[實用新型]用于射頻微封裝管芯的測試裝置

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201220411810.2
• 申請日: 2012-08-20
• 公開（公告）號: CN202720292U
• 公開（公告）日: 2013-02-06
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 劉強;何川
• 申請（專利權(quán)）人: 北京中微普業(yè)科技有限公司
• 主分類號: G01R31/00
• 分類號: G01R31/00
• 代理公司: 北京國林貿(mào)知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11001
• 代理人: 刁玉生

技術(shù)領(lǐng)域

本實用新型涉及一種用于射頻微封裝管芯的測試裝置，該裝置的基座單元上安裝有射頻同軸連接器移動單元、射頻同軸連接器基準(zhǔn)單元、測試單元；測試單元包括測試基座、微帶電路板、載片機構(gòu)，雙穩(wěn)壓件機構(gòu)；微帶線是呈X?形布局的四條微帶線。?

背景技術(shù)

中國專利2006100052497公開了一種微波陶瓷元器件檢測夾具與裝置及其檢測方法，該專利的微波共面波導(dǎo)測試夾具設(shè)有波導(dǎo)底座、高頻印刷電路板和緊固件，在高頻印刷電路板上設(shè)有短路開路校準(zhǔn)通道、匹配校準(zhǔn)通道、并聯(lián)檢測通道和串聯(lián)檢測通道，被測元件放置于并聯(lián)檢測通道的內(nèi)導(dǎo)體上，通過探針與并聯(lián)檢測通道外導(dǎo)體形成并接回路；串聯(lián)檢測通道用于測試被測元器件的諧振峰，通過探針緊壓被測元器件與串聯(lián)檢測通道內(nèi)導(dǎo)體的斷面緊密接觸，所述的微波共面波導(dǎo)測試夾具還包括樣品定位片、檢測探針架和8對SMA接頭；該專利的檢測夾具的檢測電路為高頻印刷電路板，樣品定位片上的固定被測元件樣品的樣品槽很難滿足微波元件多樣化的要求。隨著射頻微波在生產(chǎn)生活的各個領(lǐng)域運用的越來越廣泛，各行業(yè)對射頻器件的體積和性能的要求也越來越高。在保證器件性能的前提下，器件的小型化趨勢也越來越明顯。當(dāng)器件的體積受到極大限制，采用微封裝管芯成了唯一選擇。由于射頻信號對傳輸環(huán)境的條件要求苛刻，如系統(tǒng)的特征阻抗、材料的光潔度、金屬材料的本身特性、連接處的焊點形狀等等都會影響信號能量的傳輸和反射，所以對射頻器件的精確測量本身就比較困難。尤其是微封裝射頻管芯，由于尺寸太小（例如RFID芯片最小尺寸只有0.3mmX0.3mm），管芯的連接非常困難。因此，需要提出一種用于射頻微封裝管芯的測試裝置。?

發(fā)明內(nèi)容

本實用新型的目的在于提供一種用于射頻微封裝管芯的測試裝置，該裝置的基座單元上安裝有射頻同軸連接器移動單元、射頻同軸連接器基準(zhǔn)單元、測試單元；測試單元包括測試基座、微帶電路板、載片機構(gòu)，雙穩(wěn)壓件機構(gòu)；微帶線是呈X?形布局的四條微帶線。本實用新型能實現(xiàn)對微封裝管芯的精確定位和壓接，并能用寬度很窄的微帶線通過排列解決了微封裝管芯在平面電路上的精密連接。

本實用新型的目的是由下述技術(shù)方案實現(xiàn)的：一種用于射頻微封裝管芯的測試裝置，有一個基座單元，所述基座單元上安裝有射頻同軸連接器移動單元、射頻同軸連接器基準(zhǔn)單元、測試單元；所述基座單元上有一個安裝座；該安裝座中部有一矩形凹槽，該矩形凹槽內(nèi)部水平設(shè)置有兩條滑軌，所述安裝座的一端設(shè)置矩形凸臺，該矩形凸臺上安裝所述的射頻同軸連接器基準(zhǔn)單元，所述安裝座的另一端安裝夾緊螺桿裝置；所述的射頻同軸連接器基準(zhǔn)單元包括支承體、射頻同軸連接器，所述支承體上設(shè)置兩個射頻同軸連接器，所述射頻同軸連接器一端延伸出所述支承體的外側(cè)面，所述射頻同軸連接器另一端延伸至所述支承體的內(nèi)側(cè)面；所述射頻同軸連接器移動單元包括移動基座、射頻同軸連接器，所述移動基座上部設(shè)置兩個射頻同軸連接器，所述射頻同軸連接器一端延伸出所述移動基座的外側(cè)面，所述射頻同軸連接器另一端延伸至所述移動基座的內(nèi)側(cè)面；所述移動基座的下部通過兩個滑套安裝在所述安裝座中的兩條滑軌上，所述夾緊螺桿裝置中的螺桿一端與所述移動基座鉸接；所述的測試單元包括測試基座、微帶電路板、載片機構(gòu)，雙穩(wěn)壓件機構(gòu)；所述測試基座的下部通過兩個U型滑套安裝在所述安裝座中的兩條滑軌上；所述微帶電路板包括微帶線和介質(zhì)板，所述微帶電路板設(shè)置在所述載片機構(gòu)中央位置，所述微帶線是呈X?形布局的四條微帶線，所述載片機構(gòu)設(shè)置在所述測試基座的頂部；所述雙穩(wěn)壓件機構(gòu)中有一個豎直機架，該豎直機架上設(shè)置一條豎直導(dǎo)軌，該豎直導(dǎo)軌中部安裝一個升降臺板，該升降臺板底面設(shè)置彈性壓桿，升降臺板頂面通過鉸軸與自鎖曲柄的底端鉸接，該自鎖曲柄的頂端與偏心轉(zhuǎn)輪鉸接，該偏心轉(zhuǎn)輪通過鉸軸與所述豎直機架頂部的叉型懸架鉸接，所述偏心轉(zhuǎn)輪上設(shè)置操作手柄。

本實用新型與現(xiàn)有技術(shù)相比具有如下優(yōu)點：

1、本實用新型操作方便，使用時只需將被測微波元件放入本實用新型，將本實用新型連入測量系統(tǒng)中即可。

2、本實用新型可以根據(jù)被測元件的尺寸、形狀等設(shè)計多個載片機構(gòu)，根據(jù)被測微波元件的要求更換載片機構(gòu)即可，適用性廣。

3、本實用新型備有校準(zhǔn)單元，可以通過微波測試儀表自身的TRL校準(zhǔn)模式進行校準(zhǔn)，保證了足夠的精度。

4、本實用新型對同軸連接器的芯頭與微帶電路的連接處進行了分布電容電感的補償，使得連接處對微波能量的反射最小，保證了測量的精度。