[實(shí)用新型]單晶爐高溫計(jì)安裝結(jié)構(gòu)及包括該結(jié)構(gòu)的單晶爐有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201220317471.1 | 申請日: | 2012-07-02 |
| 公開(公告)號: | CN202626349U | 公開(公告)日: | 2012-12-26 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 白劍銘;孫二凱 | 申請(專利權(quán))人: | 英利能源(中國)有限公司 |
| 主分類號: | C30B15/00 | 分類號: | C30B15/00;C30B35/00;G01K1/14 |
| 代理公司: | 北京康信知識產(chǎn)權(quán)代理有限責(zé)任公司 11240 | 代理人: | 吳貴明;余剛 |
| 地址: | 071051 河*** | 國省代碼: | 河北;13 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 單晶爐 高溫 安裝 結(jié)構(gòu) 包括 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本實(shí)用新型涉及單晶硅制備裝置,具體而言,涉及一種單晶爐高溫計(jì)安裝結(jié)構(gòu)及包括該結(jié)構(gòu)的單晶爐。
背景技術(shù)
單晶爐是在惰性氣體環(huán)境中,采用加熱器,將硅材料熔化,并采用直拉法生長無位錯(cuò)單晶的設(shè)備。高溫計(jì)一般指測量溫度高于500℃所使用的溫度計(jì)。在單晶爐運(yùn)行時(shí),需要利用高溫計(jì)對單晶爐熱場的溫度信號進(jìn)行采集,并通過與高溫計(jì)連接的光纖數(shù)據(jù)傳輸線,將采集到的溫度信號反饋到可編程邏輯控制器中,以實(shí)現(xiàn)單晶爐熱場溫度的自動(dòng)化控制。而高溫計(jì)與單晶爐的連接是通過支架實(shí)現(xiàn)的。
傳統(tǒng)的支架,一般是固定設(shè)置在單晶爐的爐壁上的中空套管,中空套管內(nèi)設(shè)置有內(nèi)螺紋,與中空套管的螺紋通孔對應(yīng)地,在單晶爐的爐壁上設(shè)置有高溫信號采集孔,該采集孔處設(shè)置有用于密封的石英鏡片,高溫計(jì)外表面設(shè)置有外螺紋,使用時(shí)將高溫計(jì)旋擰嵌設(shè)到套管中,隔著石英鏡片采集熱場信號。由于單晶爐每運(yùn)行5次就需要進(jìn)行整體清潔,所以高溫計(jì)要反復(fù)從單晶爐上安裝或拆卸下來,而高溫計(jì)在旋擰過程中,由于沒有限位,很容易旋擰過度,對石英鏡片造成擠壓,甚至導(dǎo)致石英鏡片上產(chǎn)生隱形裂痕。這樣在單晶爐運(yùn)行時(shí),會(huì)造成石英鏡片上的裂痕擴(kuò)張,由此產(chǎn)生漏氣現(xiàn)象,會(huì)導(dǎo)致單晶爐內(nèi)石墨件的表層氧化成蜂窩狀,影響其使用壽命,而硅料也將報(bào)廢。
實(shí)用新型內(nèi)容
本實(shí)用新型旨在提供一種單晶爐高溫計(jì)安裝結(jié)構(gòu)及包括該結(jié)構(gòu)的單晶爐,可以限制高溫計(jì)嵌入套管內(nèi)的深度,避免高溫計(jì)對石英鏡片造成損壞。
為了實(shí)現(xiàn)上述目的,根據(jù)本實(shí)用新型的一個(gè)方面,提供了一種單晶爐高溫計(jì)安裝結(jié)構(gòu),包括套管以及可拆卸地嵌設(shè)在套管內(nèi)的高溫計(jì),高溫計(jì)上設(shè)置有限制高溫計(jì)在套管內(nèi)的嵌入深度的第一限位部。
