子進行抽查，對整批產品的質量監測不是全面的，監測不徹底。

實用新型內容

本實用新型要解決的技術問題是提供一種快速方便，且不破壞懸式絕緣子坯件或瓷件的懸式絕緣子坯件或瓷件頂部厚度測量。

為了解決上述技術問題，本實用新型提供一種懸式絕緣子坯件或瓷件頂厚測量裝置，包括工作臺、固定在工作臺上的立柱、連接在立柱上的定位圈和連接在定位圈上的深度游標卡尺。

在工作臺上安裝立柱，游標尺由固定在立柱上的定位圈固定在工作臺之上，先將深度游標卡尺的標尺下滑測量定位圈到工作臺面的高度數據，然后將標尺上提，把懸式絕緣子坯件或瓷件倒放在工作臺上，將標尺對準坯件和瓷件孔，下滑標尺，測量另一高度數據（差高），將高度數據減后差高就是坯件或瓷件頂部厚度。本實用新型通過深度游標卡尺的利用快速方便的測量出絕緣子坯件或瓷件的頂部厚度，且不破壞懸式絕緣子坯件或瓷件。

作為本實用新型技術方案的進一步限定，所述定位圈固定連接在立柱上，定位圈固定在立柱上，只需測量一次定位圈到工作臺面的高度數據，之后只需對定位圈到每個絕緣子坯件或瓷件頂部的高度數據（差高）就可以，避免了重復測量定位圈到工作臺面的高度數據，節省了工序，也節約了時間和人力。

作為本實用新型技術方案的進一步限定，所述定位圈活動連接在立柱上，當我們對不同規格的絕緣子坯件或瓷件進行頂部厚度測量時，可以根據不同尺寸的絕緣子進行測量，使得本實用新型的適用范圍擴大。

附圖說明

下面結合附圖和具體實施方式對本實用新型作進一步詳細的說明：

圖1是本實用新型實施例的結構示意圖。

具體實施方式

實施例一：如圖1所示，本實用新型提供一種懸式絕緣子坯件或瓷件頂厚測量裝置，包括工作臺5、固定在工作臺5上的立柱1、連接在立柱1上的定位圈2和連接在定位圈2上的深度游標卡尺3。

在工作臺5上安裝立柱1，深度游標卡尺3由固定在立柱1上的定位圈2固定在工作臺5之上，先將深度游標卡尺3的標尺下滑測量定位圈到工作臺面的高度數據，然后將標尺上提，把懸式絕緣子坯件或瓷件4倒放在工作臺5上，將標尺對準坯件或瓷件孔，下滑標尺，測量另一高度數據（差高），將高度數據減后差高就是坯件或瓷件頂部厚度。本實用新型通過深度游標卡尺3的利用快速方便的測量出絕緣子坯件或瓷件4的頂部厚度，且不破壞懸式絕緣子坯件或瓷件4。

實施例二：如圖1所示，本實用新型提供一種懸式絕緣子坯件或瓷件頂厚測量裝置，包括工作臺5、固定在工作臺5上的立柱1、連接在立柱1上的定位圈2和連接在定位圈2上的深度游標卡尺3，所述定位圈2固定連接在立柱1上，定位圈2固定在立柱1上，只需測量一次定位圈2到工作臺面的高度數據，之后只需對定位圈2到每個絕緣子坯件或瓷件4頂部的高度數據（差高）就可以，避免了重復測量定位圈2到工作臺面的高度數據，節省了工序，也節約了時間和人力。

實施例三：如圖1所示，本實用新型提供一種懸式絕緣子坯件或瓷件頂厚測量裝置，包括工作臺5、固定在工作臺5上的立柱1、連接在立柱1上的定位圈2和連接在定位圈2上的深度游標卡尺3，所述定位圈2活動連接在立柱1上，當我們對不同規格的絕緣子坯件或瓷件4進行頂部厚度測量時，可以根據不同尺寸的絕緣子進行測量，使得本實用新型的適用范圍擴大。

以上所述的僅是本實用新型的優選實施方式，應當指出對于本領域的技術人員來說，在不脫離本實用新型結構的前提下，還可以作出若干變形和改進，這些都不會影響本實用新型實施的效果和專利的實用性。