進(jìn)一步地,高溫計(jì)上固定套設(shè)有套筒,套筒靠近高溫計(jì)的信號采集頭的端面形成第一限位部。
進(jìn)一步地,套管上設(shè)置有與第一限位部相配合的第二限位部。
進(jìn)一步地,套管內(nèi)設(shè)置有通孔,通孔包括第一直孔段和第二直孔段,第一直孔段的內(nèi)周壁與高溫計(jì)的信號采集頭的外周壁相適應(yīng),第二直孔段的內(nèi)周壁與套筒的外周壁相適應(yīng),第一直孔段與第二直孔段的連接端面形成第二限位部。
進(jìn)一步地,高溫計(jì)的外表面設(shè)置有外螺紋段,套筒的內(nèi)表面設(shè)置有與外螺紋段相配合的內(nèi)螺紋段,高溫計(jì)與套筒可拆卸地連接。
進(jìn)一步地,單晶爐高溫計(jì)安裝結(jié)構(gòu)還包括沿套管的徑向方向設(shè)置在套管上以限制套管與高溫計(jì)之間的軸向運(yùn)動(dòng)的軸向定位部。
進(jìn)一步地,軸向定位部包括鎖緊螺栓,鎖緊螺栓沿套管的徑向方向可運(yùn)動(dòng)地設(shè)置,鎖緊螺栓的外周壁設(shè)置有外螺紋;套管的周壁上設(shè)置有鎖緊孔,鎖緊孔的內(nèi)周壁設(shè)置有與鎖緊螺栓的外螺紋相配合的內(nèi)螺紋。
進(jìn)一步地,鎖緊孔設(shè)置在套管遠(yuǎn)離單晶爐的一端。
根據(jù)本實(shí)用新型的另一方面,提供了一種單晶爐,包括固定設(shè)置在爐壁上的單晶爐高溫計(jì)安裝結(jié)構(gòu),單晶爐高溫計(jì)安裝結(jié)構(gòu)為前述的單晶爐高溫計(jì)安裝結(jié)構(gòu)。
應(yīng)用本實(shí)用新型的技術(shù)方案,通過在高溫計(jì)上設(shè)置第一限位部,使高溫計(jì)在嵌入套管內(nèi)時(shí),其嵌入深度受到第一限位部的限制,高溫計(jì)的信號采集頭不會(huì)擠壓到石英鏡片,從而保護(hù)了石英鏡片不受損壞,確保了單晶爐運(yùn)行的穩(wěn)定與產(chǎn)品的質(zhì)量。
附圖說明
構(gòu)成本申請的一部分的說明書附圖用來提供對本實(shí)用新型的進(jìn)一步理解,本實(shí)用新型的示意性實(shí)施例及其說明用于解釋本實(shí)用新型,并不構(gòu)成對本實(shí)用新型的不當(dāng)限定。在附圖中:
圖1示出了根據(jù)本實(shí)用新型的實(shí)施例的單晶爐高溫計(jì)安裝結(jié)構(gòu)的光纖數(shù)據(jù)傳輸線、高溫計(jì)以及套筒相配合的主視圖;
圖2示出了根據(jù)圖1的光纖數(shù)據(jù)傳輸線、高溫計(jì)以及套筒相配合的俯視圖;
圖3示出了根據(jù)本實(shí)用新型的實(shí)施例的單晶爐高溫計(jì)安裝結(jié)構(gòu)的套管的主視圖;以及
圖4示出了根據(jù)圖3的套管的A-A向剖視圖。
具體實(shí)施方式
下面將參考附圖并結(jié)合實(shí)施例來詳細(xì)說明本實(shí)用新型。需要說明的是,在不沖突的情況下,本申請中的實(shí)施例及實(shí)施例中的特征可以相互組合。
如圖1至4所示,根據(jù)本實(shí)用新型的實(shí)施例,提供了一種單晶爐高溫計(jì)安裝結(jié)構(gòu),包括套管10、高溫計(jì)20和套筒30。其中套管10固定設(shè)置在單晶爐的爐壁上,且套管10內(nèi)部的通孔與單晶爐的爐壁上的高溫信號采集孔相對應(yīng),高溫計(jì)20可拆卸地嵌設(shè)在套管10的通孔內(nèi),套筒30固定套設(shè)在高溫計(jì)20上。
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